自動產生測試案例的系統及方法
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文自動產生測試案例的系統及方法的核准國家是韓國, 證書號碼是10-0709664, 專利期間起是39185, 專利期間訖是45670, 專利性質是發明, 執行單位是資策會, 產出年度是96, 計畫名稱是資策會創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是陳安誼、蕭邱漢.

序號4028
產出年度96
領域別智慧科技
專利名稱-中文自動產生測試案例的系統及方法
執行單位資策會
產出單位資策會
計畫名稱資策會創新前瞻技術研究計畫
專利發明人陳安誼 | 蕭邱漢
核准國家韓國
獲證日期39185
證書號碼10-0709664
專利期間起39185
專利期間訖45670
專利性質發明
技術摘要-中文一種自動產生測試案例的方法。根據轉換規則將上述第一正規化描述語言轉換為一第二正規化描述語言。利用一涵蓋率分析演算法分析上述第二正規化描述語言,以計算出上述第二正規化描述語言的涵蓋率,並且根據上述涵蓋率產生對應上述第二正規化描述語言的測試案例。根據一樹狀及列表組合標記(TTCN)語言產生符合TTCN格式的測試案例。
技術摘要-英文A method for automated test-case generation. A first type SDL is translated to a second type SDL in accordance with translation rules. The second type SDL is analyzed using a coverage analysis algorithm for calculating the coverage of the second type SDL, and test cases corresponding to the second type SDL are generated according to the coverage. Test cases complying with tree and tabular combined notation (TTCN) formats are generated according to a tree structure corresponding to the second type SDL and TTCNs.
聯絡人員張麗容
電話(空)
傳真(空)
電子信箱lirong@iii.org.tw
參考網址(空)
備註原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸
特殊情形(空)

序號

4028

產出年度

96

領域別

智慧科技

專利名稱-中文

自動產生測試案例的系統及方法

執行單位

資策會

產出單位

資策會

計畫名稱

資策會創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

陳安誼 | 蕭邱漢

核准國家

韓國

獲證日期

39185

證書號碼

10-0709664

專利期間起

39185

專利期間訖

45670

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種自動產生測試案例的方法。根據轉換規則將上述第一正規化描述語言轉換為一第二正規化描述語言。利用一涵蓋率分析演算法分析上述第二正規化描述語言,以計算出上述第二正規化描述語言的涵蓋率,並且根據上述涵蓋率產生對應上述第二正規化描述語言的測試案例。根據一樹狀及列表組合標記(TTCN)語言產生符合TTCN格式的測試案例。

技術摘要-英文

A method for automated test-case generation. A first type SDL is translated to a second type SDL in accordance with translation rules. The second type SDL is analyzed using a coverage analysis algorithm for calculating the coverage of the second type SDL, and test cases corresponding to the second type SDL are generated according to the coverage. Test cases complying with tree and tabular combined notation (TTCN) formats are generated according to a tree structure corresponding to the second type SDL and TTCNs.

聯絡人員

張麗容

電話

(空)

傳真

(空)

電子信箱

lirong@iii.org.tw

參考網址

(空)

備註

原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸

特殊情形

(空)

根據識別碼 10-0709664 找到的相關資料

無其他 10-0709664 資料。

[ 搜尋所有 10-0709664 ... ]

根據名稱 自動產生測試案例的系統及方法 找到的相關資料

自動產生測試案例的系統及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I258073號 | 專利期間起: 38909 | 專利期間訖: 45600 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 95 | 計畫名稱: 新世代無線寬頻通訊技術與應用四年計畫 | 專利發明人: 陳安誼 | 蕭邱漢

@ 技術司專利資料集

自動產生測試案例的系統及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I258073號 | 專利期間起: 38909 | 專利期間訖: 45600 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 95 | 計畫名稱: 新世代無線寬頻通訊技術與應用四年計畫 | 專利發明人: 陳安誼 | 蕭邱漢

@ 技術司專利資料集

[ 搜尋所有 自動產生測試案例的系統及方法 ... ]

