散射光學量測方法與裝置
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專利名稱-中文散射光學量測方法與裝置的核准國家是美國, 執行單位是工研院院本部, 產出年度是102, 專利性質是發明, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是徐得銘 ,周森益 ,顧逸霞, 證書號碼是8319971.

序號	11223
產出年度	102
領域別	創新前瞻
專利名稱-中文	散射光學量測方法與裝置
執行單位	工研院院本部
產出單位	工研院院本部
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	徐得銘 ,周森益 ,顧逸霞
核准國家	美國
獲證日期	102/01/31
證書號碼	8319971
專利期間起	101/11/27
專利期間訖	118/08/13
專利性質	發明
技術摘要-中文	本發明係提供一種散射光學量測方法與裝置，其係將散測技術整合到顯微量測裝置中，使顯微量測裝置可以量測的尺寸精度小於光學繞射極限。本發明之裝置係將經過適當擴束之均勻光源聚焦於物鏡組之背焦面，再投射至待測物上。並藉由改變光源聚焦於背焦面上之位置，以對待測物進行不同角度的照射。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	李露蘋
電話	03-5917812
傳真	03-5917431
電子信箱	oralp@itri.org.tw
參考網址	(空)
備註	(空)
特殊情形	(空)
同步更新日期	2019-07-24

序號

11223

產出年度

102

領域別

創新前瞻

專利名稱-中文

散射光學量測方法與裝置

執行單位

工研院院本部

產出單位

工研院院本部

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

徐得銘 ,周森益 ,顧逸霞

核准國家

美國

獲證日期

102/01/31

證書號碼

8319971

專利期間起

101/11/27

專利期間訖

118/08/13

專利性質

發明

技術摘要-中文

本發明係提供一種散射光學量測方法與裝置，其係將散測技術整合到顯微量測裝置中，使顯微量測裝置可以量測的尺寸精度小於光學繞射極限。本發明之裝置係將經過適當擴束之均勻光源聚焦於物鏡組之背焦面，再投射至待測物上。並藉由改變光源聚焦於背焦面上之位置，以對待測物進行不同角度的照射。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李露蘋

電話

03-5917812

傳真

03-5917431

電子信箱

oralp@itri.org.tw

參考網址

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備註

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特殊情形

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藝憬國際有限公司

統一編號: 28288166 | 電話號碼: 07-8318398 | 高雄市前鎮區明道3街13號

@ 出進口廠商登記資料

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散射光學量測方法與裝置

散射場顯微量測方法及裝置	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 100 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 周森益,董書屏,許維德,徐得銘,伍家麟,顧逸霞,宋昌海, \| 證書號碼: 7,872,741 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
散射場顯微量測方法及裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 101 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 周森益,董書屏,許維德,徐得銘,伍家麟,顧逸霞,宋昌海, \| 證書號碼: I378221 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
反射式散射儀	核准國家: 日本 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 100 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 徐得銘,顧逸霞,周森益,董書屏,許維德 \| 證書號碼: 4823289 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
反射式散射儀	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 100 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 徐得銘,顧逸霞,周森益,董書屏,許維德 \| 證書號碼: 7,864,324 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
反射式散射儀	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 徐得銘 ,顧逸霞 ,周森益 ,董書屏 ,許維德 \| 證書號碼: I408356 @ 經濟部產業技術司–專利資料集

揚聲器單體結構	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 陳明道 ,劉昌和 , \| 證書號碼: ZL200810211084.8 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
晶圓級模封接合結構及其製造方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 陸蘇財 ,莊敬業 ,林育民 \| 證書號碼: 8,384,215 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
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揚聲器單體結構	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 劉昌和 ,陳明道 \| 證書號碼: ZL200710184913.3 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
平面揚聲器單體與揚聲器裝置	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 劉昌和 ,陳明道 \| 證書號碼: ZL200910202828.4 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
平面揚聲器單體與揚聲器裝置	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 劉昌和 ,陳明道 \| 證書號碼: 8,391,520 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
照明裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 黃承揚 ,許詔開 \| 證書號碼: I402456 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
Amphiphilic block copolymers and nanoparticles comprising the same	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院生醫所 \| 產出年度: 104 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 智慧標靶藥物傳輸技術及應用開發計畫 \| 專利發明人: 謝明發, 張學曾, 陳進富, 張原嘉, 甘霈, 林才祐 \| 證書號碼: 8,940,333 @ 經濟部產業技術司–專利資料集

單相輸入調頻調積體解調器	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 李青峰 \| 證書號碼: 189588
微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱 \| 證書號碼: 192167
微控制器/微處理器在電磁干擾下之自動回復方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 柯明道, 宋尤昱 \| 證書號碼: 6,658,597
發光元件的驅動控制電路	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 蔡嘉明 \| 證書號碼: 185602
發光元件的驅動控制電路	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 蔡嘉明 \| 證書號碼: 6,735,228
具有整波電路之高速雷射驅動器	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 周明忠 \| 證書號碼: 6,798,802
壓制電流分配的充放電路	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 張毓仁 \| 證書號碼: 6,794,911
電力控制電路	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 新型 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林 \| 證書號碼: 214743
提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄 \| 證書號碼: 184318
低頻率漂移數位頻率調制裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 高炳文, 謝賜山, 紀秋棉 \| 證書號碼: 195328
光學編碼器定位裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳 \| 證書號碼: 193120
影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林俊育, 宋新岳, 羅偕益 \| 證書號碼: 200068
熱釋電型感測器信號轉換電路	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 涂鐘範, 林耀明 \| 證書號碼: 197821
顯示裝置之檢測系統及方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 田立芬, 葉峻毅, 楊福祥 \| 證書號碼: 220689
寬頻掃頻電路架構	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮, 謝賜山 \| 證書號碼: 198444

散射光學量測方法與裝置 - 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

序號

產出年度

領域別

專利名稱-中文

執行單位

產出單位

計畫名稱

專利發明人

核准國家

獲證日期

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專利期間起

專利期間訖

專利性質

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