停車管理之系統及裝置
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文停車管理之系統及裝置的核准國家是美國, 證書號碼是7,868,784, 專利期間起是100/01/11, 專利期間訖是117/10/28, 專利性質是發明, 執行單位是工研院資通所, 產出年度是100, 計畫名稱是智慧感測網路技術與服務發展計畫, 專利發明人是郭倫嘉,吳忠郼,沈仲九,黃士一.

序號	8371
產出年度	100
領域別	電資通光
專利名稱-中文	停車管理之系統及裝置
執行單位	工研院資通所
產出單位	工研院資通所
計畫名稱	智慧感測網路技術與服務發展計畫
專利發明人	郭倫嘉 \| 吳忠郼 \| 沈仲九 \| 黃士一
核准國家	美國
獲證日期	100/08/30
證書號碼	7,868,784
專利期間起	100/01/11
專利期間訖	117/10/28
專利性質	發明
技術摘要-中文	一停車管理之系統，該系統包括複數個停車空間，以及複數個與該等停車空間對應之感測器。該等複數個感測單元之每一者係配置以檢測對應於該等複數個停車空間之一停車空間之停車狀態，並在無線通信網路中傳送包含對應一停車空間之停車狀態之第一封訊息。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	李露蘋
電話	03-59117812
傳真	03-5917431
電子信箱	oralp@itri.org.tw
參考網址	http://www.patentportfolio.itri.org.tw
備註	(空)
特殊情形	(空)

序號

8371

產出年度

100

領域別

電資通光

專利名稱-中文

停車管理之系統及裝置

執行單位

工研院資通所

產出單位

工研院資通所

計畫名稱

智慧感測網路技術與服務發展計畫

專利發明人

郭倫嘉 | 吳忠郼 | 沈仲九 | 黃士一

核准國家

美國

獲證日期

100/08/30

證書號碼

7,868,784

專利期間起

100/01/11

專利期間訖

117/10/28

專利性質

發明

技術摘要-中文

一停車管理之系統，該系統包括複數個停車空間，以及複數個與該等停車空間對應之感測器。該等複數個感測單元之每一者係配置以檢測對應於該等複數個停車空間之一停車空間之停車狀態，並在無線通信網路中傳送包含對應一停車空間之停車狀態之第一封訊息。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李露蘋

電話

03-59117812

傳真

03-5917431

電子信箱

oralp@itri.org.tw

參考網址

http://www.patentportfolio.itri.org.tw

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依「公開發行公司資金貸與及背書保證處理準則」第二十五條第一項第三、四款規定公告

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互動式顯示系統	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 7916129 \| 專利期間起: 100/03/29 \| 專利期間訖: 118/03/20 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院資訊中心 \| 產出年度: 100 \| 計畫名稱: 智慧感測網路技術與服務發展計畫 \| 專利發明人: 林盈孜 \| 蕭詠今 \| 陳右凱 \| 李森 \| 楊博智 @ 技術司專利資料集
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多執行緒程式之電源閘控方法以及電源閘控系統

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發光元件的驅動控制電路	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,735,228 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 蔡嘉明
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壓制電流分配的充放電路	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,794,911 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 張毓仁
電力控制電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 214743 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 陳盛仁 \| 楊景榮 \| 林俊宏 \| 陳燦林
提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184318 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮 \| 黃俊雄
低頻率漂移數位頻率調制裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 195328 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 高炳文 \| 謝賜山 \| 紀秋棉
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