Auto-focusing diagnostic equipment
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專利名稱-中文Auto-focusing diagnostic equipment的核准國家是美國, 證書號碼是8,894,206, 專利期間起是103/11/25, 專利期間訖是121/12/26, 專利性質是發明, 執行單位是工研院生醫所, 產出年度是104, 計畫名稱是影像導引診療系統關鍵技術開發計畫, 專利發明人是李源欽 ,蔡榮源 ,張啟伸 ,黃戴廷 ,陳宏岳 ,呂宏洲.

序號15354
產出年度104
領域別智慧科技
專利名稱-中文Auto-focusing diagnostic equipment
執行單位工研院生醫所
產出單位工研院生醫所
計畫名稱影像導引診療系統關鍵技術開發計畫
專利發明人李源欽 | 蔡榮源 | 張啟伸 | 黃戴廷 | 陳宏岳 | 呂宏洲
核准國家美國
獲證日期103/11/25
證書號碼8,894,206
專利期間起103/11/25
專利期間訖121/12/26
專利性質發明
技術摘要-中文一種自動對焦之診斷設備,包括影像偵測裝置、第一掃描裝置、移動式光學透鏡組件、聚焦偵測裝置及第一分光元件。影像偵測裝置包括提供第一入射光之第一光源及第一光偵測器。第一入射光入射至待測物後產生為第一訊號光,第一光偵測器接收第一訊號光。第一掃描裝置調整第一入射光路徑以掃描待測物。聚焦偵測裝置包括偵測待測物反射之第二訊號光的第二光偵測器、聚焦誤差產生元件及控制單元。移動式光學透鏡組件具透鏡及承載透鏡之位移台。控制單元電性連接第二光偵測器及位移台以依據第二訊號光控制位移台移動並調整第一入射光的聚焦位置。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員李源欽
電話03-5918342
傳真03-5827981
電子信箱Sears_Lee@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)

序號

15354

產出年度

104

領域別

智慧科技

專利名稱-中文

Auto-focusing diagnostic equipment

執行單位

工研院生醫所

產出單位

工研院生醫所

計畫名稱

影像導引診療系統關鍵技術開發計畫

專利發明人

李源欽 | 蔡榮源 | 張啟伸 | 黃戴廷 | 陳宏岳 | 呂宏洲

核准國家

美國

獲證日期

103/11/25

證書號碼

8,894,206

專利期間起

103/11/25

專利期間訖

121/12/26

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種自動對焦之診斷設備,包括影像偵測裝置、第一掃描裝置、移動式光學透鏡組件、聚焦偵測裝置及第一分光元件。影像偵測裝置包括提供第一入射光之第一光源及第一光偵測器。第一入射光入射至待測物後產生為第一訊號光,第一光偵測器接收第一訊號光。第一掃描裝置調整第一入射光路徑以掃描待測物。聚焦偵測裝置包括偵測待測物反射之第二訊號光的第二光偵測器、聚焦誤差產生元件及控制單元。移動式光學透鏡組件具透鏡及承載透鏡之位移台。控制單元電性連接第二光偵測器及位移台以依據第二訊號光控制位移台移動並調整第一入射光的聚焦位置。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李源欽

電話

03-5918342

傳真

03-5827981

電子信箱

Sears_Lee@itri.org.tw

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Auto-focusing diagnostic equipment

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具有自動對焦功能的診斷設備

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL201210411541.4 | 專利期間起: 104/03/11 | 專利期間訖: 121/10/23 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 影像導引診療系統關鍵技術開發計畫 | 專利發明人: 李源欽 ,蔡榮源 ,張啟伸 ,黃戴廷 ,陳宏岳 ,呂宏洲

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具有自動對焦功能之診斷設備

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I453523 | 專利期間起: 120/12/28 | 專利期間訖: 一種自動對焦之診斷設備,包括影像偵測裝置、第一掃描裝置、移動式光學透鏡組件、聚焦偵測裝置及第一分光元件。影像偵測裝置包括提供第一入射光之第一光源及第一光偵測器。第一入射光入射至待測物後產生為第一訊號光... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 醫療電子關鍵技術開發計畫 | 專利發明人: 李源欽 ,蔡榮源 ,張啟伸 ,黃戴廷 ,陳宏岳 ,呂宏洲

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核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198718 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 邱景宏, 顏凱翔, 王欽宏, 陳振頤, 房佩怡

形成頂閘極型薄膜電晶體元件的方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198717 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳志強, 莊景桑, 張鈞傑

自組裝奈米導電凸塊及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200159 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 汪若蕙, 陳裕華

貼合材料層於透明基板上的方法以及形成單晶矽層於透明基板的方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200277 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張志祥, 李啟聖, 黃順發, 張榮芳, 許財源, 胡文智, 王亮棠

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