專利名稱-中文影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是200068, 專利性質是發明, 執行單位是工研院量測中心, 產出年度是93, 計畫名稱是自動光學顯微檢測設備技術三年計畫, 專利發明人是林俊育, 宋新岳, 羅偕益.
| 序號 | 589 |
| 產出年度 | 93 |
| 領域別 | (空) |
| 專利名稱-中文 | 影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法 |
| 執行單位 | 工研院量測中心 |
| 產出單位 | (空) |
| 計畫名稱 | 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 |
| 專利發明人 | 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
| 核准國家 | 中華民國 |
| 獲證日期 | (空) |
| 證書號碼 | 200068 |
| 專利期間起 | (空) |
| 專利期間訖 | (空) |
| 專利性質 | 發明 |
| 技術摘要-中文 | 一種光感測元件陣列之一軸與物體相對移動方向之垂直度量測方法與裝置，其包括：能平穩移動光感測元件陣列或待測物體的精密定位裝置。利用此精密定位裝置驅動光感測元件陣列或待測物體使之有相對移動。每隔適當的移動量後，由光感測元件陣列取一次像。利用不同縱向 (物體跟光感測元件陣列相對移動方向) 光感測元件陣列元素因相對物體移動並多次取像取得物體上同一縱向位置 (物體跟光感測元件陣列相對移動方向上是同一個位置) 的影像；隨後由影像計算光感測元件陣列之側向 (橫向) 偏移量；以Intensity fitting function來提高計算側向偏移量的精確度；由側向偏移量計算光感測元件陣列之一軸與物體相對移動方向之垂直度或偏轉角度。 |
| 技術摘要-英文 | (空) |
| 聯絡人員 | 金娟如 |
| 電話 | 03-5743816 |
| 傳真 | 03-5720621 |
| 電子信箱 | judyking@itri.org.tw |
| 參考網址 | http://www.itri.org.tw |
| 備註 | 原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸 |
| 特殊情形 | (空) |
序號589 |
產出年度93 |
領域別(空) |
專利名稱-中文影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法 |
執行單位工研院量測中心 |
產出單位(空) |
計畫名稱自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 |
專利發明人林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
核准國家中華民國 |
獲證日期(空) |
證書號碼200068 |
專利期間起(空) |
專利期間訖(空) |
專利性質發明 |
技術摘要-中文一種光感測元件陣列之一軸與物體相對移動方向之垂直度量測方法與裝置，其包括：能平穩移動光感測元件陣列或待測物體的精密定位裝置。利用此精密定位裝置驅動光感測元件陣列或待測物體使之有相對移動。每隔適當的移動量後，由光感測元件陣列取一次像。利用不同縱向 (物體跟光感測元件陣列相對移動方向) 光感測元件陣列元素因相對物體移動並多次取像取得物體上同一縱向位置 (物體跟光感測元件陣列相對移動方向上是同一個位置) 的影像；隨後由影像計算光感測元件陣列之側向 (橫向) 偏移量；以Intensity fitting function來提高計算側向偏移量的精確度；由側向偏移量計算光感測元件陣列之一軸與物體相對移動方向之垂直度或偏轉角度。 |
技術摘要-英文(空) |
聯絡人員金娟如 |
電話03-5743816 |
傳真03-5720621 |
電子信箱judyking@itri.org.tw |
參考網址http://www.itri.org.tw |
備註原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸 |
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| 資料集識別碼: 140097 | 詮釋資料更新時間: 2023-07-06 15:10:06 | 品質檢測: 金 | 檔案格式: ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP | 編碼格式: UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8 | 提供機關: 臺灣橋頭地方檢察署 | 服務分類: 公共資訊 | 資料集描述: 會計年度、月份、款、項、目、節、預算年度、預算科目編號、預算科目名稱、細目編號、細目名稱、原預算數、追加減數、截至本月止累計分配數_1、本月實現數、截至本月止累計實現數_2、應收收入數_3、分配數預算... @ 政府資料開放平臺資料集清單 |
| 糧商電話號碼: (03)9223845 | 稻米 | 買賣（零售) | 宜蘭縣員山鄉內城村內城路434號 @ 糧商資訊系統 |
| 商品基本碼 Basic No.: 200068 | 中譯名稱 Chinese Translation: 貯存及輸送用非金屬製容器 | 類似組群碼 TIPO's similar group code: 2009 @ 商品與服務國際（尼斯）分類 |
資料集識別碼: 81318 | 詮釋資料更新時間: 2025-05-12 10:16:19 | 品質檢測: 金 | 檔案格式: ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;ZIP;... | 編碼格式: UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-8;UTF-... | 提供機關: 臺灣橋頭地方檢察署 | 服務分類: 公共資訊 | 資料集描述: 會計年度、月份、款、項、目、節、預算年度、預算科目編號、預算科目名稱、細目編號、細目名稱、原預算數、追加減數、截至本月止累計分配數_1、本月實現數、截至本月止累計實現數_2、應收收入數_3、分配數預算... @ 政府資料開放平臺資料集清單 |
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| 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)掃描範圍:300nm~900nm/1250nm~1650nm | 潛力預估: 可取代目前國外高價產品，可創造產值5億 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 | 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... | 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)空間解析度：7.7 μm。(2)深度範圍：< 200μm。 | 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 97 | 產出單位: | 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 | 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 @ 技術司專利資料集 |
執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)物方視野: 線型 > 6 mm(2) 物方空間解析度: < 250 mm (3) 光譜解析度: < 3 nm (4) 單次量測光譜範圍(free spectral range): 400 nm | 潛力預估: 台灣的LED設備產能相當充足，但製程良率偏低，且檢測速度遠不及產出率，需求快速光譜檢測新一代技術，本技術可直接針對此需求提供服務。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)掃描範圍:300nm~900nm/1250nm~1650nm | 潛力預估: 可取代目前國外高價產品，可創造產值5億 @ 技術司可移轉技術資料集 |
執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 | 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... | 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)空間解析度：7.7 μm。(2)深度範圍：< 200μm。 | 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 97 | 產出單位: | 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 | 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。 @ 技術司可移轉技術資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 @ 技術司專利資料集 |
