廢水回收之前處理系統與方法
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文廢水回收之前處理系統與方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是188085, 專利性質是發明, 執行單位是工研院能資所, 產出年度是93, 計畫名稱是永續資源技術開發三年計畫, 專利發明人是張振章, 林士正, 蔡幸芬.

序號923
產出年度93
領域別(空)
專利名稱-中文廢水回收之前處理系統與方法
執行單位工研院能資所
產出單位(空)
計畫名稱永續資源技術開發三年計畫
專利發明人張振章 | 林士正 | 蔡幸芬
核准國家中華民國
獲證日期(空)
證書號碼188085
專利期間起(空)
專利期間訖(空)
專利性質發明
技術摘要-中文一種廢水回收之前處理系統與方法,具有佔地小、耗能低、且成本低廉之特點,乃 用以將廢水經一定程度之淨化處理,以提供一定潔淨程度之產水予另一習知水質淨 化設備作使用前之水質調整;其主要係藉由一內部為凹凸不平構形之混凝管線,模 擬形成多數個串連之快混微型連續攪拌式反應器,以於密閉小空間中,達到將廢水 原水與藥劑充分混合之效果,並藉以於廢水微粒外形成可濾除之膠羽,以有效使用 一過濾裝置將廢水中之污染微粒濾除;而為能有效監測廢水之污染程度,本發明又 提供一種修正污泥指數的判斷方法,藉以有效顯示污染流體中污染程度。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員杜培欣
電話03-5915446
傳真(空)
電子信箱(空)
參考網址http://www.itri.org.tw
備註原領域別為材料化工,95年改為生醫材化
特殊情形(空)

序號

923

產出年度

93

領域別

(空)

專利名稱-中文

廢水回收之前處理系統與方法

執行單位

工研院能資所

產出單位

(空)

計畫名稱

永續資源技術開發三年計畫

專利發明人

張振章 | 林士正 | 蔡幸芬

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

188085

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種廢水回收之前處理系統與方法,具有佔地小、耗能低、且成本低廉之特點,乃 用以將廢水經一定程度之淨化處理,以提供一定潔淨程度之產水予另一習知水質淨 化設備作使用前之水質調整;其主要係藉由一內部為凹凸不平構形之混凝管線,模 擬形成多數個串連之快混微型連續攪拌式反應器,以於密閉小空間中,達到將廢水 原水與藥劑充分混合之效果,並藉以於廢水微粒外形成可濾除之膠羽,以有效使用 一過濾裝置將廢水中之污染微粒濾除;而為能有效監測廢水之污染程度,本發明又 提供一種修正污泥指數的判斷方法,藉以有效顯示污染流體中污染程度。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

杜培欣

電話

03-5915446

傳真

(空)

電子信箱

(空)

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為材料化工,95年改為生醫材化

特殊情形

(空)

根據識別碼 188085 找到的相關資料

仁愛安和路口

站位代碼: 1863 | 地址: 仁愛路四段上近安和路口(向東) | 去返程: 0 | 上下車站別: 0 | 所屬路線代碼: 17716 | Bus Stop Name: Renai & Anhe Intersectio

@ 公車站位資訊

仁愛安和路口

站位代碼: 1863 | 地址: 仁愛路四段上近安和路口(向東) | 去返程: 0 | 上下車站別: 0 | 所屬路線代碼: 17716 | Bus Stop Name: Renai & Anhe Intersectio

@ 公車站位資訊

[ 搜尋所有 188085 ... ]

根據名稱 廢水回收之前處理系統與方法 找到的相關資料

無其他 廢水回收之前處理系統與方法 資料。

[ 搜尋所有 廢水回收之前處理系統與方法 ... ]

根據姓名 張振章 林士正 蔡幸芬 找到的相關資料

無其他 張振章 林士正 蔡幸芬 資料。

[ 搜尋所有 張振章 林士正 蔡幸芬 ... ]

根據電話 03-5915446 找到的相關資料

無其他 03-5915446 資料。

[ 搜尋所有 03-5915446 ... ]

在『技術司專利資料集』資料集內搜尋:


與廢水回收之前處理系統與方法同分類的技術司專利資料集

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

具有整波電路之高速雷射驅動器

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠

壓制電流分配的充放電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁

電力控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林

提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄

低頻率漂移數位頻率調制裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文, 謝賜山, 紀秋棉

光學編碼器定位裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳

影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育, 宋新岳, 羅偕益

熱釋電型感測器信號轉換電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範, 林耀明

顯示裝置之檢測系統及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬, 葉峻毅, 楊福祥

寬頻掃頻電路架構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮, 謝賜山

光源產生裝置及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

具有整波電路之高速雷射驅動器

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠

壓制電流分配的充放電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁

電力控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林

提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄

低頻率漂移數位頻率調制裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文, 謝賜山, 紀秋棉

光學編碼器定位裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳

影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育, 宋新岳, 羅偕益

熱釋電型感測器信號轉換電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範, 林耀明

顯示裝置之檢測系統及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬, 葉峻毅, 楊福祥

寬頻掃頻電路架構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮, 謝賜山

光源產生裝置及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮

 |