控制奈米碳管長度之方法與裝置
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文控制奈米碳管長度之方法與裝置的核准國家是中華民國, 證書號碼是200165, 專利性質是發明, 執行單位是工研院量測中心, 產出年度是93, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是戴鴻名, 施能謙, 陳燦林.

序號	603
產出年度	93
領域別	(空)
專利名稱-中文	控制奈米碳管長度之方法與裝置
執行單位	工研院量測中心
產出單位	(空)
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	戴鴻名 \| 施能謙 \| 陳燦林
核准國家	中華民國
獲證日期	(空)
證書號碼	200165
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	本發明係有關於一種控制奈米碳管長度之裝置及方法，係配合一表面形成有至少一奈米碳管或奈米碳管探針之基板，主要包括：至少一定位平台，用以放置並調整該基板之位置，或調整該放電電極之位置；一放電電極，位於該定位平台之一側，用以裁切該奈米碳管；一壓電致動器，用以定位或調整該放電電極之位置或與該基板參考面之相對高度；一距離感測器，用以感知該電極之高度；以及一電壓脈衝供應器，用以施加一電壓脈衝至該放電電極，以裁切該奈米碳管。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	金娟如
電話	03-5743816
傳真	03-5720621
電子信箱	judyking@itri.org.tw
參考網址	http://www.itri.org.tw
備註	原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸
特殊情形	(空)

序號

603

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

控制奈米碳管長度之方法與裝置

執行單位

工研院量測中心

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

戴鴻名 | 施能謙 | 陳燦林

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

200165

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

本發明係有關於一種控制奈米碳管長度之裝置及方法，係配合一表面形成有至少一奈米碳管或奈米碳管探針之基板，主要包括：至少一定位平台，用以放置並調整該基板之位置，或調整該放電電極之位置；一放電電極，位於該定位平台之一側，用以裁切該奈米碳管；一壓電致動器，用以定位或調整該放電電極之位置或與該基板參考面之相對高度；一距離感測器，用以感知該電極之高度；以及一電壓脈衝供應器，用以施加一電壓脈衝至該放電電極，以裁切該奈米碳管。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

金娟如

電話

03-5743816

傳真

03-5720621

電子信箱

judyking@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸

特殊情形

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新北市新店區中正路２２９之１號二樓	總價元: 26300000 \| 房地(土地+建物)+車位 \| 建物移轉總面積平方公尺: 156.37 \| 土地移轉總面積平方公尺: 13.02 \| 建築完成年月: 1000113 \| 都市土地使用分區: 住 \| 建物型態: 住宅大樓(11層含以上有電梯) \| 主要用途: 住家用 \| 交易年月日: 1120910 @ 不動產實價登錄資訊-買賣案件
screens [furniture]	商品基本碼 Basic No.: 200165 \| 中譯名稱 Chinese Translation: 屏風 \| 類似組群碼 TIPO's similar group code: 2001 @ 商品與服務國際（尼斯）分類

新北市新店區中正路２２９之１號二樓

@ 不動產實價登錄資訊-買賣案件

screens [furniture]

商品基本碼 Basic No.: 200165 | 中譯名稱 Chinese Translation: 屏風 | 類似組群碼 TIPO's similar group code: 2001

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垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 \| 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。 @ 技術司可移轉技術資料集
3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
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三維形貌量測探頭技術	執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 97 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 \| 領域: \| 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 \| 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。 @ 技術司可移轉技術資料集
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提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184318 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮 \| 黃俊雄 @ 技術司專利資料集

高密度通道光譜影像量測技術

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高密度光譜分析技術

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垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術

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3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術

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HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術

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三維形貌量測探頭技術

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汽車頭燈旋轉裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: 614200 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 車輛中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 車輛研測關鍵技術發展三年計畫 \| 專利發明人: 王溫良 \| 李旺軒
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飛機與地面地形碰撞的偵測處理方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 發明第191875號 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛航資訊廣播及通訊技術開發三年計畫 \| 專利發明人: 鄭世通
調頻連續波雷達高度計之數位控制式線性掃頻模式	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 發明第197868號 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 飛航資訊廣播及通訊技術開發三年計畫 \| 專利發明人: 林鈺山 \| 劉鳳玲 \| 鄭世通
布面(七)	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 088113 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新式樣 \| 執行單位: 紡拓會 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 紡織品設計技術開發與推廣四年計畫 \| 專利發明人: 謝詠絮
布面(八)	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 088114 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新式樣 \| 執行單位: 紡拓會 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 紡織品設計技術開發與推廣四年計畫 \| 專利發明人: 謝詠絮
布面(九)	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 088166 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新式樣 \| 執行單位: 紡拓會 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 紡織品設計技術開發與推廣四年計畫 \| 專利發明人: 謝詠絮
濕式轉移印花用轉印圖案紙加工方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 190301 \| 專利期間起: 1992/10/21 \| 專利期間訖: 108/9/19 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 紡織所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高科技紡織產業技術研究與發展四年計畫 \| 專利發明人: 鄭琨琳 \| 蔡聰文 \| 林峰標 \| 蔡榮裕
漿紗預處理之方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 185205 \| 專利期間起: 1992/9/1 \| 專利期間訖: 108/9/7 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 紡織所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高科技紡織產業技術研究與發展四年計畫 \| 專利發明人: 連榮盛 \| 方國華 \| 施陽平 \| 魏亞中
金屬化纖維結構物及其製造法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 195760 \| 專利期間起: 1993/1/21 \| 專利期間訖: 110/12/18 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 紡織所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高科技紡織產業技術研究與發展四年計畫 \| 專利發明人: 連榮盛 \| 陳宏恩 \| 黃博雄 \| 陳俊明
圓編機主動送紗方法與裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6745597 \| 專利期間起: 1990/12/30 \| 專利期間訖: 110/12/30 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 紡織所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高科技紡織產業技術研究與發展四年計畫 \| 專利發明人: 唐建發 \| 蔣錦煌
以光電方式量測連續帶狀物均勻度之溫度補償裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 189384 \| 專利期間起: 1992/10/11 \| 專利期間訖: 111/7/7 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 紡織所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高科技紡織產業技術研究與發展四年計畫 \| 專利發明人: 唐建發 \| 黃定國 \| 陳鴻仁 \| 劉文啟
一種空間布膜結構及其製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I220881 \| 專利期間起: 1993/9/11 \| 專利期間訖: 112/12/25 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 紡織所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高科技紡織產業技術研究與發展四年計畫 \| 專利發明人: 王近年 \| 陳宏恩 \| 陳述亨 \| 曾靖惠
一種利用光以偵測紗線噴節數之裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: M248793 \| 專利期間起: 1993/11/1 \| 專利期間訖: 102/12/29 \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 紡織所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高科技紡織產業技術研究與發展四年計畫 \| 專利發明人: 張正東 \| 唐建發 \| 黃慶堂 \| 沈乾龍 \| 李俊輝 \| 陳鴻仁 \| 劉文啟
立體結構口罩	核准國家: 日本 \| 證書號碼: 3101352 \| 專利期間起: 1992/10/31 \| 專利期間訖: 1998/10/30 \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 紡織所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 高科技紡織產業技術研究與發展四年計畫 \| 專利發明人: 連榮盛 \| 李仁雄 \| 陳宏恩 \| 黃博雄 \| 林淨植

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