介電層以及形成此介電層的組合物及方法
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專利名稱-中文介電層以及形成此介電層的組合物及方法的核准國家是中國大陸, 證書號碼是ZL200610002340.3, 專利性質是發明, 執行單位是工研院院本部, 產出年度是98, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是林蔚伶 ,林鵬 ,胡堂祥 ,陳良湘.

序號5420
產出年度98
領域別(空)
專利名稱-中文介電層以及形成此介電層的組合物及方法
執行單位工研院院本部
產出單位(空)
計畫名稱工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人林蔚伶 | 林鵬 | 胡堂祥 | 陳良湘
核准國家中國大陸
獲證日期(空)
證書號碼ZL200610002340.3
專利期間起(空)
專利期間訖(空)
專利性質發明
技術摘要-中文一種用以製作介電層之組成物,其包括一種液態的有機金屬化合物,用以做為高介電前驅物及其溶劑以及一種感光型或非感光型高分子介質,其中液態的有機金屬化合物如Al、Ti、Zr、Ta、Si、Ba、Ge或Hf的金屬烷氧化物。此組成物所形成的介電層除了包括感光型或非感光型高分子介質之外,在感光型或非感光型高分子介質中還具有非晶相的金屬氧化物。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員李露蘋
電話03-59117812
傳真03-5917431
電子信箱noralp@itri.org.tw
參考網址http://www.patentportfolio.itri.org.tw
備註20100684-Joanne
特殊情形(空)

序號

5420

產出年度

98

領域別

(空)

專利名稱-中文

介電層以及形成此介電層的組合物及方法

執行單位

工研院院本部

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

林蔚伶 | 林鵬 | 胡堂祥 | 陳良湘

核准國家

中國大陸

獲證日期

(空)

證書號碼

ZL200610002340.3

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種用以製作介電層之組成物,其包括一種液態的有機金屬化合物,用以做為高介電前驅物及其溶劑以及一種感光型或非感光型高分子介質,其中液態的有機金屬化合物如Al、Ti、Zr、Ta、Si、Ba、Ge或Hf的金屬烷氧化物。此組成物所形成的介電層除了包括感光型或非感光型高分子介質之外,在感光型或非感光型高分子介質中還具有非晶相的金屬氧化物。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李露蘋

電話

03-59117812

傳真

03-5917431

電子信箱

noralp@itri.org.tw

參考網址

http://www.patentportfolio.itri.org.tw

備註

20100684-Joanne

特殊情形

(空)

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介電層以及形成此介電層之組成物及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I304620 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 98 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林蔚伶 ,林鵬 ,胡堂祥 ,陳良湘 ,

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介電層以及形成此介電層之組成物及方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7829137 | 專利期間起: 1999/11/9 | 專利期間訖: 118/01/24 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林蔚伶 ,林鵬 ,胡堂祥 ,陳良湘

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介電層以及形成此介電層之組成物及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I304620 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 98 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林蔚伶 ,林鵬 ,胡堂祥 ,陳良湘 ,

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介電層以及形成此介電層之組成物及方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7829137 | 專利期間起: 1999/11/9 | 專利期間訖: 118/01/24 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林蔚伶 ,林鵬 ,胡堂祥 ,陳良湘

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多執行緒程式之電源閘控方法以及電源閘控系統

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,904,736 | 專利期間起: 100/03/08 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 游逸平,李政崑,莊國煜,吳宗憲

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互動式顯示系統

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,916,129 | 專利期間起: 100/03/29 | 專利期間訖: 118/03/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資訊中心 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 林盈孜,蕭詠今,陳右凱,李森,楊博智

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多執行緒程式之電源閘控方法以及電源閘控系統

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7904736 | 專利期間起: 100/03/08 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 游逸平,李政崑,莊國煜,吳宗憲

