發光元件及其製作方法
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專利名稱-中文發光元件及其製作方法的核准國家是中華民國, 執行單位是工研院院本部, 產出年度是103, 專利性質是發明, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是顏璽軒 ,林瑞映 ,吳明憲, 證書號碼是I443876.

序號	13402
產出年度	103
領域別	服務創新
專利名稱-中文	發光元件及其製作方法
執行單位	工研院院本部
產出單位	工研院電光所
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	顏璽軒 ,林瑞映 ,吳明憲
核准國家	中華民國
獲證日期	103/07/01
證書號碼	I443876
專利期間起	120/11/15
專利期間訖	一種發光元件及其製作方法。發光元件包括一基板、一發光二極體晶粒陣列以及一準直柱體陣列，其中發光二極體晶粒陣列位於基板以及準直柱體陣列之間，其中發光二極體晶粒陣列具有多個發光二極體晶粒，而準直柱體陣列具有多個準直柱體，且每一準直柱體相對遠離基板的一頂面為一不平整的斷裂表面。
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種發光元件及其製作方法。發光元件包括一基板、一發光二極體晶粒陣列以及一準直柱體陣列，其中發光二極體晶粒陣列位於基板以及準直柱體陣列之間，其中發光二極體晶粒陣列具有多個發光二極體晶粒，而準直柱體陣列具有多個準直柱體，且每一準直柱體相對遠離基板的一頂面為一不平整的斷裂表面。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	李露蘋
電話	03-5918064
傳真	03-5917683
電子信箱	oralp@itri.org.tw
參考網址	(空)
備註	(空)
特殊情形	(空)
同步更新日期	2019-07-24

序號

13402

產出年度

103

領域別

服務創新

專利名稱-中文

發光元件及其製作方法

執行單位

工研院院本部

產出單位

工研院電光所

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

顏璽軒 ,林瑞映 ,吳明憲

核准國家

中華民國

獲證日期

103/07/01

證書號碼

I443876

專利期間起

120/11/15

專利期間訖

一種發光元件及其製作方法。發光元件包括一基板、一發光二極體晶粒陣列以及一準直柱體陣列，其中發光二極體晶粒陣列位於基板以及準直柱體陣列之間，其中發光二極體晶粒陣列具有多個發光二極體晶粒，而準直柱體陣列具有多個準直柱體，且每一準直柱體相對遠離基板的一頂面為一不平整的斷裂表面。

專利性質

發明

技術摘要-中文

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李露蘋

電話

03-5918064

傳真

03-5917683

電子信箱

oralp@itri.org.tw

參考網址

(空)

備註

(空)

特殊情形

(空)

同步更新日期

2019-07-24

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發光元件及其製作方法	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 99 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 高效能半導體光源及應用技術計畫 \| 專利發明人: 盧建均 ,郭家泰 ,許鎮鵬 ,胡鴻烈 ,孫健仁 , \| 證書號碼: ZL200810132230.8 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
發光元件及其製作方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 光電半導體元件與系統應用關鍵計畫 \| 專利發明人: 盧建均 ,郭家泰 ,許鎮鵬 ,胡鴻烈 ,孫健仁 , \| 證書號碼: 8,368,099 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
發光元件及其製作方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 光電半導體元件與系統應用關鍵計畫 \| 專利發明人: 盧建均 ,郭家泰 ,許鎮鵬 ,胡鴻烈 ,孫健仁 , \| 證書號碼: I401820 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
發光元件及其製作方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 104 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 光電半導體元件與系統應用關鍵計畫 \| 專利發明人: 謝佳芬 ,盧建均 ,姜雅惠 ,許鎮鵬 ,胡鴻烈 \| 證書號碼: 8,946,987 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
發光元件及其製作方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林明德 ,林明耀 ,戴光佑 , \| 證書號碼: I384646 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
電激發光元件及其製作方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 102 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 陳國峰 ,錢玉涵 ,張志嘉 \| 證書號碼: I388239 @ 經濟部產業技術司–專利資料集

發光元件及其製作方法

毫微型基地台中具有應用層閘道支援網路位址轉換的區域網際網路通訊協定存取系統與方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 葛達 ,楊人順 ,王瑞堂 ,Shubhranshu Singh ,黃貴笠 \| 證書號碼: I431995 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
微波等離子體激發裝置	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 張志振 ,黃昆平 ,謝宇澤 \| 證書號碼: ZL201110065895.3 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
前置編碼與解碼的系統、裝置及方法	核准國家: 中國大陸 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 王煥宗 ,黃德振 , \| 證書號碼: ZL200810085399.2 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
減少上行傳輸多基地台干擾的裝置及方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 郭秉衡 ,丁邦安 \| 證書號碼: 8605803 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
非接觸式擾動感測裝置	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 趙哲寬 ,吳秉勳 \| 證書號碼: 8665098 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
組播廣播服務區域裡可靠同步裝置與方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 郭維翰 ,劉家隆 ,王瑞堂 ,楊人順 \| 證書號碼: I432062 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
認證方法、金鑰分配方法及認證與金鑰分配方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 王瑞堂 ,黃貴笠 ,Shubhranshu Singh ,葛達 ,楊人順 \| 證書號碼: I432040 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
注入鎖定除頻器	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 張鴻埜 ,葉彥良 ,張家宏 ,陳俊仁 \| 證書號碼: I431943 @ 經濟部產業技術司–專利資料集

發光元件的驅動控制電路	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 蔡嘉明 \| 證書號碼: 185602
發光元件的驅動控制電路	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 蔡嘉明 \| 證書號碼: 6,735,228
具有整波電路之高速雷射驅動器	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 周明忠 \| 證書號碼: 6,798,802
壓制電流分配的充放電路	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 張毓仁 \| 證書號碼: 6,794,911
電力控制電路	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 新型 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 陳盛仁, 楊景榮, 林俊宏, 陳燦林 \| 證書號碼: 214743
提高掃頻電路頻率解析與準確度之系統	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮,黃俊雄 \| 證書號碼: 184318
低頻率漂移數位頻率調制裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 高炳文, 謝賜山, 紀秋棉 \| 證書號碼: 195328
光學編碼器定位裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳 \| 證書號碼: 193120
影像偵測元件與其與待測物件相對移動方向之垂直偏移度量測方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林俊育, 宋新岳, 羅偕益 \| 證書號碼: 200068
熱釋電型感測器信號轉換電路	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 涂鐘範, 林耀明 \| 證書號碼: 197821
顯示裝置之檢測系統及方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 田立芬, 葉峻毅, 楊福祥 \| 證書號碼: 220689
寬頻掃頻電路架構	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮, 謝賜山 \| 證書號碼: 198444
光源產生裝置及方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮 \| 證書號碼: 200164
相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 楊景榮, 高清芬, 陳譽元 \| 證書號碼: 206753
新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 葉清銘, 陳燦林, 陳譽元 \| 證書號碼: 206450

發光元件及其製作方法 - 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

序號

產出年度

領域別

專利名稱-中文

執行單位

產出單位

計畫名稱

專利發明人

核准國家

獲證日期

證書號碼

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專利期間訖

專利性質

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