軟性R2R透明導電薄膜技術
- 經濟部產業技術司–可移轉技術資料集 @ 經濟部

技術名稱-中文軟性R2R透明導電薄膜技術的執行單位是工研院電光所, 產出年度是99, 計畫名稱是軟性電子模組與應用技術發展計畫, 技術規格是Rs< 10 Ohm per sq, Transmittance> 88% at 550nm on transparent polester film with transmittance > 92%, bendign radius< 3mm, > 2000 times, R2R 10m以上連續製作, 潛力預估是由於在軟性透明導電薄膜上的要求與應用越來越高,除了觸控的透明導電膜,未來在顯示器,光源,太陽能應用領域,潛力很高,產值將持續增長,規模以數十億到數百億計.

序號4339
產出年度99
技術名稱-中文軟性R2R透明導電薄膜技術
執行單位工研院電光所
產出單位(空)
計畫名稱軟性電子模組與應用技術發展計畫
領域(空)
已申請專利之國家(空)
已獲得專利之國家(空)
技術現況敘述-中文使用光學模擬客製化規格的光學條件,在優化的條件下先在batch coater進行實驗,驗證製程及材料條件並修正偏差後,可以導入R2R sputter做連續性製程的驗證,透過電漿監測,殘留氣體進而開發試量產的條件
技術現況敘述-英文(空)
技術規格Rs< 10 Ohm per sq, Transmittance> 88% at 550nm on transparent polester film with transmittance > 92%, bendign radius< 3mm, > 2000 times, R2R 10m以上連續製作
技術成熟度試量產
可應用範圍touch panel, photo-voltaic, flexible dispay, for the general purpose of low resistance and high transmittance
潛力預估由於在軟性透明導電薄膜上的要求與應用越來越高,除了觸控的透明導電膜,未來在顯示器,光源,太陽能應用領域,潛力很高,產值將持續增長,規模以數十億到數百億計
聯絡人員路智強
電話03-5913386
傳真03-5820093
電子信箱mikelu@itri.org.tw
參考網址http://-
所須軟硬體設備acth coater, TFcalc simulator, R2R sputter
需具備之專業人才碩士(含)以上化學化工背景等相關人才
同步更新日期2023-07-22

序號

4339

產出年度

99

技術名稱-中文

軟性R2R透明導電薄膜技術

執行單位

工研院電光所

產出單位

(空)

計畫名稱

軟性電子模組與應用技術發展計畫

領域

(空)

已申請專利之國家

(空)

已獲得專利之國家

(空)

技術現況敘述-中文

使用光學模擬客製化規格的光學條件,在優化的條件下先在batch coater進行實驗,驗證製程及材料條件並修正偏差後,可以導入R2R sputter做連續性製程的驗證,透過電漿監測,殘留氣體進而開發試量產的條件

技術現況敘述-英文

(空)

技術規格

Rs< 10 Ohm per sq, Transmittance> 88% at 550nm on transparent polester film with transmittance > 92%, bendign radius< 3mm, > 2000 times, R2R 10m以上連續製作

技術成熟度

試量產

可應用範圍

touch panel, photo-voltaic, flexible dispay, for the general purpose of low resistance and high transmittance

