顯示器用記憶胞、畫素結構以及記憶胞的製造方法
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專利名稱-中文顯示器用記憶胞、畫素結構以及記憶胞的製造方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是I336508, 專利期間起是100/01/21, 專利期間訖是114/10/12, 專利性質是發明, 執行單位是工研院顯示中心, 產出年度是100, 計畫名稱是新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫, 專利發明人是陳宏澤,陳麒麟,陳昱丞,陳紀文,張鼎張,.

序號8665
產出年度100
領域別電資通光
專利名稱-中文顯示器用記憶胞、畫素結構以及記憶胞的製造方法
執行單位工研院顯示中心
產出單位工研院顯示中心
計畫名稱新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫
專利發明人陳宏澤 | 陳麒麟 | 陳昱丞 | 陳紀文 | 張鼎張
核准國家中華民國
獲證日期100/02/10
證書號碼I336508
專利期間起100/01/21
專利期間訖114/10/12
專利性質發明
技術摘要-中文新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫
技術摘要-英文(空)
聯絡人員廖素珍
電話03-5916501
傳真03-5920467
電子信箱suchenliao@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)

序號

8665

產出年度

100

領域別

電資通光

專利名稱-中文

顯示器用記憶胞、畫素結構以及記憶胞的製造方法

執行單位

工研院顯示中心

產出單位

工研院顯示中心

計畫名稱

新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫

專利發明人

陳宏澤 | 陳麒麟 | 陳昱丞 | 陳紀文 | 張鼎張

核准國家

中華民國

獲證日期

100/02/10

證書號碼

I336508

專利期間起

100/01/21

專利期間訖

114/10/12

專利性質

發明

技術摘要-中文

新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

廖素珍

電話

03-5916501

傳真

03-5920467

電子信箱

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顯示器用存儲單元、像素結構以及存儲單元的制造方法

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200510109542.3 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 98 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 陳宏澤, 陳麒麟, 陳昱丞, 陳紀文, 張鼎張

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顯示器用存儲單元、像素結構以及存儲單元的制造方法

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200510109542.3 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 98 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 陳宏澤, 陳麒麟, 陳昱丞, 陳紀文, 張鼎張

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三極場發射顯示器

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,683,531 | 專利期間起: 99/03/23 | 專利期間訖: 116/07/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 林炳南 ,李正中 ,張悠揚 ,林偉義 ,

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列印資料處理裝置及其方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,637,578 | 專利期間起: 98/12/29 | 專利期間訖: 117/07/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 張家銘 ,鄭兆凱 ,林智堅 ,邱至軒 ,

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步階式充放電之低功率液晶顯示器的驅動電路及其驅動方法

核准國家: 日本 | 證書號碼: 4702725 | 專利期間起: 100/03/18 | 專利期間訖: 109/08/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 陳尚立,易建宇,

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半反射半穿透液晶顯示器及其製造方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,089,595 | 專利期間起: 101/01/03 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 陳中豪,廖奇璋,沙益安,

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彩色膽固醇液晶顯示器裝置以及其驅動方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I368077 | 專利期間起: 101/07/11 | 專利期間訖: 117/03/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 李達為,胥智文,沙益安,張郁培,

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電子元件裝置及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I370933 | 專利期間起: 101/08/21 | 專利期間訖: 117/03/30 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 廖貞慧,詹立雄,彭智平,賴詩文,

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電晶體陣列下板

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I360011 | 專利期間起: 101/03/11 | 專利期間訖: 117/10/08 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 林政偉,何金原,黃彥士

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半反射半穿透液晶顯示器及其製造方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8089595 | 專利期間起: 101/01/03 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 陳中豪,廖奇璋,沙益安,

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三極場發射顯示器

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,683,531 | 專利期間起: 99/03/23 | 專利期間訖: 116/07/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 林炳南 ,李正中 ,張悠揚 ,林偉義 ,

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列印資料處理裝置及其方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,637,578 | 專利期間起: 98/12/29 | 專利期間訖: 117/07/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 張家銘 ,鄭兆凱 ,林智堅 ,邱至軒 ,

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步階式充放電之低功率液晶顯示器的驅動電路及其驅動方法

核准國家: 日本 | 證書號碼: 4702725 | 專利期間起: 100/03/18 | 專利期間訖: 109/08/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 新世代捲軸軟性顯示關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 陳尚立,易建宇,

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半反射半穿透液晶顯示器及其製造方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,089,595 | 專利期間起: 101/01/03 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 陳中豪,廖奇璋,沙益安,

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彩色膽固醇液晶顯示器裝置以及其驅動方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I368077 | 專利期間起: 101/07/11 | 專利期間訖: 117/03/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 李達為,胥智文,沙益安,張郁培,

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電子元件裝置及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I370933 | 專利期間起: 101/08/21 | 專利期間訖: 117/03/30 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 廖貞慧,詹立雄,彭智平,賴詩文,

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電晶體陣列下板

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I360011 | 專利期間起: 101/03/11 | 專利期間訖: 117/10/08 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院顯示中心 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 林政偉,何金原,黃彥士

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半反射半穿透液晶顯示器及其製造方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8089595 | 專利期間起: 101/01/03 | 專利期間訖: 119/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 先進互動與3D顯示系統技術關鍵計畫 | 專利發明人: 陳中豪,廖奇璋,沙益安,

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與顯示器用記憶胞、畫素結構以及記憶胞的製造方法同分類的技術司專利資料集

光源產生裝置及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮

相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮, 高清芬, 陳譽元

新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘, 陳燦林, 陳譽元

反射尺讀頭裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 高清芬, 陳燦林, 陳譽元

物體表面三維形貌量測方法和系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳, 田立芬

利用共軛光路量測二維位移量之方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱, 高清芬, 李世光

紅外光轉換可見光之顯微影像裝置

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,687,051 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉, 林耀明, 葉迎春

可調光徑之光學捕捉裙

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,667,838 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉, 羅偕益

利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 194233 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育, 施學兢

全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200261 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 姚 鵬, 陳志光

控制奈米碳管長度之方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200165 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名, 施能謙, 陳燦林

平面定位機構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201505 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 張中柱

即時紅外化學影像光譜裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 203435 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌, 王浩偉

光譜偏移式奈米近接裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200276 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉

光學用高度調整裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201467 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森

光源產生裝置及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮

相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮, 高清芬, 陳譽元

新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘, 陳燦林, 陳譽元

反射尺讀頭裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 高清芬, 陳燦林, 陳譽元

物體表面三維形貌量測方法和系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳, 田立芬

利用共軛光路量測二維位移量之方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱, 高清芬, 李世光

紅外光轉換可見光之顯微影像裝置

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,687,051 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王浩偉, 林耀明, 葉迎春

可調光徑之光學捕捉裙

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,667,838 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉, 羅偕益

利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 194233 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李朱育, 施學兢

全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200261 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 姚 鵬, 陳志光

控制奈米碳管長度之方法與裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200165 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 戴鴻名, 施能謙, 陳燦林

平面定位機構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201505 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林慶芳, 張中柱

即時紅外化學影像光譜裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 203435 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李耀昌, 王浩偉

光譜偏移式奈米近接裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200276 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林耀明, 王浩偉

光學用高度調整裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201467 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 石宇森

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