專利名稱-中文畫面內預測模式最佳化方法與影像壓縮方法以及裝置的核准國家是中華民國, 證書號碼是I403175, 專利期間起是102/07/21, 專利期間訖是119/06/10, 專利性質是發明, 執行單位是工研院資通所, 產出年度是102, 計畫名稱是寬頻網路系統與匯流技術發展計畫, 專利發明人是李逸仙, 吳育明, 鍾文豪.
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| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,437,562 | 專利期間起: 102/05/07 | 專利期間訖: 120/11/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 李逸仙 | 吳育明 | 鍾文豪 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8437562 | 專利期間起: 102/05/07 | 專利期間訖: 120/11/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 李逸仙 | 吳育明 | 鍾文豪 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,437,562 | 專利期間起: 102/05/07 | 專利期間訖: 120/11/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 李逸仙 | 吳育明 | 鍾文豪 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8437562 | 專利期間起: 102/05/07 | 專利期間訖: 120/11/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 李逸仙 | 吳育明 | 鍾文豪 @ 技術司專利資料集 |
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| 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL201010220007.6 | 專利期間起: 119/06/24 | 專利期間訖: 畫面內預測模式最佳化方法,以及相關之影像編碼技術。畫面內預測模式最佳化方法包括:自影像畫面一目標區塊的參考區塊中擇一,作為一對照區塊;以該對照區塊所採用之預測模式為一對照模式;以及評比該對照模式下,該... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 寬頻匯流系統與整合技術發展計畫 | 專利發明人: 李逸仙 | 吳育明 | 鍾文豪 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL201010220007.6 | 專利期間起: 119/06/24 | 專利期間訖: 畫面內預測模式最佳化方法,以及相關之影像編碼技術。畫面內預測模式最佳化方法包括:自影像畫面一目標區塊的參考區塊中擇一,作為一對照區塊;以該對照區塊所採用之預測模式為一對照模式;以及評比該對照模式下,該... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 寬頻匯流系統與整合技術發展計畫 | 專利發明人: 李逸仙 | 吳育明 | 鍾文豪 @ 技術司專利資料集 |
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(以下顯示 8 筆) (或要:直接搜尋所有 03-591-4409 ...) | 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I389466 | 專利期間起: 102/03/11 | 專利期間訖: 119/03/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 劉家維 | 許崇仁 | 曾銘健 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I386067 | 專利期間起: 102/02/11 | 專利期間訖: 118/03/05 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 徐榮建 | 鄭合詞 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 日本 | 證書號碼: 5208777 | 專利期間起: 102/03/01 | 專利期間訖: 118/01/13 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 楊淳良 | 徐達儒 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I385958 | 專利期間起: 102/02/11 | 專利期間訖: 118/03/19 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 林玉明 | 田伯隆 | 楊啟瑞 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 德國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 法國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 英國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I389467 | 專利期間起: 102/03/11 | 專利期間訖: 118/04/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I389466 | 專利期間起: 102/03/11 | 專利期間訖: 119/03/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 劉家維 | 許崇仁 | 曾銘健 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I386067 | 專利期間起: 102/02/11 | 專利期間訖: 118/03/05 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 徐榮建 | 鄭合詞 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 日本 | 證書號碼: 5208777 | 專利期間起: 102/03/01 | 專利期間訖: 118/01/13 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 楊淳良 | 徐達儒 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I385958 | 專利期間起: 102/02/11 | 專利期間訖: 118/03/19 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 林玉明 | 田伯隆 | 楊啟瑞 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 德國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 法國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 英國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I389467 | 專利期間起: 102/03/11 | 專利期間訖: 118/04/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
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| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192948 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,763,230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189588 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李青峰 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192948 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,763,230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189588 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李青峰 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
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