潛力預估

由於在軟性透明導電薄膜上的要求與應用越來越高,除了觸控的透明導電膜,未來在顯示器,光源,太陽能應用領域,潛力很高,產值將持續增長,規模以數十億到數百億計

聯絡人員

路智強

電話

03-5913386

傳真

03-5820093

電子信箱

mikelu@itri.org.tw

參考網址

http://-

所須軟硬體設備

acth coater, TFcalc simulator, R2R sputter

需具備之專業人才

碩士(含)以上化學化工背景等相關人才

同步更新日期

2023-07-22

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序號5105
產出年度100
技術名稱-中文R2R連續性製程技術
執行單位工研院電光所
產出單位(空)
計畫名稱軟性電子模組與應用技術發展計畫
領域(空)
已申請專利之國家(空)
已獲得專利之國家(空)
技術現況敘述-中文受到手機、平板電腦以及遊戲機等產品帶動,全球觸控面板需求快速成長,2011年全球觸控面板市場規模為134億美元,預計2017年市場規模將達到239億美元。目前觸控面板製程主流技術為G-G或F-F 結構的 touch sensor 貼合表面玻璃,貼合良率關乎成本,本計畫所發展的R2R連續性製程技術,特色為low cost 與high throughput,兼具低碳與環保要求,應用於觸控面板之生產具有優勢。並成立FlexTouch SIG產業聯盟,結合產、官、學、研等機構,共同發展R2R軟性電子觸控面板技術,建構一個完整上、中、下游軟性電子觸控面板產業,創造國內軟性電子的產業效益,提升台灣軟性電子觸控面板產業之國際地位。
技術現況敘述-英文(空)
技術規格-連續式R2R透明導電膜製程TCF:片電阻=7.8 Ω/□、穿透率=86%。 -連續式R2R電極圖案化製程(line/space解析度達20µm /20µm)。 -連續式R2R印刷製程(screen printing line解析度達100µm;fine line printing line解析度達30µm)。
技術成熟度試量產
可應用範圍觸控面板/ e-paper、OLED lighting/ display、FPD、BIPV
潛力預估在R2R連續性製程技術為業界採用後,預估在未來3~5年可以為台灣相關產業帶來數十億以至上看百億的產值。
聯絡人員路智強
電話03-5913386
傳真03-582093
電子信箱mikelu@itri.org.tw
參考網址www.flextouch.org.tw
所須軟硬體設備硬體:R2R Sputter、R2R Laminator、R2R Exposure、R2R DES Line、R2R Web Bench、R2R Screen Printer、R2R Gravure-Offset。
需具備之專業人才-
序號: 5105
產出年度: 100
技術名稱-中文: R2R連續性製程技術
執行單位: 工研院電光所
產出單位: (空)
計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫
領域: (空)
已申請專利之國家: (空)
已獲得專利之國家: (空)
技術現況敘述-中文: 受到手機、平板電腦以及遊戲機等產品帶動,全球觸控面板需求快速成長,2011年全球觸控面板市場規模為134億美元,預計2017年市場規模將達到239億美元。目前觸控面板製程主流技術為G-G或F-F 結構的 touch sensor 貼合表面玻璃,貼合良率關乎成本,本計畫所發展的R2R連續性製程技術,特色為low cost 與high throughput,兼具低碳與環保要求,應用於觸控面板之生產具有優勢。並成立FlexTouch SIG產業聯盟,結合產、官、學、研等機構,共同發展R2R軟性電子觸控面板技術,建構一個完整上、中、下游軟性電子觸控面板產業,創造國內軟性電子的產業效益,提升台灣軟性電子觸控面板產業之國際地位。
技術現況敘述-英文: (空)
技術規格: -連續式R2R透明導電膜製程TCF:片電阻=7.8 Ω/□、穿透率=86%。 -連續式R2R電極圖案化製程(line/space解析度達20µm /20µm)。 -連續式R2R印刷製程(screen printing line解析度達100µm;fine line printing line解析度達30µm)。
技術成熟度: 試量產
可應用範圍: 觸控面板/ e-paper、OLED lighting/ display、FPD、BIPV
潛力預估: 在R2R連續性製程技術為業界採用後,預估在未來3~5年可以為台灣相關產業帶來數十億以至上看百億的產值。
聯絡人員: 路智強
電話: 03-5913386
傳真: 03-582093
電子信箱: mikelu@itri.org.tw
參考網址: www.flextouch.org.tw
所須軟硬體設備: 硬體:R2R Sputter、R2R Laminator、R2R Exposure、R2R DES Line、R2R Web Bench、R2R Screen Printer、R2R Gravure-Offset。
需具備之專業人才: -
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OTFT OLED development

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 3吋 P-type 32x32 OTFT/OLED、threshold voltage | 潛力預估: OTFT使用低成本之印刷製程技術,可用於塑膠等軟性基板上,並與有激發光技術(OLED)同屬有機材質,預期有互補性且製程相通,開發完成後,可提供現有之OLED廠商投入新型式軟性顯示器(Flexible ...

10吋厚膜式奈米碳管場發射顯示技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: 10” QVGA-320x3x240 pixel size=500μm X 500μm 250 nits spacer=100 μm | 潛力預估: 有助於顯示器產品技術多元化,增加市場競爭力

電化學蝕刻停止技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 懸膜厚度尺寸變化在±1μm。 | 潛力預估: 有替代技術,應用潛力中等

鎳鈷及金微電鑄及製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 工件尺寸(max.) – Au : 24 cm (W) x 18(cm D) Ni : 25 cm (W) x 30 cm (D) Ni - Co: 20 cm (W) x 25 cm (D) ‧ 被... | 潛力預估: 應用潛力高

厚膜光阻製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 正光阻 : 光阻厚度 ~ 60um, 深寬比~3 負光阻 : 光阻厚度~ 800um, 深寬比~30 | 潛力預估: 應用潛力中

微鰭片散熱技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: Fin Size < 0.3mm, Fin Height < 10.2mm, Aspect Ratio >35 | 潛力預估: 應用潛力中

矽晶片濕蝕刻精密對準製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: KOH蝕刻參數及精密對準的光罩(error<0.2度)。 | 潛力預估: 體型微加工重要技術,應用潛力高

室溫熱像儀驅動顯示控制技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)畫面速率 30Hz (2)視訊 NTSC標準 | 潛力預估: 應用潛力中等

低表面缺陷非晶質矽膜之製作技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 製程溫度 : 300°C ,薄膜厚度 >2um | 潛力預估: 須搭配元件技術,應用潛力低

利用單晶矽之反應性蝕刻與金屬化等製程製作微機電元件

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 結構高度(max.) : > 10 um、寬度 : > 2 um、結構間隙 : > 2 um ‧ 深寬比 > 3 | 潛力預估: 單一光罩製程,製程簡單,應用潛力中等

