利用共軛光路量測二維位移量之方法
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文利用共軛光路量測二維位移量之方法的核准國家是美國, 證書號碼是6744520, 專利性質是發明, 執行單位是工研院量測中心, 產出年度是93, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是張中柱, 高清芬, 李世光.

序號	598
產出年度	93
領域別	(空)
專利名稱-中文	利用共軛光路量測二維位移量之方法
執行單位	工研院量測中心
產出單位	(空)
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	張中柱 \| 高清芬 \| 李世光
核准國家	美國
獲證日期	(空)
證書號碼	6744520
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	本發明係提供一種共軛光路式二維位移量測方法，該量測方法係藉由一光源，產生一第一次入射光，入射於一繞射單元，形成至少兩道第一次繞射光，該第一次繞射光經由波前重建光學組件 ( wavefront reconstruction optics) 之作用，形成循原光徑折回，入射於該繞射單元之第二次入射光，該第二次入射光經該繞射單元反射後，形成至少兩道第二次繞射光，該第二次繞射光經由干涉光學組件之作用，形成至少兩道干涉光，將該干涉光經一般光干涉解相技術處理後，即可得到二維運動中兩個線性獨立方向上的位移量。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	金娟如
電話	03-5743816
傳真	03-5720621
電子信箱	judyking@itri.org.tw
參考網址	http://www.itri.org.tw
備註	原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸
特殊情形	(空)

序號

598

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

利用共軛光路量測二維位移量之方法

執行單位

工研院量測中心

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

張中柱 | 高清芬 | 李世光

核准國家

美國

獲證日期

(空)

證書號碼

6744520

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

本發明係提供一種共軛光路式二維位移量測方法，該量測方法係藉由一光源，產生一第一次入射光，入射於一繞射單元，形成至少兩道第一次繞射光，該第一次繞射光經由波前重建光學組件 ( wavefront reconstruction optics) 之作用，形成循原光徑折回，入射於該繞射單元之第二次入射光，該第二次入射光經該繞射單元反射後，形成至少兩道第二次繞射光，該第二次繞射光經由干涉光學組件之作用，形成至少兩道干涉光，將該干涉光經一般光干涉解相技術處理後，即可得到二維運動中兩個線性獨立方向上的位移量。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

金娟如

電話

03-5743816

傳真

03-5720621

電子信箱

judyking@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸

特殊情形

(空)

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利用共軛光路量測二維位移量之方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,744,520 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 張中柱 \| 高清芬 \| 李世光 @ 技術司專利資料集
利用共軛光路量測二維位移量之方法	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL02100115.4 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 高清芬 \| 張中柱 \| 李世光 @ 技術司專利資料集

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高密度通道光譜影像量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)物方視野: 線型 > 6 mm(2) 物方空間解析度: < 250 mm (3) 光譜解析度: < 3 nm (4) 單次量測光譜範圍(free spectral range): 400 nm \| 潛力預估: 台灣的LED設備產能相當充足，但製程良率偏低，且檢測速度遠不及產出率，需求快速光譜檢測新一代技術，本技術可直接針對此需求提供服務。 @ 技術司可移轉技術資料集
高密度光譜分析技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)掃描範圍:300nm~900nm/1250nm~1650nm \| 潛力預估: 可取代目前國外高價產品，可創造產值5億 @ 技術司可移轉技術資料集
垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 \| 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。 @ 技術司可移轉技術資料集
3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術	執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 領域: \| 技術規格: (1)空間解析度：7.7 μm。(2)深度範圍：< 200μm。 \| 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集
三維形貌量測探頭技術	執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 97 \| 產出單位: \| 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 \| 領域: \| 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 \| 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。 @ 技術司可移轉技術資料集
電力控制電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 214743 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 陳盛仁 \| 楊景榮 \| 林俊宏 \| 陳燦林 @ 技術司專利資料集
提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184318 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮 \| 黃俊雄 @ 技術司專利資料集

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以多協定標籤交換技術支援服務品質於通用封包無線電服務之方法及系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I223945 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 無線通訊技術發展五年計畫 \| 專利發明人: 王健欣 \| 楊人順 \| 曾建超 \| 劉建志 \| 王瑞堂
彈性而高效能的封包分類方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,778,984 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 呂國正 \| 趙士銘 \| 袁國華
一種視訊轉換編碼方法及裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184458 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 俞傑男 \| 孫明廷 \| 林嘉文 \| 王文豪
一種視訊轉換編碼方法及裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,650,707 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 俞傑男 \| 孫明廷 \| 林嘉文 \| 王文豪
一種採用動態子視窗捨棄轉換編碼方法的視訊轉換編碼器及視訊通訊系統	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,711,212 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 林嘉文
資料傳輸控制的系統與方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 205016 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 吳垂蒼 \| 徐偉倫 \| 吳承菘 \| 黃海陽
藉由網頁文件轉換與分配形成網站伺服叢集的方法與結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184549 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 吳文哲 \| 蔡駿逸 \| 周慶華 \| 黃海陽
具有數位放影機功能之視訊資料流傳輸方法與系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 205017 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 林嘉文 \| 孫明廷 \| 徐宏昇
具有數位放影機功能之視訊資料流傳輸方法與系統	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,738,980 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 林嘉文 \| 孫明廷 \| 徐宏昇
針對範圍查尋且用來查尋資料符合設定規則的方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 197334 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 袁國華 \| 陳文智
低複雜度之壓縮域視訊轉換編碼器與方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I221075 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 林嘉文 \| 蔡序開 \| 羅嘉智
提供多路徑回聲消除之方法及系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 220603 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 吳政勳 \| 吳安宇
以監測下載頻寬來管制網路流量之系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 197235 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 江家齊 \| 林于勝 \| 吳文哲
自動調整增益／頻寬迴路濾波器及其中之方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,696,886 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 柯俊男 \| 黃正壹 \| 范志鵬
使用後段脈衝處理濾波器技術之擁有快速收斂速率之平行化處理架構可調適決策回饋等化器	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,697,424 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電通所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 寬頻有線通訊系統技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 楊孟達 \| 吳安宇

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