平面定位機構
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

201505

總計資產_億元: 566458.000000 | 總計淨值_億元: 34353.000000 | 本國銀行資產_億元: 427056.000000 | 本國銀行淨值_億元: 29487.000000 | 外國銀行在臺分行資產_億元: 27260.000000 | 外國銀行在臺分行淨值_億元: 877.000000

文化與休閒參與人數

資料集識別碼: 151188 | 詮釋資料更新時間: 2024-01-10 14:20:45 | 品質檢測: 銅 | 檔案格式: PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF | 編碼格式: ;;;;;;;;;; | 提供機關: 行政院 | 服務分類: 公共資訊 | 資料集描述: 文化與休閒參與人數

201505

資產總額_億元: 14296.190000 | 資本_億元: 3170.070000

文化部輔導之財團法人文化藝術基金會男、女性董監事統計

資料集識別碼: 151189 | 詮釋資料更新時間: 2024-01-10 14:20:46 | 品質檢測: 銅 | 檔案格式: PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF;PDF | 編碼格式: ;;;;;;;;;; | 提供機關: 行政院 | 服務分類: 公共資訊 | 資料集描述: 文化部輔導之財團法人文化藝術基金會男、女性董監事統計

201505

合計數_總累積匯入淨額_億美元: 2048.280000 | 合計數_持有股票市值占總市值比例: 37.460000 | 境外外國機構投資人及陸資_累積匯入淨額_億美元: 2044.730000 | 境外華僑及外國自然人_累積匯入淨額_億美元: 3.550000 | 境外外國機構投資人及陸資_完成登記件數: 104.000000 | 境外華僑及外國自然人_完成登記件數: 1.000000

201505

臺灣: 15.120000 | 紐約: 19.620000 | 日本: 20.800000 | 倫敦: 15.400000 | 香港: 12.410000 | 韓國: 17.230000 | 新加坡: 13.670000 | 上海: 21.940000

201505

上市家數: 859.000000 | 上市資本額_十億元: 6819.530000 | 上市成長率: 0.100000 | 上櫃家數: 697.000000 | 上櫃資本額_十億元: 689.670000 | 上櫃成長率: 0.160000 | 未上市上櫃家數: 635.000000 | 未上市上櫃資本額_十億元: 1747.400000

201505

臺灣_家數: 859.000000 | 紐約_家數: 2458.000000 | 那斯達克_家數: 2803.000000 | 日本_家數: 3488.000000 | 倫敦_家數: 2729.000000 | 香港_家數: 1784.000000 | 韓國_家數: 1859.000000 | 新加坡_家數: 768.000000 | 上海_家數: 1058.000000

線性編碼器

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I237688 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳、高清芬、陳譽元、張中柱

線性編碼器

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL03154536.X | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 金屬中心 | 產出年度: 95 | 計畫名稱: 平面顯示器設備技術開發三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳、高清芬、陳譽元、張中柱

二維尺讀頭機構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I230779 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳、高清芬、張中柱

二維尺讀頭機構

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200410002410.6 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 97 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳 高清芬 張中柱

二維位移量之量測裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I224351 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 高清芬, 張中柱, 林慶芳

二維位移量的量測裝置

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL03160230.4 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 95 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 高清芬、張中柱、林慶芳

二維位移量之量測裝置

核准國家: 美國 | 證書號碼: | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 96 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 高清芬 張中柱 林慶芳

高密度通道光譜影像量測技術

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)物方視野: 線型 > 6 mm(2) 物方空間解析度: < 250 mm (3) 光譜解析度: < 3 nm (4) 單次量測光譜範圍(free spectral range): 400 nm | 潛力預估: 台灣的LED設備產能相當充足，但製程良率偏低，且檢測速度遠不及產出率，需求快速光譜檢測新一代技術，本技術可直接針對此需求提供服務。

高密度光譜分析技術

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)掃描範圍:300nm~900nm/1250nm~1650nm | 潛力預估: 可取代目前國外高價產品，可創造產值5億

垂直掃描白光干涉表徵顯微量測技術

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: 縱向解析度及量程1nm / 100um、橫向解析度及量程 1um / (500um)2 | 潛力預估: 結合單頻相移暨垂直掃描白光干涉功能的顯微檢測儀器，在亞洲市場的產值每年可達數億元，其產值更將隨影像顯示器產業產值的成長而大幅提昇。

3 mil 線寬/線距PCB/FPC 銅箔線路斷路及短路之缺陷檢測技術

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1) 3 mil 線寬/線距HDI-PCB銅箔線路缺陷檢測探頭，尺寸/形狀空間解析度：8~15μm。(2)機台y-方向移動速度：40 mm/sec.。(3)缺陷檢測演算法可自動檢測出open/sh... | 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。

HDI-PCB銅箔線路雷射盲孔缺陷檢測探頭技術

執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 領域: | 技術規格: (1)空間解析度：7.7 μm。(2)深度範圍：< 200μm。 | 潛力預估: 國內印刷電路板全製程電路板生產廠商有華通、嘉聯益、雅新、景碩等，產業頗具規模，因此，製程品質之檢測儀器之需求大。

三維形貌量測探頭技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 97 | 產出單位: | 計畫名稱: 機械與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 垂直解析度≦5μm。2. 水平解析度：≦25μm。3.掃描速度: 125mm/sec。 | 潛力預估: 預計93年台灣儀器廠將陸續推出設備搶攻台灣與大陸市場。

電力控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林

提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