定子模組及其磁力產生構件
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文定子模組及其磁力產生構件的核准國家是中華民國, 證書號碼是I488409, 專利期間起是104/06/11, 專利期間訖是121/11/20, 專利性質是發明, 執行單位是工研院院本部, 產出年度是104, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是何世江 ,邱國麟 ,丁家敏 ,張正敏 ,林振志 ,黃憲章 ,吳昱勳.

序號	15815
產出年度	104
領域別	服務創新
專利名稱-中文	定子模組及其磁力產生構件
執行單位	工研院院本部
產出單位	工研院機械所
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	何世江 \| 邱國麟 \| 丁家敏 \| 張正敏 \| 林振志 \| 黃憲章 \| 吳昱勳
核准國家	中華民國
獲證日期	104/07/16
證書號碼	I488409
專利期間起	104/06/11
專利期間訖	121/11/20
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種定子模組及其磁力產生構件，磁力產生構件包含一導磁體及一導電管體。導電管體圈繞於該導磁體，導電管體內具有一通道，通道具有一出口及一入口，且導電管體具有一電流輸入部及一電流輸出部。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	李露蘋
電話	03-5917812
傳真	03-5917431
電子信箱	noralp@itri.org.tw
參考網址	(空)
備註	(空)
特殊情形	(空)

序號

15815

產出年度

104

領域別

服務創新

專利名稱-中文

定子模組及其磁力產生構件

執行單位

工研院院本部

產出單位

工研院機械所

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

何世江 | 邱國麟 | 丁家敏 | 張正敏 | 林振志 | 黃憲章 | 吳昱勳

核准國家

中華民國

獲證日期

104/07/16

證書號碼

I488409

專利期間起

104/06/11

專利期間訖

121/11/20

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種定子模組及其磁力產生構件，磁力產生構件包含一導磁體及一導電管體。導電管體圈繞於該導磁體，導電管體內具有一通道，通道具有一出口及一入口，且導電管體具有一電流輸入部及一電流輸出部。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李露蘋

電話

03-5917812

傳真

03-5917431

電子信箱

noralp@itri.org.tw

參考網址

(空)

備註

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特殊情形

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揚聲器單體結構	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200810211084.8 \| 專利期間起: 102/01/23 \| 專利期間訖: 117/08/19 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 陳明道 \| 劉昌和 @ 技術司專利資料集
晶圓級模封接合結構及其製造方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8,384,215 \| 專利期間起: 102/02/26 \| 專利期間訖: 120/06/30 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 陸蘇財 \| 莊敬業 \| 林育民 @ 技術司專利資料集
感測裝置及其掃描驅動方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8,416,213 \| 專利期間起: 102/04/09 \| 專利期間訖: 120/03/17 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院南分院 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 沈煜棠 \| 葉紹興 @ 技術司專利資料集
揚聲器單體結構	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200710184913.3 \| 專利期間起: 102/03/20 \| 專利期間訖: 116/10/28 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 劉昌和 \| 陳明道 @ 技術司專利資料集
平面揚聲器單體與揚聲器裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200910202828.4 \| 專利期間起: 102/04/03 \| 專利期間訖: 118/05/25 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 劉昌和 \| 陳明道 @ 技術司專利資料集
平面揚聲器單體與揚聲器裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8,391,520 \| 專利期間起: 102/03/05 \| 專利期間訖: 120/12/15 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 劉昌和 \| 陳明道 @ 技術司專利資料集
照明裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I402456 \| 專利期間起: 102/07/21 \| 專利期間訖: 119/03/16 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 黃承揚 \| 許詔開 @ 技術司專利資料集
Amphiphilic block copolymers and nanoparticles comprising the same	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8,940,333 \| 專利期間起: 104/01/27 \| 專利期間訖: 116/05/11 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院生醫所 \| 產出年度: 104 \| 計畫名稱: 智慧標靶藥物傳輸技術及應用開發計畫 \| 專利發明人: 謝明發 \| 張學曾 \| 陳進富 \| 張原嘉 \| 甘霈 \| 林才祐 @ 技術司專利資料集

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光源產生裝置及方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200164 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林勝雄 \| 江敏華 \| 郭葉琮
相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206753 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 楊景榮 \| 高清芬 \| 陳譽元
新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206450 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 葉清銘 \| 陳燦林 \| 陳譽元
反射尺讀頭裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 201496 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳 \| 高清芬 \| 陳燦林 \| 陳譽元
物體表面三維形貌量測方法和系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200161 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 宋新岳 \| 田立芬
利用共軛光路量測二維位移量之方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,744,520 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 張中柱 \| 高清芬 \| 李世光
紅外光轉換可見光之顯微影像裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,687,051 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 王浩偉 \| 林耀明 \| 葉迎春
可調光徑之光學捕捉裙	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,667,838 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林耀明 \| 王浩偉 \| 羅偕益
利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 194233 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 李朱育 \| 施學兢
全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200261 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 姚鵬 \| 陳志光
控制奈米碳管長度之方法與裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200165 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 戴鴻名 \| 施能謙 \| 陳燦林
平面定位機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 201505 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林慶芳 \| 張中柱
即時紅外化學影像光譜裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 203435 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 李耀昌 \| 王浩偉
光譜偏移式奈米近接裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200276 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林耀明 \| 王浩偉
光學用高度調整裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 201467 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 石宇森

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領域別

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執行單位

產出單位

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專利發明人

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證書號碼

專利期間起

專利期間訖

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