可調光徑之光學捕捉裙
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專利名稱-中文可調光徑之光學捕捉裙的核准國家是美國, 證書號碼是6,667,838, 專利性質是發明, 執行單位是工研院量測中心, 產出年度是93, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是林耀明, 王浩偉, 羅偕益.

序號	600
產出年度	93
領域別	(空)
專利名稱-中文	可調光徑之光學捕捉裙
執行單位	工研院量測中心
產出單位	(空)
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	林耀明 \| 王浩偉 \| 羅偕益
核准國家	美國
獲證日期	(空)
證書號碼	6,667,838
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種可調光徑之光學捕捉裙，其包括：一本體，具有一第一開口、大於第一開口的一第二開口以及自第一開口至第二開口延伸的一環狀側壁；以及一喇叭狀光圈，具有小於上述第一開口的一瞳孔，並且該喇叭狀光圈固定於上述環狀側壁內，構成一環狀空穴。當一大於此瞳孔之光束進入第一開口後，藉由調整瞳孔之大小，將既定放棄之光束被上述環狀空穴捕捉。進一步，本發明可調通過第一開口之光束之光徑。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	金娟如
電話	03-5743816
傳真	03-5720621
電子信箱	judyking@itri.org.tw
參考網址	http://www.itri.org.tw
備註	原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸
特殊情形	(空)

序號

600

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

可調光徑之光學捕捉裙

執行單位

工研院量測中心

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

林耀明 | 王浩偉 | 羅偕益

核准國家

美國

獲證日期

(空)

證書號碼

6,667,838

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種可調光徑之光學捕捉裙，其包括：一本體，具有一第一開口、大於第一開口的一第二開口以及自第一開口至第二開口延伸的一環狀側壁；以及一喇叭狀光圈，具有小於上述第一開口的一瞳孔，並且該喇叭狀光圈固定於上述環狀側壁內，構成一環狀空穴。當一大於此瞳孔之光束進入第一開口後，藉由調整瞳孔之大小，將既定放棄之光束被上述環狀空穴捕捉。進一步，本發明可調通過第一開口之光束之光徑。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

金娟如

電話

03-5743816

傳真

03-5720621

電子信箱

judyking@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸

特殊情形

(空)

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高密度通道光譜影像量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)物方視野: 線型 > 6 mm(2) 物方空間解析度: < 250 mm (3) 光譜解析度: < 3 nm (4) 單次量測光譜範圍(free spectral range): 400 nm \| 潛力預估: 台灣的LED設備產能相當充足，但製程良率偏低，且檢測速度遠不及產出率，需求快速光譜檢測新一代技術，本技術可直接針對此需求提供服務。 @ 技術司可移轉技術資料集
高密度光譜分析技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)掃描範圍:300nm~900nm/1250nm~1650nm \| 潛力預估: 可取代目前國外高價產品，可創造產值5億 @ 技術司可移轉技術資料集
垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 \| 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。 @ 技術司可移轉技術資料集
3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)空間解析度：7.7 μm。(2)深度範圍：< 200μm。 \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
三維形貌量測探頭技術	執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 97 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 \| 領域: \| 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 \| 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。 @ 技術司可移轉技術資料集
電力控制電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 214743 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林 @ 技術司專利資料集
提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184318 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄 @ 技術司專利資料集

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適用於通訊系統之渦輪碼快速編碼裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 發明字第181964 號 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 超寬頻系統平台與IP發展四年計畫 \| 專利發明人: 丁允任、盧而輝、吳匡時、朱先宇
Invisible Electronic Signature	核准國家: 美國 \| 證書號碼: US 6813710 B1 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 超寬頻系統平台與IP發展四年計畫 \| 專利發明人: Kuang-Shyr Wu, Tao-I Hsu
Resilient and Rugged Multi-Layered Probe	核准國家: 美國 \| 證書號碼: US 6759859 B2 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 超寬頻系統平台與IP發展四年計畫 \| 專利發明人: Joseph D. S. Deng, Hong-Chyi Lee
用於分時雙工寬頻多載波直接序列分碼多重進接系統之發射分送方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 發明字第207417 號 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 超寬頻系統平台與IP發展四年計畫 \| 專利發明人: 鄧俊宏，李大嵩，廖建興
複合材料模具之改良	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 217704 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 林永崑,許明發,李錦坤
以複合材料成型之散熱鰭片	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: M244503 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 吳國維,莊毓蕙,沈賢
具有流道系統之複材製程及其結構件	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 189528 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 林永崑,許明發,李錦坤,莊毓蕙,丁明仁,劉翰錡
蜂巢密封與使用彼之複材結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 192488 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 沈賢,余秉憲,劉文豪
三明治加勁板快速成形製程	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206564 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 吳國維,柯正忠,謝四維
具有加強肋之複材結構件及其製程	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 193142 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 林永崑,陳育德,丁明仁,李錦坤,柯正忠
樹脂真空吸入加壓成型方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 203407 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 吳國維,劉翰錡,謝四維
快速真空加壓成型模具	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 217740 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 吳國維,劉翰錡,謝四維
複材成型之道路標示牌結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: M244313 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 吳國維,劉翰錡,柯正忠
具昇力模擬之起落架落錘測試機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 216569 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 柯正忠,許丕杰,張傳正,徐俊琪
線性致動器負載及位移感測裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 218823 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院航空所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 \| 專利發明人: 蔡耀智,黃進義

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