檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組
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專利名稱-中文檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組的核准國家是新加坡, 證書號碼是SG133458, 專利期間起是101/03/30, 專利期間訖是115/01/03, 專利性質是發明, 執行單位是工研院生醫所, 產出年度是101, 計畫名稱是生物標記商業應用開發計畫, 專利發明人是曾錙翎,鄭平福,廖珮秀,邱浩彰,蔡世峰,.

序號9123
產出年度101
領域別生技醫藥
專利名稱-中文檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組
執行單位工研院生醫所
產出單位工研院生醫所
計畫名稱生物標記商業應用開發計畫
專利發明人曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰
核准國家新加坡
獲證日期101/04/18
證書號碼SG133458
專利期間起101/03/30
專利期間訖115/01/03
專利性質發明
技術摘要-中文本發明係為提供一種檢測自體抗體的方法,利用偵測可專一性與下列至少一種蛋白質鍵結的自體抗體,如一熱休克蛋白60、熱休克蛋白90α型、及熱休克蛋白90β型,來判斷該個體是否患有重症肌無力症。本發明亦提供鑑定重症肌無力症之檢測套組。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員曾錙翎
電話03-5912160
傳真03-5820445
電子信箱tzuling_tseng@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)

序號

9123

產出年度

101

領域別

生技醫藥

專利名稱-中文

檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

執行單位

工研院生醫所

產出單位

工研院生醫所

計畫名稱

生物標記商業應用開發計畫

專利發明人

曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

核准國家

新加坡

獲證日期

101/04/18

證書號碼

SG133458

專利期間起

101/03/30

專利期間訖

115/01/03

專利性質

發明

技術摘要-中文

本發明係為提供一種檢測自體抗體的方法,利用偵測可專一性與下列至少一種蛋白質鍵結的自體抗體,如一熱休克蛋白60、熱休克蛋白90α型、及熱休克蛋白90β型,來判斷該個體是否患有重症肌無力症。本發明亦提供鑑定重症肌無力症之檢測套組。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

曾錙翎

電話

03-5912160

傳真

03-5820445

電子信箱

tzuling_tseng@itri.org.tw

參考網址

(空)

備註

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特殊情形

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 法國 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,807,378 | 專利期間起: 99/10/05 | 專利期間訖: 114/12/28 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 診療用生物標記開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 瑞士 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 德國 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 英國 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 意大利 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 荷蘭 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I357979 | 專利期間起: 101/02/11 | 專利期間訖: 114/12/29 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 法國 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,807,378 | 專利期間起: 99/10/05 | 專利期間訖: 114/12/28 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 99 | 計畫名稱: 診療用生物標記開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 瑞士 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

@ 技術司專利資料集

檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 德國 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

@ 技術司專利資料集

檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 英國 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

@ 技術司專利資料集

檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 意大利 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

@ 技術司專利資料集

檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 荷蘭 | 證書號碼: EP1806582 | 專利期間起: 100/05/11 | 專利期間訖: 115/01/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 100 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

@ 技術司專利資料集

檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I357979 | 專利期間起: 101/02/11 | 專利期間訖: 114/12/29 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 101 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 日本 | 證書號碼: 4283812 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 98 | 計畫名稱: 診療用生物標記開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

@ 技術司專利資料集

檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組

核准國家: 日本 | 證書號碼: 4283812 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 98 | 計畫名稱: 診療用生物標記開發計畫 | 專利發明人: 曾錙翎 | 鄭平福 | 廖珮秀 | 邱浩彰 | 蔡世峰

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利用生物標記診斷糖尿病腎病變

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,465,980 | 專利期間起: 102/06/18 | 專利期間訖: 119/03/09 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 林微雅 | 葉亞平 | 曾錙翎 | 鄭平福 | 徐采薇 | 李泓毅 | 陳怡婷 | 林裕 | 陳金順

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利用生物標記診斷糖尿病腎病變

核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,465,980 | 專利期間起: 102/06/18 | 專利期間訖: 119/03/09 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院生醫所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 生物標記商業應用開發計畫 | 專利發明人: 林微雅 | 葉亞平 | 曾錙翎 | 鄭平福 | 徐采薇 | 李泓毅 | 陳怡婷 | 林裕 | 陳金順

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與檢測自體抗體之方法及鑑定重症肌無力症之套組同分類的技術司專利資料集

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

具有整波電路之高速雷射驅動器

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠

壓制電流分配的充放電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁

電力控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林

提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄

低頻率漂移數位頻率調制裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉

光學編碼器定位裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳

影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益

熱釋電型感測器信號轉換電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明

顯示裝置之檢測系統及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥

寬頻掃頻電路架構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山

光源產生裝置及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮

相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元

微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

發光元件的驅動控制電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明

具有整波電路之高速雷射驅動器

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠

壓制電流分配的充放電路

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁

電力控制電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林

提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄

低頻率漂移數位頻率調制裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉

光學編碼器定位裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳

影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益

熱釋電型感測器信號轉換電路

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明

顯示裝置之檢測系統及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥

寬頻掃頻電路架構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山

光源產生裝置及方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮

相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元

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