Systolic Artechture for comma free Reed-Solomon Decoding Circuit
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專利名稱-中文Systolic Artechture for comma free Reed-Solomon Decoding Circuit的核准國家是美國, 執行單位是中科院電子所, 產出年度是95, 專利性質是發明, 計畫名稱是寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫, 專利發明人是李奇芳、沈文和、朱元三、何建興、丁原梓, 證書號碼是7051263 B2.

序號2448
產出年度95
領域別(空)
專利名稱-中文Systolic Artechture for comma free Reed-Solomon Decoding Circuit
執行單位中科院電子所
產出單位(空)
計畫名稱寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫
專利發明人李奇芳、沈文和、朱元三、何建興、丁原梓
核准國家美國
獲證日期(空)
證書號碼7051263 B2
專利期間起(空)
專利期間訖(空)
專利性質發明
技術摘要-中文(空)
技術摘要-英文(空)
聯絡人員鄧德生
電話0917-531-750
傳真(空)
電子信箱dsdeng@tpts5.seed.net.tw
參考網址(空)
備註原領域別為通訊光電,95年改為電資通光
特殊情形(空)
同步更新日期2019-07-24

序號

2448

產出年度

95

領域別

(空)

專利名稱-中文

Systolic Artechture for comma free Reed-Solomon Decoding Circuit

執行單位

中科院電子所

產出單位

(空)

計畫名稱

寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫

專利發明人

李奇芳、沈文和、朱元三、何建興、丁原梓

核准國家

美國

獲證日期

(空)

證書號碼

7051263 B2

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

(空)

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

鄧德生

電話

0917-531-750

傳真

(空)

電子信箱

dsdeng@tpts5.seed.net.tw

參考網址

(空)

備註

原領域別為通訊光電,95年改為電資通光

特殊情形

(空)

同步更新日期

2019-07-24

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摺疊心脈收縮陣列之無逗式里德所羅門解碼電路

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 94 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 李奇芳.沈文和.朱元三.何建興.丁原梓 | 證書號碼: US6,928,600 B2

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加權無逗式里德所羅門解碼方法及其電路

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 94 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 李奇芳.沈文和.朱元三.何建興.丁原梓 | 證書號碼: US6944813 B2

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摺疊心脈收縮陣列之無逗式里德所羅門解碼電路

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 94 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 李奇芳.沈文和.朱元三.何建興.丁原梓 | 證書號碼: US6,928,600 B2

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加權無逗式里德所羅門解碼方法及其電路

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 94 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 李奇芳.沈文和.朱元三.何建興.丁原梓 | 證書號碼: US6944813 B2

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Flexible Multi-layered Probe for Measuring a Signal From an Object

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 95 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 鄧德生、李鴻麒 | 證書號碼: 6930497 B2

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Flexible Multi-layered Probe for Measuring a Signal From an Object

核准國家: 美國 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 95 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 鄧德生、李鴻麒 | 證書號碼: 6930497 B2

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微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱 | 證書號碼: 192167

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱 | 證書號碼: 6,658,597

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 | 證書號碼: 185602

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 | 證書號碼: 6,735,228

具有整波電路之高速雷射驅動器

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 | 證書號碼: 6,798,802

壓制電流分配的充放電路

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 | 證書號碼: 6,794,911

電力控制電路

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林 | 證書號碼: 214743

提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄 | 證書號碼: 184318

低頻率漂移數位頻率調制裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文, 謝賜山, 紀秋棉 | 證書號碼: 195328

光學編碼器定位裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 證書號碼: 193120

影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育, 宋新岳, 羅偕益 | 證書號碼: 200068

熱釋電型感測器信號轉換電路

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範, 林耀明 | 證書號碼: 197821

顯示裝置之檢測系統及方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬, 葉峻毅, 楊福祥 | 證書號碼: 220689

寬頻掃頻電路架構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮, 謝賜山 | 證書號碼: 198444

光源產生裝置及方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮 | 證書號碼: 200164

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱 | 證書號碼: 192167

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱 | 證書號碼: 6,658,597

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 | 證書號碼: 185602

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 | 證書號碼: 6,735,228

具有整波電路之高速雷射驅動器

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 | 證書號碼: 6,798,802

壓制電流分配的充放電路

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 | 證書號碼: 6,794,911

電力控制電路

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林 | 證書號碼: 214743

提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄 | 證書號碼: 184318

低頻率漂移數位頻率調制裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文, 謝賜山, 紀秋棉 | 證書號碼: 195328

光學編碼器定位裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 證書號碼: 193120

影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育, 宋新岳, 羅偕益 | 證書號碼: 200068

熱釋電型感測器信號轉換電路

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範, 林耀明 | 證書號碼: 197821

顯示裝置之檢測系統及方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬, 葉峻毅, 楊福祥 | 證書號碼: 220689

寬頻掃頻電路架構

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮, 謝賜山 | 證書號碼: 198444

光源產生裝置及方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮 | 證書號碼: 200164

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