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| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206797 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李三良 | 徐達儒 | 龔佩敏 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206819 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳逸嘉 | 許維德 | 洪鵬翔 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 林育仁 | 官振鵬 | 簡志佳 | 吳韻宜 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I221721 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 繆紹綱 | 顏恆麟 | 李宗憲 | 林志龍 | 官振鵬 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I220733 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳正哲 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 131670 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 網際網路應用技術營運計畫 | 專利發明人: 樊國楨 | 宋振華 | 薛紀建 | 張耿豪 | 張明信 | 謝東明 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6637098 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 楊奉儒 | 蔡憲坤 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 210230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 李明晃 | 陳珠修 | 楊奉儒 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 207309 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳清齊 | 賴明柱 | 楊奉儒 | 陳志恒 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 211613 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳珠修 | 楊奉儒 | 李明晃 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195728 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 韋忠光 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6713377 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英 | 黃尊禧 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6660625 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英 | 黃尊禧 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 183704 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 高蔡勝 | 戴昌銘 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185243 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 丁岱良 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206797 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李三良 | 徐達儒 | 龔佩敏 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206819 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳逸嘉 | 許維德 | 洪鵬翔 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 林育仁 | 官振鵬 | 簡志佳 | 吳韻宜 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I221721 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 繆紹綱 | 顏恆麟 | 李宗憲 | 林志龍 | 官振鵬 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I220733 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳正哲 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 131670 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 網際網路應用技術營運計畫 | 專利發明人: 樊國楨 | 宋振華 | 薛紀建 | 張耿豪 | 張明信 | 謝東明 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6637098 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 楊奉儒 | 蔡憲坤 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 210230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 李明晃 | 陳珠修 | 楊奉儒 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 207309 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳清齊 | 賴明柱 | 楊奉儒 | 陳志恒 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 211613 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳珠修 | 楊奉儒 | 李明晃 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195728 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 韋忠光 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6713377 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英 | 黃尊禧 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6660625 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英 | 黃尊禧 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 183704 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 高蔡勝 | 戴昌銘 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185243 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 丁岱良 |
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