矽晶片蝕穿技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 矽蝕刻深度 > 525um ‧ 蝕刻率 > 4 um/min ‧ 蝕刻垂直度 > 89度 ‧ 深寬比 > 30 | 潛力預估: 潛力中等

類LIGA電鑄模技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 材質:矽晶格方位 (100) P型(硼參雜) 阻值 1-20 Ωcm 規 格:3.5 mm × 1.7 mm (俯視圖) 接 觸 式懸浮臂長400 ± 10 μm 懸浮臂寬30 ± 5 μm 懸浮臂厚... | 潛力預估: 可應用於背光模組及LED之微透鏡及生物晶片製作,應用潛力高

光纖陣列晶片之V- groove精確蝕刻技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 4、8、16、32、48- channels fiber arrays ‧ fiber to fiber spacing : 250+-1um | 潛力預估: 取決於光通訊市場,未來潛力高

低應力電鑄金屬膜製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 工件尺寸(max.) – Ni - W : 8 cm (W) x 8 cm (D) Ni - Co: 20 cm (W) x 25 cm (D) ‧ 被鍍表面電阻值(max.) : 600Ω | 潛力預估: 可應用於LCD背光膜組之元件製作,潛力高

微氣體感測器

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: Item Specification Chip Material Silicon Process Bulk Machining Electrode Material Pt Driving Voltag... | 潛力預估: 潛力中等

OTFT OLED development

執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: 3吋 P-type 32x32 OTFT/OLED、threshold voltage | 潛力預估: OTFT使用低成本之印刷製程技術,可用於塑膠等軟性基板上,並與有激發光技術(OLED)同屬有機材質,預期有互補性且製程相通,開發完成後,可提供現有之OLED廠商投入新型式軟性顯示器(Flexible ...

10吋厚膜式奈米碳管場發射顯示技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 領域: | 技術規格: 10” QVGA-320x3x240 pixel size=500μm X 500μm 250 nits spacer=100 μm | 潛力預估: 有助於顯示器產品技術多元化,增加市場競爭力

電化學蝕刻停止技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 懸膜厚度尺寸變化在±1μm。 | 潛力預估: 有替代技術,應用潛力中等

鎳鈷及金微電鑄及製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 工件尺寸(max.) – Au : 24 cm (W) x 18(cm D) Ni : 25 cm (W) x 30 cm (D) Ni - Co: 20 cm (W) x 25 cm (D) ‧ 被... | 潛力預估: 應用潛力高

厚膜光阻製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 正光阻 : 光阻厚度 ~ 60um, 深寬比~3 負光阻 : 光阻厚度~ 800um, 深寬比~30 | 潛力預估: 應用潛力中

微鰭片散熱技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: Fin Size < 0.3mm, Fin Height < 10.2mm, Aspect Ratio >35 | 潛力預估: 應用潛力中

矽晶片濕蝕刻精密對準製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: KOH蝕刻參數及精密對準的光罩(error<0.2度)。 | 潛力預估: 體型微加工重要技術,應用潛力高

室溫熱像儀驅動顯示控制技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)畫面速率 30Hz (2)視訊 NTSC標準 | 潛力預估: 應用潛力中等

低表面缺陷非晶質矽膜之製作技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 製程溫度 : 300°C ,薄膜厚度 >2um | 潛力預估: 須搭配元件技術,應用潛力低

利用單晶矽之反應性蝕刻與金屬化等製程製作微機電元件

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 結構高度(max.) : > 10 um、寬度 : > 2 um、結構間隙 : > 2 um ‧ 深寬比 > 3 | 潛力預估: 單一光罩製程,製程簡單,應用潛力中等

矽晶片蝕穿技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 矽蝕刻深度 > 525um ‧ 蝕刻率 > 4 um/min ‧ 蝕刻垂直度 > 89度 ‧ 深寬比 > 30 | 潛力預估: 潛力中等

類LIGA電鑄模技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 材質:矽晶格方位 (100) P型(硼參雜) 阻值 1-20 Ωcm 規 格:3.5 mm × 1.7 mm (俯視圖) 接 觸 式懸浮臂長400 ± 10 μm 懸浮臂寬30 ± 5 μm 懸浮臂厚... | 潛力預估: 可應用於背光模組及LED之微透鏡及生物晶片製作,應用潛力高

光纖陣列晶片之V- groove精確蝕刻技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 4、8、16、32、48- channels fiber arrays ‧ fiber to fiber spacing : 250+-1um | 潛力預估: 取決於光通訊市場,未來潛力高

低應力電鑄金屬膜製程技術

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 工件尺寸(max.) – Ni - W : 8 cm (W) x 8 cm (D) Ni - Co: 20 cm (W) x 25 cm (D) ‧ 被鍍表面電阻值(max.) : 600Ω | 潛力預估: 可應用於LCD背光膜組之元件製作,潛力高

微氣體感測器

執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院精密製造與微機電領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: Item Specification Chip Material Silicon Process Bulk Machining Electrode Material Pt Driving Voltag... | 潛力預估: 潛力中等

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