低頻率漂移數位頻率調制裝置
- 經濟部技術處–專利資料集 @ 技術處

專利名稱(中文)低頻率漂移數位頻率調制裝置的核准國家是中華民國, 執行單位是工研院量測中心, 產出年度是93, 專利性質是發明, 計畫名稱是自動光學顯微檢測設備技術三年計畫, 專利發明人是高炳文, 謝賜山, 紀秋棉, 證書號碼是195328.

序號

587

產出年度

93

領域別

(空)

專利名稱(中文)

低頻率漂移數位頻率調制裝置

執行單位

工研院量測中心

產出單位

(空)

計畫名稱

自動光學顯微檢測設備技術三年計畫

專利發明人

高炳文, 謝賜山, 紀秋棉

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

195328

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要(中文)

低頻率漂移的數位頻率調制裝置是採用主射頻鎖相及參考信號源鎖頻的閉迴路架構,來作雙重頻率控制,因此可改善傳統射頻開迴路數位調制所產生之數位訊息訊號變化率範圍的限制及發射頻率漂移的現象,進而提高資訊傳輸速率降低資訊誤碼率。

技術摘要(英文)

(空)

聯絡人員

金娟如

電話

03-5743816

傳真

03-5720621

電子信箱

judyking@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸

特殊情形

(空)

與低頻率漂移數位頻率調制裝置同分類的經濟部技術處–專利資料集

  1. 研磨機進料結構

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳珠修、楊奉儒、李明晃 | 證書號碼: 211613

  2. 液晶顯示器反射表面的製造方法

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 韋忠光 | 證書號碼: 195728

  3. 以無電鍍法於氮化物障礙層上沉積金屬導線的方法

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英, 黃尊禧 | 證書號碼: 6713377

  4. 以無電鍍法於氮化物障礙層上沉積金屬導線的方法

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英, 黃尊禧 | 證書號碼: 6660625

  5. 消除光阻中近接效應之方法

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 高蔡勝, 戴昌銘 | 證書號碼: 183704

  6. 製造反射型液晶顯示面板之方法及所製之裝置

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 丁岱良 | 證書號碼: 185243

  7. 具凸起結構之多域配向液晶顯示器

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達 | 證書號碼: 188081

  8. 具凸起結構之多域配向液晶顯示器

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達 | 證書號碼: 6747727

  9. 正向修補型之薄膜電晶體液晶顯示裝置以及正向修補方法

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃庭輝 | 證書號碼: 6714269

  10. 低漏光及低訊號線阻值之IPS-TFT 陣列設計

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張世昌, 陳志宏, 劉秉德 | 證書號碼: 185400

 |