奈米碳管探針製作系統
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文奈米碳管探針製作系統的核准國家是中華民國, 證書號碼是207365, 專利性質是發明, 執行單位是工研院量測中心, 產出年度是93, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是潘善鵬, 姚斌誠, 張威政, 陳聖.

序號	613
產出年度	93
領域別	(空)
專利名稱-中文	奈米碳管探針製作系統
執行單位	工研院量測中心
產出單位	(空)
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	潘善鵬 \| 姚斌誠 \| 張威政 \| 陳聖
核准國家	中華民國
獲證日期	(空)
證書號碼	207365
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種奈米碳管探針製作系統，適用於將一奈米碳管黏接至一探針之上，其包括一轉接盤、一第一微動裝置、一承載座、一第二微動裝置以及一輔助黏接元件。該第一微動裝置係移動地設置於該轉接盤之上，且係依一第一方向及一第二方向以奈米精度移動。該承載座係設置於該第一微動裝置之上，用以承載該探針。該第二微動裝置係伸縮地設置於該轉接盤之上，且係相對於該第一微動裝置，該第二微動裝置係依一第三方向以奈米精度伸縮。該輔助黏接元件係設置於該第二微動裝置之上，且係相對於該承載座，該奈米碳管係經由該輔助黏接元件而黏接至該探針之上。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	金娟如
電話	03-5743816
傳真	03-5720621
電子信箱	judyking@itri.org.tw
參考網址	http://www.itri.org.tw
備註	原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸
特殊情形	(空)

序號

613

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

奈米碳管探針製作系統

執行單位

工研院量測中心

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

潘善鵬 | 姚斌誠 | 張威政 | 陳聖

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

207365

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種奈米碳管探針製作系統，適用於將一奈米碳管黏接至一探針之上，其包括一轉接盤、一第一微動裝置、一承載座、一第二微動裝置以及一輔助黏接元件。該第一微動裝置係移動地設置於該轉接盤之上，且係依一第一方向及一第二方向以奈米精度移動。該承載座係設置於該第一微動裝置之上，用以承載該探針。該第二微動裝置係伸縮地設置於該轉接盤之上，且係相對於該第一微動裝置，該第二微動裝置係依一第三方向以奈米精度伸縮。該輔助黏接元件係設置於該第二微動裝置之上，且係相對於該承載座，該奈米碳管係經由該輔助黏接元件而黏接至該探針之上。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

金娟如

電話

03-5743816

傳真

03-5720621

電子信箱

judyking@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸

特殊情形

(空)

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魔膳健康廚房	電話: 886-2-29685389 \| 地址: 新北市220板橋區光正街16巷18號 \| 營業時間: 週一到週五8:00~17:30營業，國定假日休(過年期間休)(要預訂) \| 描述: 魔膳健康廚房成立於2008年5月，為結合「專業、健康、美味」及「低油、低鹽、少糖、高纖」堅持的健康料理。看中了現代人忙於工作，常常忽略了飲食的重要性，店家堅持一個好的餐盒，除了低油高纖之外，不必要的食... @ 餐飲 - 觀光資訊資料庫
魔膳健康廚房	餐飲店家服務電話: 886-2-29685389 \| 開放時間: 週一到週五8:00~17:30營業，國定假日休(過年期間休)(要預訂) \| 餐飲店家地址: 新北市220板橋區光正街16巷18號 \| 停車資訊: @ 新北市餐飲業者(中文-106年更新)
德宗實業股份有限公司二廠	所在工業區名稱: \| (實際廠場)地址: 臺中市龍井區遊園南路四五○巷四二號 \| 營利事業統一編號: 23543224 \| 管制編號: B0212011 @ 環境保護許可管理系統(暨解除列管)對象基本資料

魔膳健康廚房

電話: 886-2-29685389 | 地址: 新北市220板橋區光正街16巷18號 | 營業時間: 週一到週五8:00~17:30營業，國定假日休(過年期間休)(要預訂) | 描述: 魔膳健康廚房成立於2008年5月，為結合「專業、健康、美味」及「低油、低鹽、少糖、高纖」堅持的健康料理。看中了現代人忙於工作，常常忽略了飲食的重要性，店家堅持一個好的餐盒，除了低油高纖之外，不必要的食...

@ 餐飲 - 觀光資訊資料庫

魔膳健康廚房

餐飲店家服務電話: 886-2-29685389 | 開放時間: 週一到週五8:00~17:30營業，國定假日休(過年期間休)(要預訂) | 餐飲店家地址: 新北市220板橋區光正街16巷18號 | 停車資訊:

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德宗實業股份有限公司二廠

所在工業區名稱: | (實際廠場)地址: 臺中市龍井區遊園南路四五○巷四二號 | 營利事業統一編號: 23543224 | 管制編號: B0212011

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高密度通道光譜影像量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)物方視野: 線型 > 6 mm(2) 物方空間解析度: < 250 mm (3) 光譜解析度: < 3 nm (4) 單次量測光譜範圍(free spectral range): 400 nm \| 潛力預估: 台灣的LED設備產能相當充足，但製程良率偏低，且檢測速度遠不及產出率，需求快速光譜檢測新一代技術，本技術可直接針對此需求提供服務。 @ 技術司可移轉技術資料集
高密度光譜分析技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)掃描範圍:300nm~900nm/1250nm~1650nm \| 潛力預估: 可取代目前國外高價產品，可創造產值5億 @ 技術司可移轉技術資料集
垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 \| 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。 @ 技術司可移轉技術資料集
3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)空間解析度：7.7 μm。(2)深度範圍：< 200μm。 \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
三維形貌量測探頭技術	執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 97 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 \| 領域: \| 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 \| 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。 @ 技術司可移轉技術資料集
電力控制電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 214743 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林 @ 技術司專利資料集
提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184318 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄 @ 技術司專利資料集

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應用奈米管增加半導體元件電容之方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6759305 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 李鈞道, 崔秉鉞, 李正中
改進之場發射型顯示器驅動方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6741039 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 李鈞道, 李正中, 許志榮, 張悠揚
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形成薄膜電晶體於透明基板上之方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6764887 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 戴遠東
利用灰階曝光法製作傾斜散射式反射板之方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 187289 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 賴志明, 翁逸君, 廖奇璋
利用灰階曝光法製作傾斜散射式反射板之方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6773870 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 賴志明, 翁逸君, 廖奇璋
電流驅動元件主動陣列的畫素電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 197219 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 陳建儒, 陳尚立, 施俊任
高密度資料讀寫器及其讀寫方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200381 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 李裕文, 蔡晴翔, 吳清沂
半穿透反射式液晶顯示器	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206462 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 陳慶逸, 沈毓仁
半穿透反射式液晶顯示器	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6806929 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 陳慶逸, 沈毓仁
光電模組模封裝	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 220733 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 電子關鍵性材料與整合模組發展四年計畫 \| 專利發明人: 陳文彥, 范榮昌, 劉君愷
光電元件與光纖連接器之被動對位封裝結構	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6808323 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 \| 專利發明人: 姜信騰, 劉君愷, 周意工
一次成形之覆晶式閘球陣列半導體構裝與其製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 190623 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 電子關鍵性材料與整合模組發展四年計畫 \| 專利發明人: 盧思維, 盧威華, 呂芳俊
一應用半導體構裝治具的雙面組裝方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184711 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 電子關鍵性材料與整合模組發展四年計畫 \| 專利發明人: 呂芳俊, 盧思維, 樓百堯
具有主動控制之可調式場發射顯示器	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 202493 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 王右武, 李鈞道, 李正中

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專利名稱-中文

執行單位

產出單位

計畫名稱

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