調制光譜與顯微時間解析光激螢光量測技術應用於光電半導體材料與元件之光學特性研究
- 國家科學及技術委員會光電工程學門專題計畫補助清冊 @ 國家科學及技術委員會

計畫中文名稱調制光譜與顯微時間解析光激螢光量測技術應用於光電半導體材料與元件之光學特性研究的機關名稱是國立臺灣科技大學應用科技研究所, 學門是E15-光電工程, 年度是112, 執行期限(起)是1120801, 執行期限(迄)是1130731.

年度	112
學門	E15-光電工程
計畫中文名稱	調制光譜與顯微時間解析光激螢光量測技術應用於光電半導體材料與元件之光學特性研究
計畫英文名稱	Evaluation of functional performance in optoelectronic semiconductor materials and devices using modulation spectroscopy and time-resolved photoluminescence related optical techniques
機關名稱	國立臺灣科技大學應用科技研究所
執行期限(起)	1120801
執行期限(迄)	1130731

年度

112

學門

E15-光電工程

計畫中文名稱

調制光譜與顯微時間解析光激螢光量測技術應用於光電半導體材料與元件之光學特性研究

計畫英文名稱

Evaluation of functional performance in optoelectronic semiconductor materials and devices using modulation spectroscopy and time-resolved photoluminescence related optical techniques

機關名稱

國立臺灣科技大學應用科技研究所

執行期限(起)

1120801

執行期限(迄)

1130731

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