專利名稱-中文管理標示語言中元素屬性的方法 的核准國家是中華民國 , 證書號碼是發明第I225998號 , 專利期間起是38353 , 專利期間訖是45278 , 專利性質是發明 , 執行單位是資策會 , 產出年度是94 , 計畫名稱是行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 , 專利發明人是楊存中, 簡賀君 .
序號 1175 產出年度 94 領域別 智慧科技 專利名稱-中文 管理標示語言中元素屬性的方法 執行單位 資策會 產出單位 資策會 計畫名稱 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 專利發明人 楊存中 | 簡賀君 核准國家 中華民國 獲證日期 38353 證書號碼 發明第I225998號 專利期間起 38353 專利期間訖 45278 專利性質 發明 技術摘要-中文 本發明係有關於一種管理標示語言中元素屬性的方法,使瀏覽器可應用於多種標示語言中,並以屬性之優先權高低處理元素屬性繼承之內容,其方法包括:接收一預設屬性;依據所接收預設屬性中所定義的預設樣式型態,顯示對應之元素;接收至少一外部屬性;對於同時由預設屬性標籤所定義及外部屬性標籤所定義之每一元素,判斷其由該外部屬性標籤所定義之屬性的優先權是否大於由預設屬性標籤所定義之屬性的優先權,如是,則該元素之屬性由外部屬性標籤所定義之屬性取代更新,否則,將維持該元素之預設樣式型態。 技術摘要-英文 The present invention relates to a method for managing element property in markup language, by which a browser can be applied in various markup languages, and the priority levels of properties are employed to process the inheritance content of element property. The method comprises: receiving a predefined property pattern table; displaying corresponding elements based on the predefined tag properties of the elements defined in the received predefined property pattern table; receiving at least one external property; and for each element defined simultaneously by both the predefined property pattern table and the external property, determining whether the priority of the property defined by the external property is larger than the priority of the property defined by the tag of the predefined property pattern table. If affirmative, the property of the element is replaced and updated by the extended tag property defined by the external property; otherwise, the predefined tag property of the element is maintained. 聯絡人員 謝金湘 電話 (02)2739-9616#158 傳真 (02)2377-5903 電子信箱 anne@nmi.iii.org.tw 參考網址 (空) 備註 原領域別為通訊光電,95年改為電資通光 特殊情形 (空)
序號 1175 產出年度 94 領域別 智慧科技 專利名稱-中文 管理標示語言中元素屬性的方法 執行單位 資策會 產出單位 資策會 計畫名稱 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 專利發明人 楊存中 | 簡賀君 核准國家 中華民國 獲證日期 38353 證書號碼 發明第I225998號 專利期間起 38353 專利期間訖 45278 專利性質 發明 技術摘要-中文 本發明係有關於一種管理標示語言中元素屬性的方法,使瀏覽器可應用於多種標示語言中,並以屬性之優先權高低處理元素屬性繼承之內容,其方法包括:接收一預設屬性;依據所接收預設屬性中所定義的預設樣式型態,顯示對應之元素;接收至少一外部屬性;對於同時由預設屬性標籤所定義及外部屬性標籤所定義之每一元素,判斷其由該外部屬性標籤所定義之屬性的優先權是否大於由預設屬性標籤所定義之屬性的優先權,如是,則該元素之屬性由外部屬性標籤所定義之屬性取代更新,否則,將維持該元素之預設樣式型態。 技術摘要-英文 The present invention relates to a method for managing element property in markup language, by which a browser can be applied in various markup languages, and the priority levels of properties are employed to process the inheritance content of element property. The method comprises: receiving a predefined property pattern table; displaying corresponding elements based on the predefined tag properties of the elements defined in the received predefined property pattern table; receiving at least one external property; and for each element defined simultaneously by both the predefined property pattern table and the external property, determining whether the priority of the property defined by the external property is larger than the priority of the property defined by the tag of the predefined property pattern table. If affirmative, the property of the element is replaced and updated by the extended tag property defined by the external property; otherwise, the predefined tag property of the element is maintained. 聯絡人員 謝金湘 電話 (02)2739-9616#158 傳真 (02)2377-5903 電子信箱 anne@nmi.iii.org.tw 參考網址 (空) 備註 原領域別為通訊光電,95年改為電資通光 特殊情形 (空)
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核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I225737號 | 專利期間起: 38353 | 專利期間訖: 45278 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳軒 | 廖繼鐘
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I226014號 | 專利期間起: 38353 | 專利期間訖: 45278 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃聖傑 | 張倩瑜
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I241121號 | 專利期間起: 38626 | 專利期間訖: 44770 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 宣志凌
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: US6,970,265B2 | 專利期間起: 38685 | 專利期間訖: 45231 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 何文楨
@ 技術司專利資料集 核准國家: 日本 | 證書號碼: 特許第3737053號 | 專利期間起: 38660 | 專利期間訖: 44558 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 宣志凌
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I245233號 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉振鐸 | 王學武 | 翁明昉
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I245548號 | 專利期間起: 38697 | 專利期間訖: 45584 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 許文豪
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I245197號 | 專利期間起: 38697 | 專利期間訖: 45534 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳軒
@ 技術司專利資料集
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I225737號 | 專利期間起: 38353 | 專利期間訖: 45278 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳軒 | 廖繼鐘
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I226014號 | 專利期間起: 38353 | 專利期間訖: 45278 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃聖傑 | 張倩瑜
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I241121號 | 專利期間起: 38626 | 專利期間訖: 44770 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 宣志凌
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: US6,970,265B2 | 專利期間起: 38685 | 專利期間訖: 45231 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 何文楨
@ 技術司專利資料集 核准國家: 日本 | 證書號碼: 特許第3737053號 | 專利期間起: 38660 | 專利期間訖: 44558 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 宣志凌
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I245233號 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉振鐸 | 王學武 | 翁明昉
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I245548號 | 專利期間起: 38697 | 專利期間訖: 45584 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 許文豪
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I245197號 | 專利期間起: 38697 | 專利期間訖: 45534 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 94 | 計畫名稱: 行動環境先進應用服務技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳軒
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與管理標示語言中元素屬性的方法同分類的技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,687,051 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉 | 林耀明 | 葉迎春
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,687,051 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉 | 林耀明 | 葉迎春
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