一種光源發射功率之空間二維分佈量測方法及其裝置
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專利名稱-中文一種光源發射功率之空間二維分佈量測方法及其裝置的核准國家是中華民國, 證書號碼是第203097號, 專利性質是發明, 執行單位是中科院材料所, 產出年度是93, 計畫名稱是個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫, 專利發明人是莊正當、詹黃宗.

序號	330
產出年度	93
領域別	(空)
專利名稱-中文	一種光源發射功率之空間二維分佈量測方法及其裝置
執行單位	中科院材料所
產出單位	(空)
計畫名稱	個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫
專利發明人	莊正當 \| 詹黃宗
核准國家	中華民國
獲證日期	(空)
證書號碼	第203097號
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	係為一種數位取像之光源發射功率的空間二維分佈量測法，整套系統包含1)電腦及影像分析軟體
技術摘要-英文	2)取像裝置
聯絡人員	3)投射螢幕
電話	4)待測試之光源。本提案利用數位取像裝置配合電腦分析軟體進行量測，無傳統測試方式需要精密轉動裝置的缺點，可迅速測得完整的光源發射功率空間的二維分佈，而非傳統的測試方式僅以數條掃描線代表二維分佈的狀況。(申請案號：92114504)
傳真	(空)
電子信箱	詹黃宗
參考網址	http://03-4712201 ext 357189
備註	03-4713069
特殊情形	(空)

序號

330

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

一種光源發射功率之空間二維分佈量測方法及其裝置

執行單位

中科院材料所

產出單位

(空)

計畫名稱

個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫

專利發明人

莊正當 | 詹黃宗

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

第203097號

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

係為一種數位取像之光源發射功率的空間二維分佈量測法，整套系統包含1)電腦及影像分析軟體

技術摘要-英文

2)取像裝置

聯絡人員

3)投射螢幕

電話

4)待測試之光源。本提案利用數位取像裝置配合電腦分析軟體進行量測，無傳統測試方式需要精密轉動裝置的缺點，可迅速測得完整的光源發射功率空間的二維分佈，而非傳統的測試方式僅以數條掃描線代表二維分佈的狀況。(申請案號：92114504)

傳真

(空)

電子信箱

詹黃宗

參考網址

http://03-4712201 ext 357189

備註

03-4713069

特殊情形

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Double path microdrop optical biometric system

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根據電話 4 待測試之光源本提案利用數位取像裝置配合電腦分析軟體進行量測無傳統測試方式需要精密轉動裝置的缺點可迅速測得完整的光源發射功率空間的二維分佈而非傳統的測試方式僅以數條掃描線代表二維分佈的狀況申請案號：92114504 找到的相關資料

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用於陽極接合間隙物之SOG材料	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6617264 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 蕭名君 \| 蘇凱農 \| 李正中 \| 林鵬 \| 陳三元
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一種場發射顯示器之三極結構的製程	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 220265 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 張悠揚 \| 鄭華琦 \| 許志榮 \| 趙慶勳 \| 陳光中
一種場發射顯示器之三極結構的製程	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6769945 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 張悠揚 \| 鄭華琦 \| 許志榮 \| 趙慶勳 \| 陳光中
場發射顯示器之三極結構及其製作方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206590 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 李鈞道 \| 李正中 \| 許志榮 \| 張悠揚 \| 何家充 \| 王右武

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專利期間起

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