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互動式顯示系統

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7916129 | 專利期間起: 100/03/29 | 專利期間訖: 118/03/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資訊中心 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 林盈孜,蕭詠今,陳右凱,李森,楊博智

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靜電放電防護電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,692,907 | 專利期間起: 99/04/06 | 專利期間訖: 117/03/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 資訊與通訊領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳世宏, 柯明道

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壓電驅動光學鏡頭

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,511,904 | 專利期間起: 98/03/31 | 專利期間訖: 116/05/17 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院南分院 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 南部產業關鍵技術計畫 | 專利發明人: 胡朝彰, 蘇漢威, 沈聖智

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氫甲醯化製程

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,683,219 | 專利期間起: 99/03/23 | 專利期間訖: 118/03/22 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院南分院 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 南部產業關鍵技術計畫 | 專利發明人: 薛茂霖, 楊浩熏, 時國誠, 蘇再添

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停車管理系統及裝置

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200710159782.3 | 專利期間起: 100/03/16 | 專利期間訖: 116/12/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 郭倫嘉,吳忠郼,沈仲九,黃士一

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多執行緒程式之電源閘控方法以及電源閘控系統

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,904,736 | 專利期間起: 100/03/08 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 游逸平,李政崑,莊國煜,吳宗憲

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互動式顯示系統

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,916,129 | 專利期間起: 100/03/29 | 專利期間訖: 118/03/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資訊中心 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 林盈孜,蕭詠今,陳右凱,李森,楊博智

@ 技術司專利資料集

多執行緒程式之電源閘控方法以及電源閘控系統

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7904736 | 專利期間起: 100/03/08 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 游逸平,李政崑,莊國煜,吳宗憲

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互動式顯示系統

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7916129 | 專利期間起: 100/03/29 | 專利期間訖: 118/03/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資訊中心 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 林盈孜,蕭詠今,陳右凱,李森,楊博智

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靜電放電防護電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,692,907 | 專利期間起: 99/04/06 | 專利期間訖: 117/03/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 資訊與通訊領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳世宏, 柯明道

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壓電驅動光學鏡頭

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,511,904 | 專利期間起: 98/03/31 | 專利期間訖: 116/05/17 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院南分院 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 南部產業關鍵技術計畫 | 專利發明人: 胡朝彰, 蘇漢威, 沈聖智

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氫甲醯化製程

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,683,219 | 專利期間起: 99/03/23 | 專利期間訖: 118/03/22 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院南分院 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 南部產業關鍵技術計畫 | 專利發明人: 薛茂霖, 楊浩熏, 時國誠, 蘇再添

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停車管理系統及裝置

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200710159782.3 | 專利期間起: 100/03/16 | 專利期間訖: 116/12/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 | 專利發明人: 郭倫嘉,吳忠郼,沈仲九,黃士一

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與介電層以及形成此介電層的組合物及方法同分類的技術司專利資料集

鎖頻濾波的接收裝置及其方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,763,230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元

單相輸入調頻調積體解調器

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189588 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李青峰

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

具有整波電路之高速雷射驅動器

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠

壓制電流分配的充放電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁

電力控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林

提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄

低頻率漂移數位頻率調制裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文, 謝賜山, 紀秋棉

光學編碼器定位裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳

影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育, 宋新岳, 羅偕益

熱釋電型感測器信號轉換電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範, 林耀明

顯示裝置之檢測系統及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬, 葉峻毅, 楊福祥

鎖頻濾波的接收裝置及其方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,763,230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元

單相輸入調頻調積體解調器

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189588 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李青峰

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

具有整波電路之高速雷射驅動器

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠

壓制電流分配的充放電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁

電力控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林

提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄

低頻率漂移數位頻率調制裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文, 謝賜山, 紀秋棉

光學編碼器定位裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳

影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育, 宋新岳, 羅偕益

熱釋電型感測器信號轉換電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範, 林耀明

顯示裝置之檢測系統及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬, 葉峻毅, 楊福祥

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