最大相似度檢測方法與系統
- 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文最大相似度檢測方法與系統的核准國家是中國大陸, 執行單位是工研院資通所, 產出年度是102, 專利性質是發明, 計畫名稱是新世代行動通訊技術發展計畫, 專利發明人是陳慶鴻, 謝雨滔, 許仁源, 丁邦安, 證書號碼是ZL200710162150.2.

序號12227
產出年度102
領域別電資通光
專利名稱-中文最大相似度檢測方法與系統
執行單位工研院資通所
產出單位工研院資通所
計畫名稱新世代行動通訊技術發展計畫
專利發明人陳慶鴻, 謝雨滔, 許仁源, 丁邦安
核准國家中國大陸
獲證日期102/03/01
證書號碼ZL200710162150.2
專利期間起102/01/16
專利期間訖116/12/20
專利性質發明
技術摘要-中文一種最大相似度偵測方法。處理接收資料以取得複數個參數,並設定一初始半徑。根據該等參數執行一搜尋程序,並以一限制函數決定每一階層部份歐氏距離之上限值,依據該等上限值判斷一子晶格是否超過一搜尋範圍。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員曾斌凱
電話03591-4470
傳真03582-0285
電子信箱Binkaitseng@itri.org.tw
參考網址http://N/A
備註(空)
特殊情形(空)
同步更新日期2019-07-24

序號

12227

產出年度

102

領域別

電資通光

專利名稱-中文

最大相似度檢測方法與系統

執行單位

工研院資通所

產出單位

工研院資通所

計畫名稱

新世代行動通訊技術發展計畫

專利發明人

陳慶鴻, 謝雨滔, 許仁源, 丁邦安

核准國家

中國大陸

獲證日期

102/03/01

證書號碼

ZL200710162150.2

專利期間起

102/01/16

專利期間訖

116/12/20

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種最大相似度偵測方法。處理接收資料以取得複數個參數,並設定一初始半徑。根據該等參數執行一搜尋程序,並以一限制函數決定每一階層部份歐氏距離之上限值,依據該等上限值判斷一子晶格是否超過一搜尋範圍。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

曾斌凱

電話

03591-4470

傳真

03582-0285

電子信箱

Binkaitseng@itri.org.tw

參考網址

http://N/A

備註

(空)

特殊情形

(空)

同步更新日期

2019-07-24

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最大相似度偵測方法與系統

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代行動通訊技術發展計畫 | 專利發明人: 陳慶鴻,謝雨滔,許仁源,丁邦安 | 證書號碼: 8,042,031

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

最大相似度偵測方法與系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 101 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代行動通訊技術發展計畫 | 專利發明人: 陳慶鴻,謝雨滔,許仁源,丁邦安 | 證書號碼: I373936

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

最大相似度偵測方法與系統

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 100 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代行動通訊技術發展計畫 | 專利發明人: 陳慶鴻,謝雨滔,許仁源,丁邦安 | 證書號碼: 8,042,031

@ 經濟部產業技術司–專利資料集

最大相似度偵測方法與系統

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 101 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 新世代行動通訊技術發展計畫 | 專利發明人: 陳慶鴻,謝雨滔,許仁源,丁邦安 | 證書號碼: I373936

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多層膜資訊儲存媒體之製作方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 楊惠雯, 廖文毅, 鄭尊仁, 黃建喨, 黃得瑞, 鄭懷瑜 | 證書號碼: 190370

多層膜資訊儲存媒體之製作方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 楊惠雯, 廖文毅, 鄭尊仁, 黃建喨, 黃得瑞, 鄭懷瑜 | 證書號碼: 6,797,090

多層膜可蓋寫型資訊儲存媒體

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林志銘, 廖文毅, 鄭尊仁, 顏文信, 楊惠雯 | 證書號碼: 197221

氧化侷限型之垂直共振腔面射型雷射元件及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 江文章, 宋嘉斌, 楊泓斌, 尤信介 | 證書號碼: 192770

矽晶基板之微小反射鏡加工法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 蘇忠傑 | 證書號碼: 6,695,455

次微米解析度光學同調斷層攝影技術

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 孫啟光 | 證書號碼: I223719

被動式電激發光二極體陣列的驅動方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 何貫睿 | 證書號碼: 190526

基於動態影像壓縮標準之階層式物件切割法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 甘敏成, 郭鐘榮, 吳國瑞, 蔡孟翰 | 證書號碼: 188953

位相差式防偽方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王迺岳, 蔡朝旭 | 證書號碼: 6,667,797

微透鏡之製作方法及其製造裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳錦泰 | 證書號碼: I224210

噴墨頭晶片封裝結構及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 許法源, 胡紀平 | 證書號碼: 195329

一種快速尋找列印頻率以獲得立體影像的方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 連健淋, 黃偉倫 | 證書號碼: 220506

三維度影像接合處之色彩處理方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳佳綸 | 證書號碼: 200533

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核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 周宏隆, 陳加珍 | 證書號碼: 206727

有機發光元件

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 蔡榮源, 張嘉帥, 趙清煙, 崋沐怡 | 證書號碼: 204036

多層膜資訊儲存媒體之製作方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 楊惠雯, 廖文毅, 鄭尊仁, 黃建喨, 黃得瑞, 鄭懷瑜 | 證書號碼: 190370

多層膜資訊儲存媒體之製作方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 楊惠雯, 廖文毅, 鄭尊仁, 黃建喨, 黃得瑞, 鄭懷瑜 | 證書號碼: 6,797,090

多層膜可蓋寫型資訊儲存媒體

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林志銘, 廖文毅, 鄭尊仁, 顏文信, 楊惠雯 | 證書號碼: 197221

氧化侷限型之垂直共振腔面射型雷射元件及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 江文章, 宋嘉斌, 楊泓斌, 尤信介 | 證書號碼: 192770

矽晶基板之微小反射鏡加工法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 蘇忠傑 | 證書號碼: 6,695,455

次微米解析度光學同調斷層攝影技術

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 孫啟光 | 證書號碼: I223719

被動式電激發光二極體陣列的驅動方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 何貫睿 | 證書號碼: 190526

基於動態影像壓縮標準之階層式物件切割法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 甘敏成, 郭鐘榮, 吳國瑞, 蔡孟翰 | 證書號碼: 188953

位相差式防偽方法

核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王迺岳, 蔡朝旭 | 證書號碼: 6,667,797

微透鏡之製作方法及其製造裝置

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳錦泰 | 證書號碼: I224210

噴墨頭晶片封裝結構及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 許法源, 胡紀平 | 證書號碼: 195329

一種快速尋找列印頻率以獲得立體影像的方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 連健淋, 黃偉倫 | 證書號碼: 220506

三維度影像接合處之色彩處理方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳佳綸 | 證書號碼: 200533

三維模型之階層式紋理貼圖處理方法

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 周宏隆, 陳加珍 | 證書號碼: 206727

有機發光元件

核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 蔡榮源, 張嘉帥, 趙清煙, 崋沐怡 | 證書號碼: 204036

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