光學量測系統及方法
- 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文光學量測系統及方法的核准國家是中華民國, 執行單位是金屬中心, 產出年度是104, 專利性質是發明, 計畫名稱是金屬中心產業技術環境建構計畫, 專利發明人是侯博勳、林原誌, 證書號碼是I491845.

序號	16839
產出年度	104
領域別	製造精進
專利名稱-中文	光學量測系統及方法
執行單位	金屬中心
產出單位	金屬中心
計畫名稱	金屬中心產業技術環境建構計畫
專利發明人	侯博勳、林原誌
核准國家	中華民國
獲證日期	104/07/11
證書號碼	I491845
專利期間起	104/07/11
專利期間訖	122/12/08
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種可進行微小尺寸垂直度之量測方法
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	侯博勳
電話	07-3513121
傳真	07-3533581
電子信箱	hhou@mail.mirdc.org.tw
參考網址	http://www.mirdc.org.tw
備註	(空)
特殊情形	(空)
同步更新日期	2019-07-24

序號

16839

產出年度

104

領域別

製造精進

專利名稱-中文

光學量測系統及方法

執行單位

金屬中心

產出單位

金屬中心

計畫名稱

金屬中心產業技術環境建構計畫

專利發明人

侯博勳、林原誌

核准國家

中華民國

獲證日期

104/07/11

證書號碼

I491845

專利期間起

104/07/11

專利期間訖

122/12/08

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種可進行微小尺寸垂直度之量測方法

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

侯博勳

電話

07-3513121

傳真

07-3533581

電子信箱

hhou@mail.mirdc.org.tw

參考網址

http://www.mirdc.org.tw

備註

(空)

特殊情形

(空)

同步更新日期

2019-07-24

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天線裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 105 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 數位口腔復形與快速取像系統暨醫材創新服務平台計畫 \| 專利發明人: 林原誌 \| 證書號碼: I531118 @ 經濟部產業技術司–專利資料集

天線裝置

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氣體擴散室	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 104 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 金屬中心創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 吳春森 \| 證書號碼: 101146066 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
METHOD FOR MANUFACTURING A GRAPHENE LAYER	核准國家: 美國 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 105 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 金屬中心創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 邱松茂 \| 證書號碼: US9,359,210B2 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
避障自走車之感測架構	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 99 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 軟性電子設備及模組技術開發三年計畫 \| 專利發明人: 薛博文.葉育杰.何書豪.楊舜欽 \| 證書號碼: I327119 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
具阻尼限速功能之助行器	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 100 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 金屬中心創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 崔海平、林大裕、紀青迪、邱冠智 \| 證書號碼: I344362 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
放電加工盤罩及具有放電加工盤罩的導眼模裝置裝置	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 100 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 金屬中心產業技術環境建構計畫 \| 專利發明人: 呂育廷、楊忠義、莊殷、許富銓 \| 證書號碼: ZL200810185135.4 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
超精密壓電定位平台	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 101 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 金屬中心產業技術環境建構計畫 \| 專利發明人: 洪國凱、游源成、劉冠志、黃加助 \| 證書號碼: ZL200910249593.4 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
一種人體植入物及其製造方法	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 高值牙科植入物創新研發與醫療器材產業服務四年計畫 \| 專利發明人: 邱松茂 \| 證書號碼: ZL200910249594.9 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
水解纖維素系統及方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 金屬中心 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 金屬中心創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 鄧育庭、郭子禎、洪俊宏、 \| 證書號碼: I400248 @ 經濟部產業技術司–專利資料集

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動態減震系統	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 楊志軒, 謝政揚, 黃振源, 張啟伸 \| 證書號碼: 206772
聲光布拉格衍射式多光束光學讀寫頭	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 朱良謙, 張志吉 \| 證書號碼: ZL00108097.0
可調整的鏡群裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 涂銀發, 姜皇成, 陳志文, 張耿智 \| 證書號碼: 195758
雙軸向調變影像放大倍率的形狀測定裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 林明慧, 劉通發 \| 證書號碼: 201010
環場影像接圖器及其方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 謝君偉, 江政欽, 魏德樂 \| 證書號碼: 6,798,923
取紙傳動模組	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 新型 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 林智堅, 陳英棋, 鄭兆凱, 張惠珍 \| 證書號碼: 215325
噴墨印頭的封裝方法	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 藍元亮, 吳義勇, 邱紹玲, 劉克明, 鄭淑娟 \| 證書號碼: ZL98106298.9
噴墨印頭結構	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 吳義勇, 胡紀平, 賴怡絢, 莊育洪, 王介文 \| 證書號碼: ZL98116196.0
墨水通道設計	核准國家: 德國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 吳義勇, 胡紀平, 賴怡絢, 莊育洪, 王介文 \| 證書號碼: 19914700
墨水通道製造方法	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 王介文, 吳義勇, 胡鴻烈, 李明玲 \| 證書號碼: ZL98115179.5
噴墨印頭晶片的單石製造方法及噴墨印頭	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 胡紀平, 吳義勇, 藍元亮, 賴怡絢, 王惠芳 \| 證書號碼: ZL98118397.2
噴墨印頭的結構與製作方法	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 李憶興, 吳義勇, 鄭陳煜, 邱紹玲, 徐享楨 \| 證書號碼: ZL98124126.3
一種噴墨頭墨水儲存裝置及其供給方法	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 許成偉, 蘇士豪, 王介文, 侯怡仲, 張智超 \| 證書號碼: ZL00100896.X
可精確測量加熱元件溫度的噴墨打印頭及其測量方法	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 張智超, 王介文, 蘇士豪 \| 證書號碼: ZL00100897.8
精確量測噴墨印頭加熱元件溫度的方法和結構	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院光電所 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 下世代光資訊系統技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 張智超, 王介文, 蘇士豪 \| 證書號碼: 189849

光學量測系統及方法 - 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

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產出年度

領域別

專利名稱-中文

執行單位

產出單位

計畫名稱

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核准國家

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證書號碼

專利期間起

專利期間訖

專利性質

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