注入鎖定分頻器
- 技術司專利資料集 @ 經濟部
專利名稱-中文注入鎖定分頻器的核准國家是中國大陸, 證書號碼是ZL201010274917.2, 專利期間起是119/09/05, 專利期間訖是一種注入鎖定除頻器,包括注入電晶體、振盪器、電流源,以及變壓器。其中,注入電晶體用以接收一注入訊號。振盪器用以對所述注入訊號進行除頻而產生一除頻訊號。電流源耦接振盪器,用以提供一電流給振盪器。變壓器耦接於注入電晶體與振盪器之間,用以提升注入電晶體的等效轉導,從而增加注入鎖定除頻器的鎖定範圍。, 專利性質是發明, 執行單位是工研院院本部, 產出年度是103, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是張鴻埜 ,葉彥良 ,張家宏 ,陳俊仁.
序號 | 13342 |
產出年度 | 103 |
領域別 | 服務創新 |
專利名稱-中文 | 注入鎖定分頻器 |
執行單位 | 工研院院本部 |
產出單位 | 工研院資通所 |
計畫名稱 | 工研院創新前瞻技術研究計畫 |
專利發明人 | 張鴻埜 | 葉彥良 | 張家宏 | 陳俊仁 |
核准國家 | 中國大陸 |
獲證日期 | 103/06/18 |
證書號碼 | ZL201010274917.2 |
專利期間起 | 119/09/05 |
專利期間訖 | 一種注入鎖定除頻器,包括注入電晶體、振盪器、電流源,以及變壓器。其中,注入電晶體用以接收一注入訊號。振盪器用以對所述注入訊號進行除頻而產生一除頻訊號。電流源耦接振盪器,用以提供一電流給振盪器。變壓器耦接於注入電晶體與振盪器之間,用以提升注入電晶體的等效轉導,從而增加注入鎖定除頻器的鎖定範圍。 |
專利性質 | 發明 |
技術摘要-中文 | 一種注入鎖定除頻器,包括注入電晶體、振盪器、電流源,以及變壓器。其中,注入電晶體用以接收一注入訊號。振盪器用以對所述注入訊號進行除頻而產生一除頻訊號。電流源耦接振盪器,用以提供一電流給振盪器。變壓器耦接於注入電晶體與振盪器之間,用以提升注入電晶體的等效轉導,從而增加注入鎖定除頻器的鎖定範圍。 |
技術摘要-英文 | (空) |
聯絡人員 | 李露蘋 |
電話 | 03-5918064 |
傳真 | 03-5917683 |
電子信箱 | noralp@itri.org.tw |
參考網址 | (空) |
備註 | (空) |
特殊情形 | (空) |
序號13342 |
產出年度103 |
領域別服務創新 |
專利名稱-中文注入鎖定分頻器 |
執行單位工研院院本部 |
產出單位工研院資通所 |
計畫名稱工研院創新前瞻技術研究計畫 |
專利發明人張鴻埜 | 葉彥良 | 張家宏 | 陳俊仁 |
核准國家中國大陸 |
獲證日期103/06/18 |
證書號碼ZL201010274917.2 |
專利期間起119/09/05 |
專利期間訖一種注入鎖定除頻器,包括注入電晶體、振盪器、電流源,以及變壓器。其中,注入電晶體用以接收一注入訊號。振盪器用以對所述注入訊號進行除頻而產生一除頻訊號。電流源耦接振盪器,用以提供一電流給振盪器。變壓器耦接於注入電晶體與振盪器之間,用以提升注入電晶體的等效轉導,從而增加注入鎖定除頻器的鎖定範圍。 |
專利性質發明 |
技術摘要-中文一種注入鎖定除頻器,包括注入電晶體、振盪器、電流源,以及變壓器。其中,注入電晶體用以接收一注入訊號。振盪器用以對所述注入訊號進行除頻而產生一除頻訊號。電流源耦接振盪器,用以提供一電流給振盪器。變壓器耦接於注入電晶體與振盪器之間,用以提升注入電晶體的等效轉導,從而增加注入鎖定除頻器的鎖定範圍。 |
技術摘要-英文(空) |
聯絡人員李露蘋 |
電話03-5918064 |
傳真03-5917683 |
電子信箱noralp@itri.org.tw |
參考網址(空) |
備註(空) |
特殊情形(空) |
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| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8390343 | 專利期間起: 102/03/05 | 專利期間訖: 120/02/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張鴻埜 | 葉彥良 | 張家宏 | 陳俊仁 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,493,105 | 專利期間起: 102/07/23 | 專利期間訖: 120/05/10 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: 張鴻埜 | 葉彥良 | 張家宏 | 陳俊仁 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I431943 | 專利期間起: 119/07/19 | 專利期間訖: 一種注入鎖定除頻器,包括注入電晶體、振盪器、電流源,以及變壓器。其中,注入電晶體用以接收一注入訊號。振盪器用以對所述注入訊號進行除頻而產生一除頻訊號。電流源耦接振盪器,用以提供一電流給振盪器。變壓器耦... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張鴻埜 | 葉彥良 | 張家宏 | 陳俊仁 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8493105 | 專利期間起: 102/07/23 | 專利期間訖: 120/05/10 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: 張鴻埜 | 葉彥良 | 張家宏 | 陳俊仁 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8390343 | 專利期間起: 102/03/05 | 專利期間訖: 120/02/07 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張鴻埜 | 葉彥良 | 張家宏 | 陳俊仁 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,493,105 | 專利期間起: 102/07/23 | 專利期間訖: 120/05/10 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: 張鴻埜 | 葉彥良 | 張家宏 | 陳俊仁 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I431943 | 專利期間起: 119/07/19 | 專利期間訖: 一種注入鎖定除頻器,包括注入電晶體、振盪器、電流源,以及變壓器。其中,注入電晶體用以接收一注入訊號。振盪器用以對所述注入訊號進行除頻而產生一除頻訊號。電流源耦接振盪器,用以提供一電流給振盪器。變壓器耦... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張鴻埜 | 葉彥良 | 張家宏 | 陳俊仁 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8493105 | 專利期間起: 102/07/23 | 專利期間訖: 120/05/10 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 102 | 計畫名稱: 3D積體電路關鍵技術及應用發展計畫 | 專利發明人: 張鴻埜 | 葉彥良 | 張家宏 | 陳俊仁 @ 技術司專利資料集 |
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| 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL201110065895.3 | 專利期間起: 120/03/17 | 專利期間訖: 一種微波電漿激發裝置,包括一電漿反應腔室、一金屬窗框、具有多個窗口之多個窗格、多個微波發射機以及多個導波管。所述金屬窗框設置於電漿反應腔室的一面。窗格設置於金屬窗框的窗口內,微波發射機則設置於電漿反應... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張志振 | 黃昆平 | 謝宇澤 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200810085399.2 | 專利期間起: 117/03/12 | 專利期間訖: 本發明之範例提供了前置編碼裝置與前置解碼裝置。其中,前置編碼裝置採用多個前置編碼單元與多個插序器的串接結構來進行前置編碼,而前置解碼裝置採用多個前置解碼單元與多個反插序器的串接結構來進行前置解碼。因此... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王煥宗 | 黃德振 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8605803 | 專利期間起: 120/11/03 | 專利期間訖: 一種自行動台產生用於上行傳輸的預編碼器的方法與裝置。方法包括接收對應一第一預編碼矩陣和一第二預編碼矩陣的資訊,並藉由線性組合第一預編碼矩陣和第二預編碼矩陣產生預編碼器。其中第一預編碼矩陣最大化行動台和... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 郭秉衡 | 丁邦安 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8665098 | 專利期間起: 119/09/19 | 專利期間訖: 一種非接觸式擾動感測裝置包括:至少一接收天線,用以接收一第一無線射頻信號;至少一發射天線,用以發射一第二無線射頻信號至一待測對象,該待測對象反射該第二無線射頻信號成為該第一無線射頻信號;一壓控振盪器,... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 趙哲寬 | 吳秉勳 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I432062 | 專利期間起: 118/11/12 | 專利期間訖: 一種組播廣播服務區域裡可靠同步裝置,此組播廣播服務區域之m個同步執行器分屬n個重傳區,每一重傳區中,選出一領導同步執行器,其餘是組員同步執行器。此裝置包含一同步控制器及此n個選出的領導同步執行器,當同... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 郭維翰 | 劉家隆 | 王瑞堂 | 楊人順 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I432040 | 專利期間起: 120/05/16 | 專利期間訖: 本揭露提供一種認證方法、金鑰分配方法以及認證與金鑰分配方法。