專利名稱-中文自動產生測試案例的系統及方法 的核准國家是韓國 , 證書號碼是10-0709664 , 專利期間起是39185 , 專利期間訖是45670 , 專利性質是發明 , 執行單位是資策會 , 產出年度是96 , 計畫名稱是資策會創新前瞻技術研究計畫 , 專利發明人是陳安誼、蕭邱漢 .
序號 4028 產出年度 96 領域別 智慧科技 專利名稱-中文 自動產生測試案例的系統及方法 執行單位 資策會 產出單位 資策會 計畫名稱 資策會創新前瞻技術研究計畫 專利發明人 陳安誼 | 蕭邱漢 核准國家 韓國 獲證日期 39185 證書號碼 10-0709664 專利期間起 39185 專利期間訖 45670 專利性質 發明 技術摘要-中文 一種自動產生測試案例的方法。根據轉換規則將上述第一正規化描述語言轉換為一第二正規化描述語言。利用一涵蓋率分析演算法分析上述第二正規化描述語言,以計算出上述第二正規化描述語言的涵蓋率,並且根據上述涵蓋率產生對應上述第二正規化描述語言的測試案例。根據一樹狀及列表組合標記(TTCN)語言產生符合TTCN格式的測試案例。 技術摘要-英文 A method for automated test-case generation. A first type SDL is translated to a second type SDL in accordance with translation rules. The second type SDL is analyzed using a coverage analysis algorithm for calculating the coverage of the second type SDL, and test cases corresponding to the second type SDL are generated according to the coverage. Test cases complying with tree and tabular combined notation (TTCN) formats are generated according to a tree structure corresponding to the second type SDL and TTCNs. 聯絡人員 張麗容 電話 (空) 傳真 (空) 電子信箱 lirong@iii.org.tw 參考網址 (空) 備註 原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸 特殊情形 (空)
序號 4028 產出年度 96 領域別 智慧科技 專利名稱-中文 自動產生測試案例的系統及方法 執行單位 資策會 產出單位 資策會 計畫名稱 資策會創新前瞻技術研究計畫 專利發明人 陳安誼 | 蕭邱漢 核准國家 韓國 獲證日期 39185 證書號碼 10-0709664 專利期間起 39185 專利期間訖 45670 專利性質 發明 技術摘要-中文 一種自動產生測試案例的方法。根據轉換規則將上述第一正規化描述語言轉換為一第二正規化描述語言。利用一涵蓋率分析演算法分析上述第二正規化描述語言,以計算出上述第二正規化描述語言的涵蓋率,並且根據上述涵蓋率產生對應上述第二正規化描述語言的測試案例。根據一樹狀及列表組合標記(TTCN)語言產生符合TTCN格式的測試案例。 技術摘要-英文 A method for automated test-case generation. A first type SDL is translated to a second type SDL in accordance with translation rules. The second type SDL is analyzed using a coverage analysis algorithm for calculating the coverage of the second type SDL, and test cases corresponding to the second type SDL are generated according to the coverage. Test cases complying with tree and tabular combined notation (TTCN) formats are generated according to a tree structure corresponding to the second type SDL and TTCNs. 聯絡人員 張麗容 電話 (空) 傳真 (空) 電子信箱 lirong@iii.org.tw 參考網址 (空) 備註 原領域別為機械運輸,95年改為機電運輸 特殊情形 (空)
根據名稱 自動產生測試案例的系統及方法 找到的相關資料 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I258073號 | 專利期間起: 38909 | 專利期間訖: 45600 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 95 | 計畫名稱: 新世代無線寬頻通訊技術與應用四年計畫 | 專利發明人: 陳安誼 | 蕭邱漢
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核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第I258073號 | 專利期間起: 38909 | 專利期間訖: 45600 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 95 | 計畫名稱: 新世代無線寬頻通訊技術與應用四年計畫 | 專利發明人: 陳安誼 | 蕭邱漢
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與自動產生測試案例的系統及方法同分類的技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 202861 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 許志維 | 李永忠 | 潘宗銘 | 卓言
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200178 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 周維揚 | 鄭弘隆 | 賴志明 | 廖奇璋
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200905 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 詹景翔 | 蕭名君 | 劉康弘 | 林偉義
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198431 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 洪建中 | 高明哲 | 潘宗銘
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6757189 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 洪建中 | 高明哲 | 潘宗銘
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189045 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 江欣峻 | 何璨佑 | 許家榮
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189620 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 莊世瑋 | 鍾震桂 | 陳仲竹
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 196530 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 鍾震桂 | 莊世瑋 | 陳仲竹
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張鈞傑 | 莊景桑 | 陳志強
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198718 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 邱景宏 | 顏凱翔 | 王欽宏 | 陳振頤 | 房佩怡
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198717 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳志強 | 莊景桑 | 張鈞傑
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200159 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 汪若蕙 | 陳裕華
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200277 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張志祥 | 李啟聖 | 黃順發 | 張榮芳 | 許財源 | 胡文智 | 王亮棠
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200272 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖明俊
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206641 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 郭仕奇 | 陳相甫
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 202861 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 許志維 | 李永忠 | 潘宗銘 | 卓言
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200178 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 周維揚 | 鄭弘隆 | 賴志明 | 廖奇璋
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200905 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 詹景翔 | 蕭名君 | 劉康弘 | 林偉義
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198431 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 洪建中 | 高明哲 | 潘宗銘
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6757189 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 洪建中 | 高明哲 | 潘宗銘
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189045 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 江欣峻 | 何璨佑 | 許家榮
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189620 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 莊世瑋 | 鍾震桂 | 陳仲竹
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 196530 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 鍾震桂 | 莊世瑋 | 陳仲竹
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張鈞傑 | 莊景桑 | 陳志強
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198718 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 邱景宏 | 顏凱翔 | 王欽宏 | 陳振頤 | 房佩怡
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198717 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 陳志強 | 莊景桑 | 張鈞傑
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200159 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 汪若蕙 | 陳裕華
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200277 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張志祥 | 李啟聖 | 黃順發 | 張榮芳 | 許財源 | 胡文智 | 王亮棠
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200272 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 廖明俊
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206641 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 微奈米系統應用技術四年計畫 | 專利發明人: 郭仕奇 | 陳相甫
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