專利名稱-中文可程控電容式微泵浦的核准國家是中華民國, 證書號碼是195367, 專利性質是發明, 執行單位是中科院材料所, 產出年度是93, 計畫名稱是功能性微細結構四年計畫, 專利發明人是楊聲震、吳憲明、郭飛虎、陳順林、楊貴朱、王政揚.
序號 | 335 |
產出年度 | 93 |
領域別 | (空) |
專利名稱-中文 | 可程控電容式微泵浦 |
執行單位 | 中科院材料所 |
產出單位 | (空) |
計畫名稱 | 功能性微細結構四年計畫 |
專利發明人 | 楊聲震 | 吳憲明 | 郭飛虎 | 陳順林 | 楊貴朱 | 王政揚 |
核准國家 | 中華民國 |
獲證日期 | (空) |
證書號碼 | 195367 |
專利期間起 | (空) |
專利期間訖 | (空) |
專利性質 | 發明 |
技術摘要-中文 | 本創作『可程控電容式微泵浦系統』,為一新的創作發明,與現有的微泵浦驅動方法以及結構裝置均不相同。本創作微泵浦不需具備傳統微泵浦中的止流閥門或噴嘴的設計,推動流體的方法也有別於傳統式之微泵浦,並具備可程式化電控推動流體流向及流量控制的功能,微泵浦流體腔壁的結構亦極為單純,使得本創作具備製程簡單、可靠度高、良率高、成本低及適合量產等優點。 |
技術摘要-英文 | (空) |
聯絡人員 | 陳順林 |
電話 | 03-4712201轉357098 |
傳真 | (空) |
電子信箱 | (空) |
參考網址 | (空) |
備註 | 原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸 |
特殊情形 | (空) |
序號335 |
產出年度93 |
領域別(空) |
專利名稱-中文可程控電容式微泵浦 |
執行單位中科院材料所 |
產出單位(空) |
計畫名稱功能性微細結構四年計畫 |
專利發明人楊聲震 | 吳憲明 | 郭飛虎 | 陳順林 | 楊貴朱 | 王政揚 |
核准國家中華民國 |
獲證日期(空) |
證書號碼195367 |
專利期間起(空) |
專利期間訖(空) |
專利性質發明 |
技術摘要-中文本創作『可程控電容式微泵浦系統』,為一新的創作發明,與現有的微泵浦驅動方法以及結構裝置均不相同。本創作微泵浦不需具備傳統微泵浦中的止流閥門或噴嘴的設計,推動流體的方法也有別於傳統式之微泵浦,並具備可程式化電控推動流體流向及流量控制的功能,微泵浦流體腔壁的結構亦極為單純,使得本創作具備製程簡單、可靠度高、良率高、成本低及適合量產等優點。 |
技術摘要-英文(空) |
聯絡人員陳順林 |
電話03-4712201轉357098 |
傳真(空) |
電子信箱(空) |
參考網址(空) |
備註原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸 |
特殊情形(空) |
| 災民收容所編號: SN505-0002 | 彰化縣 | 鹿港鎮 | 草中里 | 收容所地址: 彰化縣鹿港鎮草中里草中巷2-16號 @ 災民收容所 |
災民收容所編號: SN505-0002 | 彰化縣 | 鹿港鎮 | 草中里 | 收容所地址: 彰化縣鹿港鎮草中里草中巷2-16號 @ 災民收容所 |
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| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I428855 | 專利期間起: 119/12/01 | 專利期間訖: 1.內容摘要:本發明係揭露一種三維立體影像之還原建立方法,其係利用一全景式膠囊內視鏡取得不同時間及不同位置之複數環狀影像資訊;先將這些環狀影像資訊展開為複數條狀影像後,依序對該等條狀影像進行比對、連接... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 醫用數位X光系統開發計畫 | 專利發明人: 吳憲明 | 黃科志 | 歐陽盟 | 鄭偉德 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I476143 | 專利期間起: 104/03/11 | 專利期間訖: 121/11/12 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 醫療診斷x光立體影像感測器關鍵技術開發 | 專利發明人: 黃科志 | 蔡登宏 | 楊燦南 | 陳順林 | 陳建仲 @ 技術司專利資料集 |
| 執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 醫用數位X光系統開發計畫 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 雷射波段:630±50 nm 掃描面積:31 mm×41 mm(CR, #2) 解析度 ≧ 18 lp/mm 掃描時間 ≦ 6秒 灰階度 ≧ 1024 影像顯示程式 多張讀取 | 潛力預估: 可應用於數位X光磷光片讀取。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 醫用數位X光系統開發計畫 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 磷光板發光比相比於商用磷光板可達100%;2 lp/mm時MTF=0.7,5 lp/mm時MTF=0.3。 | 潛力預估: 可用於人體各部位數位X光感測器。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 醫用數位X光系統開發計畫 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 薄膜厚度 : ≧100μm,CTF : >25% at 10Lp/mm。 | 潛力預估: 可用於口腔和胸腔之數位X光感測器。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 104 | 產出單位: | 計畫名稱: 醫療診斷x光立體影像感測器關鍵技術開發 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 磷光板發光比相比於商用磷光板可達100%;2 lp/mm時MTF=0.7,5 lp/mm時MTF=0.3。 | 潛力預估: 可用於人體各部位數位X光感測器。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 104 | 產出單位: | 計畫名稱: 醫療診斷x光立體影像感測器關鍵技術開發 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 薄膜厚度 : ≧100μm,CTF : >25% at 10Lp/mm。 | 潛力預估: 可用於口腔和胸腔之數位X光感測器。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 105 | 產出單位: | 計畫名稱: 醫療診斷x光立體影像感測器關鍵技術開發 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 磷光板發光比相比於商用磷光板可達100%;2 lp/mm時MTF=0.7,5 lp/mm時MTF=0.3。 | 潛力預估: 可用於人體各部位數位X光感測器。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I428855 | 專利期間起: 119/12/01 | 專利期間訖: 1.內容摘要:本發明係揭露一種三維立體影像之還原建立方法,其係利用一全景式膠囊內視鏡取得不同時間及不同位置之複數環狀影像資訊;先將這些環狀影像資訊展開為複數條狀影像後,依序對該等條狀影像進行比對、連接... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 醫用數位X光系統開發計畫 | 專利發明人: 吳憲明 | 黃科志 | 歐陽盟 | 鄭偉德 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I476143 | 專利期間起: 104/03/11 | 專利期間訖: 121/11/12 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 醫療診斷x光立體影像感測器關鍵技術開發 | 專利發明人: 黃科志 | 蔡登宏 | 楊燦南 | 陳順林 | 陳建仲 @ 技術司專利資料集 |
執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 醫用數位X光系統開發計畫 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 雷射波段:630±50 nm 掃描面積:31 mm×41 mm(CR, #2) 解析度 ≧ 18 lp/mm 掃描時間 ≦ 6秒 灰階度 ≧ 1024 影像顯示程式 多張讀取 | 潛力預估: 可應用於數位X光磷光片讀取。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
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執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 103 | 產出單位: | 計畫名稱: 醫用數位X光系統開發計畫 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 薄膜厚度 : ≧100μm,CTF : >25% at 10Lp/mm。 | 潛力預估: 可用於口腔和胸腔之數位X光感測器。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
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執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 104 | 產出單位: | 計畫名稱: 醫療診斷x光立體影像感測器關鍵技術開發 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 薄膜厚度 : ≧100μm,CTF : >25% at 10Lp/mm。 | 潛力預估: 可用於口腔和胸腔之數位X光感測器。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
執行單位: 中科院材料暨光電研究所 | 產出年度: 105 | 產出單位: | 計畫名稱: 醫療診斷x光立體影像感測器關鍵技術開發 | 領域: 民生福祉 | 技術規格: 磷光板發光比相比於商用磷光板可達100%;2 lp/mm時MTF=0.7,5 lp/mm時MTF=0.3。 | 潛力預估: 可用於人體各部位數位X光感測器。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
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| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,687,051 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉 | 林耀明 | 葉迎春 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,667,838 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 王浩偉 | 羅偕益 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,687,051 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉 | 林耀明 | 葉迎春 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,667,838 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明 | 王浩偉 | 羅偕益 |
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