具錯誤偵測暨更正功能之液晶顯示器掃描線驅動電路
- 經濟部技術處–專利資料集 @ 技術處

專利名稱(中文)具錯誤偵測暨更正功能之液晶顯示器掃描線驅動電路的核准國家是中華民國, 執行單位是工研院電子所, 產出年度是93, 專利性質是發明, 計畫名稱是下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫, 專利發明人是王博文, 陳尚立, 證書號碼是193977.

序號

750

產出年度

93

領域別

(空)

專利名稱(中文)

具錯誤偵測暨更正功能之液晶顯示器掃描線驅動電路

執行單位

工研院電子所

產出單位

(空)

計畫名稱

下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫

專利發明人

王博文, 陳尚立

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

193977

專利期間起

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專利期間訖

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專利性質

發明

技術摘要(中文)

A scan driver of LCD with fault detection and correction circuit is disclosed herein. The scan driver fabricated on a glass substrate locates at both ends of the scan buses can simultaneously drive the scan buses from both ends. The fault detection and correction circuit of the scan driver is used to determine whether transmitting signal from a DFF at present stage into a DFF at next stage, or transmitting signal from the other DFF at present stage through a scan bus into the other DFF. The fault detection and correction circuit includes the first detecting device, the second detecting device, the control signal generating device, and the transmission control device. The first and the second detecting device generate a first logic level and a second logic level responding to a stuck-at-zero fault and a stuck-at-one fault respectively. The control signal generating device generates a first control signal when all input terminals exhibiting a second logic level, and generates a second control signal when one of input terminals exhibiting the first logic level. The transmission control device can transmit signal from one DFF to the other and to the scan bus responding to the first control signal, also can isolate them and the scan bus responding to the second control signal.

技術摘要(英文)

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聯絡人員

謝旺廷

電話

03-5913551

傳真

(空)

電子信箱

wthsieh@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為通訊光電,95年改為電資通光

特殊情形

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與具錯誤偵測暨更正功能之液晶顯示器掃描線驅動電路同分類的經濟部技術處–專利資料集

  1. 中心對稱之GAMMA電壓校正電路

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳明道, 沈毓仁 | 證書號碼: 190470

  2. 中心對稱之GAMMA電壓校正電路

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳明道, 沈毓仁 | 證書號碼: 6778161

  3. 矽單晶液晶顯示器及製作方法

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 莊立聖 | 證書號碼: 6721027

  4. 簡易式塊狀彈性體的製程方法

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 電子關鍵性材料與整合模組發展四年計畫 | 專利發明人: 盧思維, 盧明, 林志榮 | 證書號碼: 6605525

  5. 蝕刻玻璃面板之裝置及方法

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳泰宏, 黃元璋 | 證書號碼: 6673195

  6. 陽光下可顯示的顯示器的畫素元件結構

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 王文俊, 莊立聖 | 證書號碼: 184692

  7. 陽光下可顯示的顯示器的畫素元件結構

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 王文俊, 莊立聖 | 證書號碼: 6714268

  8. 具有自我對準輕摻雜汲極結構之多晶矽薄膜電晶體

    核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 戴遠東, 廖宗能, 陳志強 | 證書號碼: 191581

  9. 具有自我對準輕摻雜汲極結構之多晶矽薄膜電晶體

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 戴遠東, 廖宗能, 陳志強 | 證書號碼: 6677189

  10. 薄膜電晶體面板的製造方法

    核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 戴遠東, 李啟聖, 張鈞傑 | 證書號碼: 6713328

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