低密度蕊材之複材一體成形結構製程
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專利名稱(中文)低密度蕊材之複材一體成形結構製程的核准國家是中華民國, 執行單位是中科院航空所, 產出年度是93, 專利性質是發明, 計畫名稱是飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫, 專利發明人是金一凡,曾煥賢,謝四維, 證書號碼是199421.

序號

92

產出年度

93

領域別

(空)

專利名稱(中文)

低密度蕊材之複材一體成形結構製程

執行單位

中科院航空所

產出單位

(空)

計畫名稱

飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫

專利發明人

金一凡,曾煥賢,謝四維

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

199421

專利期間起

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專利期間訖

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專利性質

發明

技術摘要(中文)

強化輕質發泡蕊材之表面,以期製作一體成形複材三明製零組件,可應用於製作飛機之控制面、桅杆及機身隔框等零件,以及內含輕質蕊材之民生產品如自行車頭盔、船舶複材油箱及沖浪板等。

技術摘要(英文)

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聯絡人員

劉新化

電話

04-22846508

傳真

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電子信箱

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參考網址

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備註

原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸

特殊情形

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與低密度蕊材之複材一體成形結構製程同分類的經濟部技術處–專利資料集

  1. 即時紅外化學影像光譜裝置

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌, 王浩偉 | 證書號碼: 203435

  2. 光譜偏移式奈米近接裝置

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉 | 證書號碼: 200276

  3. 光學用高度調整裝置

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森 | 證書號碼: 201467

  4. 位移微擾裝置

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 陳志光, 石宇森 | 證書號碼: 201468

  5. 電磁場感測元件及其裝置

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 黃卯生, 薛文崇, 曾文仁, 馮勁敏, 梁文烈 | 證書號碼: 201837

  6. 二維位移量之量測裝置

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 高清芬, 張中柱, 林慶芳 | 證書號碼: I224351

  7. 雙波混合於光折變晶體干涉裝置

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育, 施學兢 | 證書號碼: I221897

  8. 位移量測裝置

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 鄭凱宇, 戴鴻名 | 證書號碼: 207362

  9. 奈米碳管探針製作系統

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 潘善鵬, 姚斌誠, 張威政, 陳聖 | 證書號碼: 207365

  10. 壓電管

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 張貴凱, 施能謙, 陳燦林 | 證書號碼: 190341

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