位移量測裝置
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檸檬草香茅火鍋專賣店(館東店)

電話: 886-2-29558181 | 地址: 新北市220板橋區館前東路26號(館東店) | 營業時間: 11:30-02:00中間不休息(過年休除夕、初一) | 描述: 「檸檬草美食連鎖」多年來秉持著：水煮最健康、創新食材、提升多層次的口感為原則，並以「清新、健康、熱情、活力」為經營理念；堅持著「食材的新鮮度、現泡的花茶系列、以客為尊的服務品質、提供健康而不油膩的優質...

檸檬草香茅火鍋專賣店(館東店)

餐飲店家服務電話: 886-2-29558181 | 開放時間: 11:30-02:00中間不休息(過年休除夕、初一) | 餐飲店家地址: 新北市220板橋區館前東路26號(館東店) | 停車資訊:

車輛行進間輪軸中心至車體之相對位移測量裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: M241636 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 車輛中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 車輛研測關鍵技術發展三年計畫 | 專利發明人: 張榮明、林根源、張誌煌

位移量測裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I232787 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 鄭凱宇、蘇余益、戴鴻名

位移量測裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I247091 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 95 | 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 | 專利發明人: 李朱育、施學兢

光纖干涉式位置感測器

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 領域: | 技術規格: Resolution:1nm | 潛力預估: 可搶攻非接觸位置感測器市場

使用外差干涉術之靈敏度可調位移量測裝置

作者: 沈丹佳 | 指導教授: 陳坤煌 | 學位類別: 碩士 | 畢業學年度: 109 | 論文名稱(外文): Sensitivity Adjustable Displacement Measuring Apparatus Using Heterodyne Interferometry | 系所名稱: 電機工程學系 | 學校名稱: 逢甲大學

光纖干涉式位置感測器及其量測方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I278682 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 96 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名 周榮宗 鄭凱宇 黃煥祺 黃瓊輝 葉清銘

光纖干涉式位置感測器及其量測方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,349,099 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 97 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名 周榮宗 鄭凱宇 黃煥祺 黃瓊輝 葉清銘

光纖干涉式位置感測器及其量測方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,532,329 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 98 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名 ,周榮宗 ,鄭凱宇 ,黃煥祺 ,黃瓊輝 ,葉清銘 ,

光纖干涉式位置感測器及其量測方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7349099 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 97 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名 周榮宗 鄭凱宇 黃煥祺 黃瓊輝 葉清銘

光纖干涉式位置感測器及其量測方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7532329 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 98 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名 ,周榮宗 ,鄭凱宇 ,黃煥祺 ,黃瓊輝 ,葉清銘 ,

高密度通道光譜影像量測技術

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)物方視野: 線型 > 6 mm(2) 物方空間解析度: < 250 mm (3) 光譜解析度: < 3 nm (4) 單次量測光譜範圍(free spectral range): 400 nm | 潛力預估: 台灣的LED設備產能相當充足，但製程良率偏低，且檢測速度遠不及產出率，需求快速光譜檢測新一代技術，本技術可直接針對此需求提供服務。

高密度光譜分析技術

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)掃描範圍:300nm~900nm/1250nm~1650nm | 潛力預估: 可取代目前國外高價產品，可創造產值5億

垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 | 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。

3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... | 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。

HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)空間解析度：7.7 μm。(2)深度範圍：< 200μm。 | 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。

三維形貌量測探頭技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 97 | 產出單位: | 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 | 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。

電力控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林

提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