奈米碳管粉體及奈米碳管場發射顯示器的製作方法
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專利名稱-中文奈米碳管粉體及奈米碳管場發射顯示器的製作方法的核准國家是中華民國, 執行單位是工研院顯示中心, 產出年度是99, 專利性質是發明, 計畫名稱是新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫, 專利發明人是詹立雄 ,江耀誠 ,江良祐 ,張悠揚 ,, 證書號碼是I322792.

序號7220
產出年度99
領域別電資通光
專利名稱-中文奈米碳管粉體及奈米碳管場發射顯示器的製作方法
執行單位工研院顯示中心
產出單位(空)
計畫名稱新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫
專利發明人詹立雄 ,江耀誠 ,江良祐 ,張悠揚 ,
核准國家中華民國
獲證日期99/04/09
證書號碼I322792
專利期間起99/04/01
專利期間訖115/01/10
專利性質發明
技術摘要-中文新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫
技術摘要-英文(空)
聯絡人員廖素珍
電話03-5916501
傳真03-5820467
電子信箱uchenliao@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)
同步更新日期2019-07-24

序號

7220

產出年度

99

領域別

電資通光

專利名稱-中文

奈米碳管粉體及奈米碳管場發射顯示器的製作方法

執行單位

工研院顯示中心

產出單位

(空)

計畫名稱

新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫

專利發明人

詹立雄 ,江耀誠 ,江良祐 ,張悠揚 ,

核准國家

中華民國

獲證日期

99/04/09

證書號碼

I322792

專利期間起

99/04/01

專利期間訖

115/01/10

專利性質

發明

技術摘要-中文

新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

廖素珍

電話

03-5916501

傳真

03-5820467

電子信箱

uchenliao@itri.org.tw

參考網址

(空)

備註

(空)

特殊情形

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同步更新日期

2019-07-24

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三極場發射顯示器

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 林炳南 ,李正中 ,張悠揚 ,林偉義 , | 證書號碼: 7,683,531

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

可撓式畫素陣列基板及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 黃志仁 ,張榮芳 ,羅毅榮 ,陳宇宏 , | 證書號碼: I321241

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

有機發光二極管整合彩色濾光片接觸電阻的結構及方法

核准國家: 中國大陸 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 劉育榮 ,黃怡碩 ,葉永輝 , | 證書號碼: ZL200610067443.8

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

列印資料處理裝置及其方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 張家銘 ,鄭兆凱 ,林智堅 ,邱至軒 , | 證書號碼: 7,637,578

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

步階式充放電之低功率液晶顯示器的驅動電路及其驅動方法

核准國家: 日本 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 陳尚立,易建宇, | 證書號碼: 4702725

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

半反射半穿透液晶顯示器及其製造方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 陳中豪,廖奇璋,沙益安, | 證書號碼: 8,089,595

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

彩色膽固醇液晶顯示器裝置以及其驅動方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 李達為,胥智文,沙益安,張郁培, | 證書號碼: I368077

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

電子元件裝置及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 廖貞慧,詹立雄,彭智平,賴詩文, | 證書號碼: I370933

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

三極場發射顯示器

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 林炳南 ,李正中 ,張悠揚 ,林偉義 , | 證書號碼: 7,683,531

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

可撓式畫素陣列基板及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 黃志仁 ,張榮芳 ,羅毅榮 ,陳宇宏 , | 證書號碼: I321241

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

有機發光二極管整合彩色濾光片接觸電阻的結構及方法

核准國家: 中國大陸 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 劉育榮 ,黃怡碩 ,葉永輝 , | 證書號碼: ZL200610067443.8

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

列印資料處理裝置及其方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 張家銘 ,鄭兆凱 ,林智堅 ,邱至軒 , | 證書號碼: 7,637,578

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

步階式充放電之低功率液晶顯示器的驅動電路及其驅動方法

核准國家: 日本 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 陳尚立,易建宇, | 證書號碼: 4702725

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半反射半穿透液晶顯示器及其製造方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 陳中豪,廖奇璋,沙益安, | 證書號碼: 8,089,595

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彩色膽固醇液晶顯示器裝置以及其驅動方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 李達為,胥智文,沙益安,張郁培, | 證書號碼: I368077

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電子元件裝置及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 廖貞慧,詹立雄,彭智平,賴詩文, | 證書號碼: I370933

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與奈米碳管粉體及奈米碳管場發射顯示器的製作方法同分類的經濟部產業技術司–專利資料集

光源產生裝置及方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮 | 證書號碼: 200164

相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮, 高清芬, 陳譽元 | 證書號碼: 206753

新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘, 陳燦林, 陳譽元 | 證書號碼: 206450

反射尺讀頭裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 高清芬, 陳燦林, 陳譽元 | 證書號碼: 201496

物體表面三維形貌量測方法和系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳, 田立芬 | 證書號碼: 200161

利用共軛光路量測二維位移量之方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱, 高清芬, 李世光 | 證書號碼: 6,744,520

紅外光轉換可見光之顯微影像裝置

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉, 林耀明, 葉迎春 | 證書號碼: 6,687,051

可調光徑之光學捕捉裙

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉, 羅偕益 | 證書號碼: 6,667,838

利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育, 施學兢 | 證書號碼: 194233

全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 姚 鵬, 陳志光 | 證書號碼: 200261

控制奈米碳管長度之方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名, 施能謙, 陳燦林 | 證書號碼: 200165

平面定位機構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 張中柱 | 證書號碼: 201505

即時紅外化學影像光譜裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌, 王浩偉 | 證書號碼: 203435

光譜偏移式奈米近接裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉 | 證書號碼: 200276

光學用高度調整裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森 | 證書號碼: 201467

光源產生裝置及方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮 | 證書號碼: 200164

相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮, 高清芬, 陳譽元 | 證書號碼: 206753

新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘, 陳燦林, 陳譽元 | 證書號碼: 206450

反射尺讀頭裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 高清芬, 陳燦林, 陳譽元 | 證書號碼: 201496

物體表面三維形貌量測方法和系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳, 田立芬 | 證書號碼: 200161

利用共軛光路量測二維位移量之方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱, 高清芬, 李世光 | 證書號碼: 6,744,520

紅外光轉換可見光之顯微影像裝置

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉, 林耀明, 葉迎春 | 證書號碼: 6,687,051

可調光徑之光學捕捉裙

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉, 羅偕益 | 證書號碼: 6,667,838

利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育, 施學兢 | 證書號碼: 194233

全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 姚 鵬, 陳志光 | 證書號碼: 200261

控制奈米碳管長度之方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名, 施能謙, 陳燦林 | 證書號碼: 200165

平面定位機構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 張中柱 | 證書號碼: 201505

即時紅外化學影像光譜裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌, 王浩偉 | 證書號碼: 203435

光譜偏移式奈米近接裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉 | 證書號碼: 200276

光學用高度調整裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森 | 證書號碼: 201467

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