根據姓名 陳安誼 蕭邱漢 找到的相關資料

無其他 陳安誼 蕭邱漢 資料。

[ 搜尋所有 陳安誼 蕭邱漢 ... ]

在『技術司專利資料集』資料集內搜尋:


與自動產生測試案例的系統及方法同分類的技術司專利資料集

溝槽式金氧半電晶體

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 202861 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 許志維 | 李永忠 | 潘宗銘 | 卓言

有機元件、形成具有分子排列之有機半導體層的方法、以及形成有機元件的方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200178 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 周維揚 | 鄭弘隆 | 賴志明 | 廖奇璋

直下式背光模組

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200905 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 詹景翔 | 蕭名君 | 劉康弘 | 林偉義

高密度磁性隨機存取記憶體

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198431 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 洪建中 | 高明哲 | 潘宗銘

高密度磁性隨機存取記憶體

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6757189 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 洪建中 | 高明哲 | 潘宗銘

改善週期性電極排列引發光繞射效應之結構及液晶顯示裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189045 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 江欣峻 | 何璨佑 | 許家榮

多方向邏輯式微流體驅動控制系統及其方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189620 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 莊世瑋 | 鍾震桂 | 陳仲竹

低電壓低功率熱氣泡薄膜式微流體驅動裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 196530 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 鍾震桂 | 莊世瑋 | 陳仲竹

具有不同夾厚的半穿透式液晶顯示器裝置及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張鈞傑 | 莊景桑 | 陳志強

靜電式驅動之微繼電器及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198718 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 邱景宏 | 顏凱翔 | 王欽宏 | 陳振頤 | 房佩怡

形成頂閘極型薄膜電晶體元件的方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198717 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳志強 | 莊景桑 | 張鈞傑

自組裝奈米導電凸塊及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200159 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 汪若蕙 | 陳裕華

貼合材料層於透明基板上的方法以及形成單晶矽層於透明基板的方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200277 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張志祥 | 李啟聖 | 黃順發 | 張榮芳 | 許財源 | 胡文智 | 王亮棠

動態影像灰階檢測方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200272 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖明俊

微針頭陣列製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206641 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 郭仕奇 | 陳相甫

溝槽式金氧半電晶體

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 202861 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 許志維 | 李永忠 | 潘宗銘 | 卓言

有機元件、形成具有分子排列之有機半導體層的方法、以及形成有機元件的方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200178 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 周維揚 | 鄭弘隆 | 賴志明 | 廖奇璋

直下式背光模組

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200905 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 詹景翔 | 蕭名君 | 劉康弘 | 林偉義

高密度磁性隨機存取記憶體

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198431 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 洪建中 | 高明哲 | 潘宗銘

高密度磁性隨機存取記憶體

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6757189 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 洪建中 | 高明哲 | 潘宗銘

改善週期性電極排列引發光繞射效應之結構及液晶顯示裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189045 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 江欣峻 | 何璨佑 | 許家榮

多方向邏輯式微流體驅動控制系統及其方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189620 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 莊世瑋 | 鍾震桂 | 陳仲竹

低電壓低功率熱氣泡薄膜式微流體驅動裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 196530 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 鍾震桂 | 莊世瑋 | 陳仲竹

具有不同夾厚的半穿透式液晶顯示器裝置及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張鈞傑 | 莊景桑 | 陳志強

靜電式驅動之微繼電器及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198718 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 邱景宏 | 顏凱翔 | 王欽宏 | 陳振頤 | 房佩怡

形成頂閘極型薄膜電晶體元件的方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198717 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳志強 | 莊景桑 | 張鈞傑

自組裝奈米導電凸塊及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200159 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 汪若蕙 | 陳裕華

貼合材料層於透明基板上的方法以及形成單晶矽層於透明基板的方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200277 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張志祥 | 李啟聖 | 黃順發 | 張榮芳 | 許財源 | 胡文智 | 王亮棠

動態影像灰階檢測方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200272 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖明俊

微針頭陣列製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206641 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 郭仕奇 | 陳相甫

 |