SOI與鰭式之金氧半場效電晶體可靠度物理機制分析
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論文名稱SOI與鰭式之金氧半場效電晶體可靠度物理機制分析的作者是劉冠汝, 指導教授是張鼎張, 學位類別是博士, 畢業學年度是104, 論文名稱(外文)是Physical Mechanism and Reliability Analysis on Advanced SOI MOSFETs and FinFETs, 系所名稱是物理學系研究所, 學校名稱是國立中山大學.
論文名稱 | SOI與鰭式之金氧半場效電晶體可靠度物理機制分析 |
論文名稱(外文) | Physical Mechanism and Reliability Analysis on Advanced SOI MOSFETs and FinFETs |
學校名稱 | 國立中山大學 |
系所名稱 | 物理學系研究所 |
畢業學年度 | 104 |
學位類別 | 博士 |
作者 | 劉冠汝 |
指導教授 | 張鼎張 |
博碩士論文網址 | https://hdl.handle.net/11296/cq2b52 |
論文名稱SOI與鰭式之金氧半場效電晶體可靠度物理機制分析 |
論文名稱(外文)Physical Mechanism and Reliability Analysis on Advanced SOI MOSFETs and FinFETs |
學校名稱國立中山大學 |
系所名稱物理學系研究所 |
畢業學年度104 |
學位類別博士 |
作者劉冠汝 |
指導教授張鼎張 |
博碩士論文網址https://hdl.handle.net/11296/cq2b52 |