電磁場感測元件及其裝置
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文電磁場感測元件及其裝置的核准國家是中華民國, 證書號碼是201837, 專利性質是發明, 執行單位是工研院量測中心, 產出年度是93, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是黃卯生, 薛文崇, 曾文仁, 馮勁敏, 梁文烈.

序號	609
產出年度	93
領域別	(空)
專利名稱-中文	電磁場感測元件及其裝置
執行單位	工研院量測中心
產出單位	(空)
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	黃卯生 \| 薛文崇 \| 曾文仁 \| 馮勁敏 \| 梁文烈
核准國家	中華民國
獲證日期	(空)
證書號碼	201837
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	本發明揭示電磁場感測元件及其裝置，包含一光調制器，可依一施加之電場強度改變經其傳送之光波強度、一電磁場感測元件，將感測之電磁場訊號轉換為電訊號並施加一對應之電場強度於該光調制器、一用以產生光波之光源、一第一光纖，將該光源產生之光波傳送至該光調制器、一光偵測器，將一光輸入訊號轉換成一電訊號、及一第二光纖，將該光調制器輸出之光波傳送至該光偵測器。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	金娟如
電話	03-5743816
傳真	03-5720621
電子信箱	judyking@itri.org.tw
參考網址	http://www.itri.org.tw
備註	原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸
特殊情形	(空)

序號

609

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

電磁場感測元件及其裝置

執行單位

工研院量測中心

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

黃卯生 | 薛文崇 | 曾文仁 | 馮勁敏 | 梁文烈

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

201837

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

本發明揭示電磁場感測元件及其裝置，包含一光調制器，可依一施加之電場強度改變經其傳送之光波強度、一電磁場感測元件，將感測之電磁場訊號轉換為電訊號並施加一對應之電場強度於該光調制器、一用以產生光波之光源、一第一光纖，將該光源產生之光波傳送至該光調制器、一光偵測器，將一光輸入訊號轉換成一電訊號、及一第二光纖，將該光調制器輸出之光波傳送至該光偵測器。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

金娟如

電話

03-5743816

傳真

03-5720621

電子信箱

judyking@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸

特殊情形

(空)

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電磁場感測元件及其裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 96 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 黃卯生薛文崇曾文仁馮勁敏梁文烈 @ 技術司專利資料集
電磁場感測元件及其裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 95 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 黃卯生、薛文崇、曾文仁、馮勁敏、梁文烈 @ 技術司專利資料集
電磁場感測元件及其裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200310101350.9 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 97 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 黃卯生薛文崇曾文仁馮勁敏梁文烈 @ 技術司專利資料集

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高密度通道光譜影像量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)物方視野: 線型 > 6 mm(2) 物方空間解析度: < 250 mm (3) 光譜解析度: < 3 nm (4) 單次量測光譜範圍(free spectral range): 400 nm \| 潛力預估: 台灣的LED設備產能相當充足，但製程良率偏低，且檢測速度遠不及產出率，需求快速光譜檢測新一代技術，本技術可直接針對此需求提供服務。 @ 技術司可移轉技術資料集
高密度光譜分析技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)掃描範圍:300nm~900nm/1250nm~1650nm \| 潛力預估: 可取代目前國外高價產品，可創造產值5億 @ 技術司可移轉技術資料集
垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 \| 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。 @ 技術司可移轉技術資料集
3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)空間解析度：7.7 μm。(2)深度範圍：< 200μm。 \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
三維形貌量測探頭技術	執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 97 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 \| 領域: \| 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 \| 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。 @ 技術司可移轉技術資料集
電力控制電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 214743 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林 @ 技術司專利資料集
提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184318 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄 @ 技術司專利資料集

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高密度光譜分析技術

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垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術

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3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術

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HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術

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具同動驅動泵之流體配供裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第203387 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 \| 專利發明人: 周鍾平、丘尚文、柯明闊
內外軸式高真空磁力聯軸器	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第202594 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 \| 專利發明人: 黃勝銘、游欽宏、陳獻忠、宋震國
俱視覺輔助功能之自動點焊裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第215865 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 \| 專利發明人: 彭銘熾、黃繼震、陳盛基、林鴻志、徐玉虎、許覺良
直流無刷線性馬達全數位化控制參數自動調整法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第206237 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 \| 專利發明人: 黃繼震、唐佩忠
晶圓偏心矯正卡匣 ---嘉晶	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第I223372 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 \| 專利發明人: 王偉正、黃耀明、洪建中、游欽宏、練福人、李玉麟
即時三維超音波影像系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第I85723 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 \| 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、余思廉、高進登
快速立體影像擷取及重建方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第I221589 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 \| 專利發明人: 邱鸞嬌、蔡凱棟、高進登
三維影像快速擷取及重建裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第212313 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 \| 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、蔡凱棟、高進登
數位醫療影像通訊處理方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第I220637 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 \| 專利發明人: 陳世英、趙哲誼、馬譯政、林裕涵、高進登
數位醫療影像伺服器	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第201638 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 \| 專利發明人: 陳世英、趙哲誼、馬譯政、林裕涵、高進登
高速線性馬達驅動加工機	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第D101204 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新式樣 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 \| 專利發明人: 趙介麟、許覺良、魯肇爛、聶一夫、查國強、石世雄、黃仁明、張文曲、曾文豪、王樹根、蔡國權、鄭博升、康乃勤、葉世明
立柱移動件封閉型結構體	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第M250748 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 \| 專利發明人: 趙介麟、許覺良、魯肇爛、聶一夫、查國強、石世雄、黃仁明、張文曲、曾文豪、王樹根、蔡國權、鄭博升、康乃勤、葉世明
影像量測裝置的投光構造	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第M246095 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 \| 專利發明人: 任國光、陳登良、吳正富、王相、陳瑞宗
使用管型線性馬達驅動精密雷射切割機	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第M242322 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 \| 專利發明人: 黃繼震、翁仁彥、巫志鴻、陳盛基、吳文智、施俊良
超音波影像模擬裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 第203489 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院飛彈所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 \| 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、曾世峰、高進登

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產出單位

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