三明治加勁板快速成形製程
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文三明治加勁板快速成形製程的核准國家是中華民國, 證書號碼是206564, 專利性質是發明, 執行單位是中科院航空所, 產出年度是93, 計畫名稱是飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫, 專利發明人是吳國維,柯正忠,謝四維.

序號84
產出年度93
領域別(空)
專利名稱-中文三明治加勁板快速成形製程
執行單位中科院航空所
產出單位(空)
計畫名稱飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫
專利發明人吳國維 | 柯正忠 | 謝四維
核准國家中華民國
獲證日期(空)
證書號碼206564
專利期間起(空)
專利期間訖(空)
專利性質發明
技術摘要-中文三明治構材通常為上、下面板及中間層芯材(或加勁板材)組合而成,其特性為高剛性、高強度,且重量輕,普遍運用於民生用品上,如隔間牆板、桌面、門板、高架地板、隔音板、隔熱板等,亦可用於機艙、船艙地板,可謂應用層面甚廣。傳統三明治構材之製作,均需事先將中間芯材裁切完成,再與上、下面板逐步黏合而成,膠合面積大,所需裝備較多(包括上膠、舖疊等),製造之空間需求亦較大。本案利用多片式薄板片分別分段局部黏合上、下面板,再用吸盤吸住上、下面板對拉,使中間薄板片折彎站立並定型,即成三明治加勁板材,如有更高強度需求,於直立後之薄板片間灌入發泡材,便可產生功能優越之三明治板。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員劉新化
電話04-22846508
傳真(空)
電子信箱(空)
參考網址(空)
備註原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸
特殊情形(空)

序號

84

產出年度

93

領域別

(空)

專利名稱-中文

三明治加勁板快速成形製程

執行單位

中科院航空所

產出單位

(空)

計畫名稱

飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫

專利發明人

吳國維 | 柯正忠 | 謝四維

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

206564

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

三明治構材通常為上、下面板及中間層芯材(或加勁板材)組合而成,其特性為高剛性、高強度,且重量輕,普遍運用於民生用品上,如隔間牆板、桌面、門板、高架地板、隔音板、隔熱板等,亦可用於機艙、船艙地板,可謂應用層面甚廣。傳統三明治構材之製作,均需事先將中間芯材裁切完成,再與上、下面板逐步黏合而成,膠合面積大,所需裝備較多(包括上膠、舖疊等),製造之空間需求亦較大。本案利用多片式薄板片分別分段局部黏合上、下面板,再用吸盤吸住上、下面板對拉,使中間薄板片折彎站立並定型,即成三明治加勁板材,如有更高強度需求,於直立後之薄板片間灌入發泡材,便可產生功能優越之三明治板。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

劉新化

電話

04-22846508

傳真

(空)

電子信箱

(空)

參考網址

(空)

備註

原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸

特殊情形

(空)

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新北市板橋區板城路816號十五樓

總價元: 25850000 | 房地(土地+建物)+車位 | 建物移轉總面積平方公尺: 136.37 | 土地移轉總面積平方公尺: 18.46 | 建築完成年月: 1130719 | 都市土地使用分區: | 建物型態: 住宅大樓(11層含以上有電梯) | 主要用途: 住家用 | 交易年月日: 1130502

@ 不動產實價登錄資訊-買賣案件

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樹脂真空吸入加壓成型方法

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快速真空加壓成型模具

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樹脂真空吸入加壓成型方法

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快速真空加壓成型模具

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 217740 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 中科院航空所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 飛機系統關鍵技術整合應用三年計畫 | 專利發明人: 吳國維 | 劉翰錡 | 謝四維

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反射尺讀頭裝置

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物體表面三維形貌量測方法和系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬

利用共軛光路量測二維位移量之方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光

紅外光轉換可見光之顯微影像裝置

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,687,051 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉 | 林耀明 | 葉迎春

可調光徑之光學捕捉裙

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,667,838 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 王浩偉 | 羅偕益

利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 194233 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育 | 施學兢

全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200261 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 姚 鵬 | 陳志光

控制奈米碳管長度之方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200165 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名 | 施能謙 | 陳燦林

平面定位機構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201505 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 張中柱

即時紅外化學影像光譜裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 203435 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌 | 王浩偉

光譜偏移式奈米近接裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200276 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 王浩偉

光學用高度調整裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201467 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森

位移微擾裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201468 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 陳志光 | 石宇森

電磁場感測元件及其裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201837 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 黃卯生 | 薛文崇 | 曾文仁 | 馮勁敏 | 梁文烈

二維位移量之量測裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I224351 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 高清芬 | 張中柱 | 林慶芳

反射尺讀頭裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元

物體表面三維形貌量測方法和系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬

利用共軛光路量測二維位移量之方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光

紅外光轉換可見光之顯微影像裝置

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,687,051 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉 | 林耀明 | 葉迎春

可調光徑之光學捕捉裙

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,667,838 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 王浩偉 | 羅偕益

利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 194233 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育 | 施學兢

全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200261 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 姚 鵬 | 陳志光

控制奈米碳管長度之方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200165 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名 | 施能謙 | 陳燦林

平面定位機構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201505 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 張中柱

即時紅外化學影像光譜裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 203435 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌 | 王浩偉

光譜偏移式奈米近接裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200276 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 王浩偉

光學用高度調整裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201467 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森

位移微擾裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201468 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 陳志光 | 石宇森

電磁場感測元件及其裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201837 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 黃卯生 | 薛文崇 | 曾文仁 | 馮勁敏 | 梁文烈

二維位移量之量測裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I224351 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 高清芬 | 張中柱 | 林慶芳

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