專利名稱-中文保護及傳送多載波通訊系統中降低峰均值功率比所需之側訊息的系統與方法的核准國家是德國, 證書號碼是DE10332857, 專利期間起是102/01/03, 專利期間訖是112/07/17, 專利性質是發明, 執行單位是工研院資通所, 產出年度是102, 計畫名稱是寬頻網路系統與匯流技術發展計畫, 專利發明人是馮治軍, 洪永華, 王志耀, 林俊佑.
根據名稱 保護及傳送多載波通訊系統中降低峰均值功率比所需之側訊息的系統與方法 找到的相關資料
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I257794 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 95 | 計畫名稱: 寬頻無線通訊關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 馮治軍 | 洪永華 | 王志耀 | 林俊佑 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,321,629 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 97 | 計畫名稱: 寬頻無線通訊關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 馮治軍 洪永華 王志耀 林俊佑 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 7321629 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 97 | 計畫名稱: 寬頻無線通訊關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 馮治軍 洪永華 王志耀 林俊佑 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I257794 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 95 | 計畫名稱: 寬頻無線通訊關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 馮治軍 | 洪永華 | 王志耀 | 林俊佑 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 7,321,629 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 97 | 計畫名稱: 寬頻無線通訊關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 馮治軍 洪永華 王志耀 林俊佑 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 7321629 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 97 | 計畫名稱: 寬頻無線通訊關鍵技術發展計畫 | 專利發明人: 馮治軍 洪永華 王志耀 林俊佑 @ 技術司專利資料集 |
[ 搜尋所有 馮治軍 洪永華 王志耀 林俊佑 ... ]
根據電話 03-591-4409 找到的相關資料
(以下顯示 8 筆) (或要:直接搜尋所有 03-591-4409 ...) | 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I389466 | 專利期間起: 102/03/11 | 專利期間訖: 119/03/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 劉家維 | 許崇仁 | 曾銘健 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I386067 | 專利期間起: 102/02/11 | 專利期間訖: 118/03/05 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 徐榮建 | 鄭合詞 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 日本 | 證書號碼: 5208777 | 專利期間起: 102/03/01 | 專利期間訖: 118/01/13 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 楊淳良 | 徐達儒 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I385958 | 專利期間起: 102/02/11 | 專利期間訖: 118/03/19 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 林玉明 | 田伯隆 | 楊啟瑞 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 德國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 法國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 英國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I389467 | 專利期間起: 102/03/11 | 專利期間訖: 118/04/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I389466 | 專利期間起: 102/03/11 | 專利期間訖: 119/03/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 劉家維 | 許崇仁 | 曾銘健 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I386067 | 專利期間起: 102/02/11 | 專利期間訖: 118/03/05 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 徐榮建 | 鄭合詞 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 日本 | 證書號碼: 5208777 | 專利期間起: 102/03/01 | 專利期間訖: 118/01/13 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 楊淳良 | 徐達儒 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I385958 | 專利期間起: 102/02/11 | 專利期間訖: 118/03/19 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 林玉明 | 田伯隆 | 楊啟瑞 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 德國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 法國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 英國 | 證書號碼: EP2239844 | 專利期間起: 102/04/03 | 專利期間訖: 119/02/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I389467 | 專利期間起: 102/03/11 | 專利期間訖: 118/04/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 寬頻網路系統與匯流技術發展計畫 | 專利發明人: 侯信安 @ 技術司專利資料集 |
[ 搜尋所有 03-591-4409 ... ]
在『技術司專利資料集』資料集內搜尋:
與保護及傳送多載波通訊系統中降低峰均值功率比所需之側訊息的系統與方法同分類的技術司專利資料集
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,763,230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189588 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李青峰 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,763,230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 鄭丁元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 189588 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李青峰 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192167 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,658,597 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 柯明道 | 宋尤昱 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 185602 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,735,228 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 蔡嘉明 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,798,802 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 周明忠 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥 |
|