專利名稱-中文晶圓、半導體元件和電路板之導線與介電材料結構失效的檢測裝置與方法 的核准國家是中華民國 , 證書號碼是I296719 , 專利性質是發明 , 執行單位是工研院晶片中心 , 產出年度是97 , 計畫名稱是WiMAX個人行動數位機關鍵技術發展四年計畫 , 專利發明人是廖錫卿 譚瑞敏 黃肇達 許永昱 鄭智元 .
序號 4129 產出年度 97 領域別 (空) 專利名稱-中文 晶圓、半導體元件和電路板之導線與介電材料結構失效的檢測裝置與方法 執行單位 工研院晶片中心 產出單位 (空) 計畫名稱 WiMAX個人行動數位機關鍵技術發展四年計畫 專利發明人 廖錫卿 譚瑞敏 黃肇達 許永昱 鄭智元 核准國家 中華民國 獲證日期 (空) 證書號碼 I296719 專利期間起 (空) 專利期間訖 (空) 專利性質 發明 技術摘要-中文 一種導線與介電材料結構失效的檢測方法，可以對一晶圓、半導體元件或是電路板進行檢測，並且此導線與介電材料結構中，至少具有由導線和介電材料所形成之一第一內部電容和一第二內部電容。本發明所提供的檢測方法，包括提供一第一外部電容和一第二外部電容，並且第一外部電容和第二外部電容之間的比值，會等於第一內部電容與第二內部電容之間的比值。接著，將第一外部電容、第二外部電容、第一內部電容和第二內部電容設計為一電橋電路。然後施加一偏壓至此電橋電路，並且依據此電橋電路內之電壓，來判斷導線與介電材料之間是否有缺陷。 A method for detecting defect between a conducting wires and a dielectric material is able to detect a wafer, a semiconductor device or circuit board, and the structure formed by the wires and the dielectric material at least has a first internal capacitance and a second internal capacitance formed by the conducting wire and the dielectric material. The method comprises providing a first external capacitance and a second external capacitance and a ratio between the first external capacitance and the second external capacitance is equal to a ratio between the first internal capacitance and the second internal capacitance. Forming the first and second external capacitance as well as the first and second internal capacitance is an electric bridge circuit. Then, applying a bias voltage to the electric bridge circuit, and determining whether defect occurring between the wires and the dielectric material or not according to a voltage of the electric bridge circuit. 技術摘要-英文 (空) 聯絡人員 李露蘋 電話 03-59117812 傳真 03-5917431 電子信箱 noralp@itri.org.tw 參考網址 http://www.patentportfolio.itri.org.tw 備註 0 特殊情形 (空)
序號 4129 產出年度 97 領域別 (空) 專利名稱-中文 晶圓、半導體元件和電路板之導線與介電材料結構失效的檢測裝置與方法 執行單位 工研院晶片中心 產出單位 (空) 計畫名稱 WiMAX個人行動數位機關鍵技術發展四年計畫 專利發明人 廖錫卿 譚瑞敏 黃肇達 許永昱 鄭智元 核准國家 中華民國 獲證日期 (空) 證書號碼 I296719 專利期間起 (空) 專利期間訖 (空) 專利性質 發明 技術摘要-中文 一種導線與介電材料結構失效的檢測方法，可以對一晶圓、半導體元件或是電路板進行檢測，並且此導線與介電材料結構中，至少具有由導線和介電材料所形成之一第一內部電容和一第二內部電容。本發明所提供的檢測方法，包括提供一第一外部電容和一第二外部電容，並且第一外部電容和第二外部電容之間的比值，會等於第一內部電容與第二內部電容之間的比值。接著，將第一外部電容、第二外部電容、第一內部電容和第二內部電容設計為一電橋電路。然後施加一偏壓至此電橋電路，並且依據此電橋電路內之電壓，來判斷導線與介電材料之間是否有缺陷。 A method for detecting defect between a conducting wires and a dielectric material is able to detect a wafer, a semiconductor device or circuit board, and the structure formed by the wires and the dielectric material at least has a first internal capacitance and a second internal capacitance formed by the conducting wire and the dielectric material. The method comprises providing a first external capacitance and a second external capacitance and a ratio between the first external capacitance and the second external capacitance is equal to a ratio between the first internal capacitance and the second internal capacitance. Forming the first and second external capacitance as well as the first and second internal capacitance is an electric bridge circuit. Then, applying a bias voltage to the electric bridge circuit, and determining whether defect occurring between the wires and the dielectric material or not according to a voltage of the electric bridge circuit. 技術摘要-英文 (空) 聯絡人員 李露蘋 電話 03-59117812 傳真 03-5917431 電子信箱 noralp@itri.org.tw 參考網址 http://www.patentportfolio.itri.org.tw 備註 0 特殊情形 (空)
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根據名稱 晶圓 半導體元件和電路板之導線與介電材料結構失效的檢測裝置與方法 找到的相關資料 根據姓名 廖錫卿 譚瑞敏 黃肇達 許永昱 鄭智元 找到的相關資料 根據電話 03-59117812 找到的相關資料 (以下顯示 8 筆) (或要:直接搜尋所有 03-59117812 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,904,736 | 專利期間起: 100/03/08 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 游逸平,李政崑,莊國煜,吳宗憲
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,916,129 | 專利期間起: 100/03/29 | 專利期間訖: 118/03/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資訊中心 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 林盈孜,蕭詠今,陳右凱,李森,楊博智
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7904736 | 專利期間起: 100/03/08 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 游逸平,李政崑,莊國煜,吳宗憲
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7916129 | 專利期間起: 100/03/29 | 專利期間訖: 118/03/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資訊中心 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 林盈孜,蕭詠今,陳右凱,李森,楊博智
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,692,907 | 專利期間起: 99/04/06 | 專利期間訖: 117/03/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 資訊與通訊領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳世宏, 柯明道
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,511,904 | 專利期間起: 98/03/31 | 專利期間訖: 116/05/17 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院南分院 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 南部產業關鍵技術計畫 | 專利發明人: 胡朝彰, 蘇漢威, 沈聖智
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,683,219 | 專利期間起: 99/03/23 | 專利期間訖: 118/03/22 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院南分院 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 南部產業關鍵技術計畫 | 專利發明人: 薛茂霖, 楊浩熏, 時國誠, 蘇再添
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200710159782.3 | 專利期間起: 100/03/16 | 專利期間訖: 116/12/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 郭倫嘉,吳忠郼,沈仲九,黃士一
@ 技術司專利資料集
核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,904,736 | 專利期間起: 100/03/08 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 游逸平,李政崑,莊國煜,吳宗憲
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,916,129 | 專利期間起: 100/03/29 | 專利期間訖: 118/03/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資訊中心 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 林盈孜,蕭詠今,陳右凱,李森,楊博智
