二階重排多項式交織器位址產生裝置與方法
- 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文二階重排多項式交織器位址產生裝置與方法的核准國家是中華民國, 執行單位是工研院資通所, 產出年度是102, 專利性質是發明, 計畫名稱是新世代行動通訊技術發展計畫, 專利發明人是李順吉, 王忠炫, 沈文和, 證書號碼是I381653.

序號	12211
產出年度	102
領域別	電資通光
專利名稱-中文	二階重排多項式交織器位址產生裝置與方法
執行單位	工研院資通所
產出單位	工研院資通所
計畫名稱	新世代行動通訊技術發展計畫
專利發明人	李順吉, 王忠炫, 沈文和
核准國家	中華民國
獲證日期	102/01/14
證書號碼	I381653
專利期間起	102/01/01
專利期間訖	118/09/10
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種二階重排多項式交織器位址產生裝置，包含一基礎遞迴單元、以及表示為第一至第L遞迴單元的L個遞迴單元，L是大於1的整數。此裝置根據QPP函數Π(i)=(f1i +f2i 2) mod k，輸入數個可配置參數，並藉由此基礎遞迴單元依序產生出多個交織器位址，藉由此第一至第L遞迴單元平行產生出L組相對應的交織器位址，其中，Π(i)是此裝置產生的第i個交織器位址，f1與f2是QPP係數，k是一輸入序列的資訊區塊長度，0≦i≦k-1。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	曾斌凱
電話	03591-4454
傳真	03582-0269
電子信箱	Binkaitseng@itri.org.tw
參考網址	http://N/A
備註	(空)
特殊情形	(空)
同步更新日期	2019-07-24

序號

12211

產出年度

102

領域別

電資通光

專利名稱-中文

二階重排多項式交織器位址產生裝置與方法

執行單位

工研院資通所

產出單位

工研院資通所

計畫名稱

新世代行動通訊技術發展計畫

專利發明人

李順吉, 王忠炫, 沈文和

核准國家

中華民國

獲證日期

102/01/14

證書號碼

I381653

專利期間起

102/01/01

專利期間訖

118/09/10

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種二階重排多項式交織器位址產生裝置，包含一基礎遞迴單元、以及表示為第一至第L遞迴單元的L個遞迴單元，L是大於1的整數。此裝置根據QPP函數Π(i)=(f1i +f2i 2) mod k，輸入數個可配置參數，並藉由此基礎遞迴單元依序產生出多個交織器位址，藉由此第一至第L遞迴單元平行產生出L組相對應的交織器位址，其中，Π(i)是此裝置產生的第i個交織器位址，f1與f2是QPP係數，k是一輸入序列的資訊區塊長度，0≦i≦k-1。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

曾斌凱

電話

03591-4454

傳真

03582-0269

電子信箱

Binkaitseng@itri.org.tw

參考網址

http://N/A

備註

(空)

特殊情形

(空)

同步更新日期

2019-07-24

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二階重排多項式交織器位址產生裝置與方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院資通所 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 新世代行動通訊技術發展計畫 \| 專利發明人: 李順吉, 王忠炫, 沈文和 \| 證書號碼: 8332701 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
二階重排多項式交織器位址產生裝置與方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院資通所 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 新世代行動通訊技術發展計畫 \| 專利發明人: 李順吉, 沈文和, 王忠炫 \| 證書號碼: 8468410 @ 經濟部產業技術司–專利資料集

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發光元件的驅動控制電路	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 蔡嘉明 \| 證書號碼: 185602
發光元件的驅動控制電路	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 蔡嘉明 \| 證書號碼: 6,735,228
具有整波電路之高速雷射驅動器	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 周明忠 \| 證書號碼: 6,798,802
壓制電流分配的充放電路	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 張毓仁 \| 證書號碼: 6,794,911
電力控制電路	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 新型 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林 \| 證書號碼: 214743
提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄 \| 證書號碼: 184318
低頻率漂移數位頻率調制裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 高炳文, 謝賜山, 紀秋棉 \| 證書號碼: 195328
光學編碼器定位裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳 \| 證書號碼: 193120
影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林俊育, 宋新岳, 羅偕益 \| 證書號碼: 200068
熱釋電型感測器信號轉換電路	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 涂鐘範, 林耀明 \| 證書號碼: 197821
顯示裝置之檢測系統及方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 田立芬, 葉峻毅, 楊福祥 \| 證書號碼: 220689
寬頻掃頻電路架構	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮, 謝賜山 \| 證書號碼: 198444
光源產生裝置及方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮 \| 證書號碼: 200164
相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 楊景榮, 高清芬, 陳譽元 \| 證書號碼: 206753
新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 葉清銘, 陳燦林, 陳譽元 \| 證書號碼: 206450

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領域別

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執行單位

產出單位

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