液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構
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專利名稱(中文)液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構的核准國家是日本, 執行單位是工研院電子所, 產出年度是93, 專利性質是發明, 計畫名稱是下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫, 專利發明人是巫吉原, 證書號碼是3553864.

序號

755

產出年度

93

領域別

(空)

專利名稱(中文)

液晶顯示面板點燈測試的方法及其結構

執行單位

工研院電子所

產出單位

(空)

計畫名稱

下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫

專利發明人

巫吉原

核准國家

日本

獲證日期

(空)

證書號碼

3553864

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要(中文)

本發明提供之一種液晶顯示面板點燈測試(power up test)的方法,係利用一點燈測試面板(Test Panel)來對一液晶顯示面板進行點燈測試,可大幅降低點燈測試的困難與所需成本;該點燈測試面板,係在一基板上形成有複數個測試電極,該複數個測試電極係一對一相對應於該液晶顯示面板得複數個輸入電極。該點燈測試面板可藉由一軟性軟性膠膜,與一主機系統電路達成訊號連結,該主機系統可以產生輸入液晶顯示面板的訊號。再進行點燈測試時,僅需將該點燈測試面板與該輸入電極相對疊合並施以適當之壓合力量,即可進行液晶面板電訊導通測試。特別有利於應用再輸入電極間距(Pitch)很小的高解析度液晶顯示面板的點燈測試。

技術摘要(英文)

(空)

聯絡人員

謝旺廷

電話

03-5913551

傳真

(空)

電子信箱

wthsieh@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為通訊光電,95年改為電資通光

特殊情形

(空)

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  8. 行星式具位置指示之閥手輪

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