所述方法適用於機器對機器通信,且包括以下步驟。至少一行動台傳送包括至少一第一安全認證資料的應用程式要求至一網路應用實體,而此第一安全認證資料... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王瑞堂 | 黃貴笠 | Shubhranshu Singh | 葛達 | 楊人順 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I431995 | 專利期間起: 120/03/17 | 專利期間訖: 一種在毫微型基地台中具有應用層閘道支援網路位址轉換的區域IP存取的方法,允許經由家用e節點或其它毫微型基地台種類而連結的,並且具有IP能力的使用者設備來使用區域IP存取,以與相同IP網路之其它具有IP... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 葛達 | 楊人順 | 王瑞堂 | Shubhranshu Singh | 黃貴笠 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL201110065895.3 | 專利期間起: 120/03/17 | 專利期間訖: 一種微波電漿激發裝置,包括一電漿反應腔室、一金屬窗框、具有多個窗口之多個窗格、多個微波發射機以及多個導波管。所述金屬窗框設置於電漿反應腔室的一面。窗格設置於金屬窗框的窗口內,微波發射機則設置於電漿反應... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張志振 | 黃昆平 | 謝宇澤 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: ZL200810085399.2 | 專利期間起: 117/03/12 | 專利期間訖: 本發明之範例提供了前置編碼裝置與前置解碼裝置。其中,前置編碼裝置採用多個前置編碼單元與多個插序器的串接結構來進行前置編碼,而前置解碼裝置採用多個前置解碼單元與多個反插序器的串接結構來進行前置解碼。因此... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王煥宗 | 黃德振 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8605803 | 專利期間起: 120/11/03 | 專利期間訖: 一種自行動台產生用於上行傳輸的預編碼器的方法與裝置。方法包括接收對應一第一預編碼矩陣和一第二預編碼矩陣的資訊,並藉由線性組合第一預編碼矩陣和第二預編碼矩陣產生預編碼器。其中第一預編碼矩陣最大化行動台和... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 郭秉衡 | 丁邦安 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8665098 | 專利期間起: 119/09/19 | 專利期間訖: 一種非接觸式擾動感測裝置包括:至少一接收天線,用以接收一第一無線射頻信號;至少一發射天線,用以發射一第二無線射頻信號至一待測對象,該待測對象反射該第二無線射頻信號成為該第一無線射頻信號;一壓控振盪器,... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 趙哲寬 | 吳秉勳 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I432062 | 專利期間起: 118/11/12 | 專利期間訖: 一種組播廣播服務區域裡可靠同步裝置,此組播廣播服務區域之m個同步執行器分屬n個重傳區,每一重傳區中,選出一領導同步執行器,其餘是組員同步執行器。此裝置包含一同步控制器及此n個選出的領導同步執行器,當同... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 郭維翰 | 劉家隆 | 王瑞堂 | 楊人順 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I432040 | 專利期間起: 120/05/16 | 專利期間訖: 本揭露提供一種認證方法、金鑰分配方法以及認證與金鑰分配方法。所述方法適用於機器對機器通信,且包括以下步驟。至少一行動台傳送包括至少一第一安全認證資料的應用程式要求至一網路應用實體,而此第一安全認證資料... | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院院本部 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王瑞堂 | 黃貴笠 | Shubhranshu Singh | 葛達 | 楊人順 @ 技術司專利資料集 |
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| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光 |
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