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7904736 | 專利期間起: 100/03/08 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 游逸平,李政崑,莊國煜,吳宗憲
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7916129 | 專利期間起: 100/03/29 | 專利期間訖: 118/03/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資訊中心 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 林盈孜,蕭詠今,陳右凱,李森,楊博智
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,692,907 | 專利期間起: 99/04/06 | 專利期間訖: 117/03/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 資訊與通訊領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳世宏, 柯明道
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,511,904 | 專利期間起: 98/03/31 | 專利期間訖: 116/05/17 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院南分院 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 南部產業關鍵技術計畫 | 專利發明人: 胡朝彰, 蘇漢威, 沈聖智
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,683,219 | 專利期間起: 99/03/23 | 專利期間訖: 118/03/22 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院南分院 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 南部產業關鍵技術計畫 | 專利發明人: 薛茂霖, 楊浩熏, 時國誠, 蘇再添
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200710159782.3 | 專利期間起: 100/03/16 | 專利期間訖: 116/12/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 郭倫嘉,吳忠郼,沈仲九,黃士一
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與晶圓、半導體元件和電路板之導線與介電材料結構失效的檢測裝置與方法同分類的技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第206237 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 黃繼震、唐佩忠
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第I223372 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 王偉正、黃耀明、洪建中、游欽宏、練福人、李玉麟
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第I85723 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、余思廉、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第I221589 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、蔡凱棟、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第212313 | 專利期間起: 新型 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、蔡凱棟、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第I220637 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 陳世英、趙哲誼、馬譯政、林裕涵、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第201638 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 陳世英、趙哲誼、馬譯政、林裕涵、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第D101204 | 專利期間起: 新式樣 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 趙介麟、許覺良、魯肇爛、聶一夫、查國強、石世雄、黃仁明、張文曲、曾文豪、王樹根、蔡國權、鄭博升 、康乃勤、葉世明
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第M250748 | 專利期間起: 新型 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 趙介麟、許覺良、魯肇爛 、聶一夫 、查國強、石世雄、黃仁明、張文曲、曾文豪、王樹根、蔡國權、鄭博升、康乃勤、葉世明
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第M246095 | 專利期間起: 新型 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 任國光、陳登良、吳正富、王相、陳瑞宗
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第M242322 | 專利期間起: 新型 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 黃繼震、翁仁彥、巫志鴻、陳盛基、吳文智、施俊良
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第203489 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、曾世峰、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第I220488 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、曾世峰、黃煥超、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第203964 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、徐榮祥、余思廉、黃煥超、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第M249883 | 專利期間起: 新型 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 陳盛基、彭銘熾、林鴻志、徐玉虎、許覺良、李宗穎
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第206237 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 黃繼震、唐佩忠
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第I223372 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 王偉正、黃耀明、洪建中、游欽宏、練福人、李玉麟
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第I85723 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、余思廉、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第I221589 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、蔡凱棟、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第212313 | 專利期間起: 新型 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、蔡凱棟、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第I220637 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 陳世英、趙哲誼、馬譯政、林裕涵、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第201638 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 陳世英、趙哲誼、馬譯政、林裕涵、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第D101204 | 專利期間起: 新式樣 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 趙介麟、許覺良、魯肇爛、聶一夫、查國強、石世雄、黃仁明、張文曲、曾文豪、王樹根、蔡國權、鄭博升 、康乃勤、葉世明
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第M250748 | 專利期間起: 新型 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 趙介麟、許覺良、魯肇爛 、聶一夫 、查國強、石世雄、黃仁明、張文曲、曾文豪、王樹根、蔡國權、鄭博升、康乃勤、葉世明
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第M246095 | 專利期間起: 新型 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 任國光、陳登良、吳正富、王相、陳瑞宗
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第M242322 | 專利期間起: 新型 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 黃繼震、翁仁彥、巫志鴻、陳盛基、吳文智、施俊良
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第203489 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、曾世峰、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第I220488 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、賴均在、曾世峰、黃煥超、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第203964 | 專利期間起: 發明 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 醫療系統技術開發四年計畫 | 專利發明人: 邱鸞嬌、徐榮祥、余思廉、黃煥超、高進登
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第M249883 | 專利期間起: 新型 | 執行單位: 中科院飛彈所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 新興產業精密機械系統關鍵技術研究發展三年計畫 | 專利發明人: 陳盛基、彭銘熾、林鴻志、徐玉虎、許覺良、李宗穎