具有自我測試的像素陣列模組及其自我測試方法
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專利名稱-中文具有自我測試的像素陣列模組及其自我測試方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是I457575, 專利期間起是121/04/05, 專利期間訖是一種具有自我測試的像素陣列模組,包括一測試電路單元、多條測試訊號線以及一像素陣列。測試電路單元提供一測試功能。測試訊號線耦接在測試電路單元與像素陣列之間。像素陣列經由測試訊號線耦接至測試電路單元,並包括多個像素。各像素包括一電晶體。各電晶體具有一第一端及一第二端。對各像素而言,在一正常模式下,電晶體..., 專利性質是發明, 執行單位是工研院電光所, 產出年度是103, 計畫名稱是高階手持裝置三維整合應用技術計畫, 專利發明人是謝志成 ,葉尚府 ,葉凱儀.

序號14054
產出年度103
領域別智慧科技
專利名稱-中文具有自我測試的像素陣列模組及其自我測試方法
執行單位工研院電光所
產出單位工研院資通所
計畫名稱高階手持裝置三維整合應用技術計畫
專利發明人謝志成 | 葉尚府 | 葉凱儀
核准國家中華民國
獲證日期103/10/21
證書號碼I457575
專利期間起121/04/05
專利期間訖一種具有自我測試的像素陣列模組,包括一測試電路單元、多條測試訊號線以及一像素陣列。測試電路單元提供一測試功能。測試訊號線耦接在測試電路單元與像素陣列之間。像素陣列經由測試訊號線耦接至測試電路單元,並包括多個像素。各像素包括一電晶體。各電晶體具有一第一端及一第二端。對各像素而言,在一正常模式下,電晶體的一驅動訊號由其自身的第一端傳遞至第二端,以及在一測試模式下,電晶體的一測試訊號由其自身的第二端傳遞至第一端。另外,一種上述像素陣列模組的自我測試方法亦被提出。
專利性質發明
技術摘要-中文一種具有自我測試的像素陣列模組,包括一測試電路單元、多條測試訊號線以及一像素陣列。測試電路單元提供一測試功能。測試訊號線耦接在測試電路單元與像素陣列之間。像素陣列經由測試訊號線耦接至測試電路單元,並包括多個像素。各像素包括一電晶體。各電晶體具有一第一端及一第二端。對各像素而言,在一正常模式下,電晶體的一驅動訊號由其自身的第一端傳遞至第二端,以及在一測試模式下,電晶體的一測試訊號由其自身的第二端傳遞至第一端。另外,一種上述像素陣列模組的自我測試方法亦被提出。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員李露蘋
電話03-59117812
傳真03-5917431
電子信箱noralp@itri.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)

序號

14054

產出年度

103

領域別

智慧科技

專利名稱-中文

具有自我測試的像素陣列模組及其自我測試方法

執行單位

工研院電光所

產出單位

工研院資通所

計畫名稱

高階手持裝置三維整合應用技術計畫

專利發明人

謝志成 | 葉尚府 | 葉凱儀

核准國家

中華民國

獲證日期

103/10/21

證書號碼

I457575

專利期間起

121/04/05

專利期間訖

一種具有自我測試的像素陣列模組,包括一測試電路單元、多條測試訊號線以及一像素陣列。測試電路單元提供一測試功能。測試訊號線耦接在測試電路單元與像素陣列之間。像素陣列經由測試訊號線耦接至測試電路單元,並包括多個像素。各像素包括一電晶體。各電晶體具有一第一端及一第二端。對各像素而言,在一正常模式下,電晶體的一驅動訊號由其自身的第一端傳遞至第二端,以及在一測試模式下,電晶體的一測試訊號由其自身的第二端傳遞至第一端。另外,一種上述像素陣列模組的自我測試方法亦被提出。

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種具有自我測試的像素陣列模組,包括一測試電路單元、多條測試訊號線以及一像素陣列。測試電路單元提供一測試功能。測試訊號線耦接在測試電路單元與像素陣列之間。像素陣列經由測試訊號線耦接至測試電路單元,並包括多個像素。各像素包括一電晶體。各電晶體具有一第一端及一第二端。對各像素而言,在一正常模式下,電晶體的一驅動訊號由其自身的第一端傳遞至第二端,以及在一測試模式下,電晶體的一測試訊號由其自身的第二端傳遞至第一端。另外,一種上述像素陣列模組的自我測試方法亦被提出。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李露蘋

電話

03-59117812

傳真

03-5917431

電子信箱

noralp@itri.org.tw

參考網址

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備註

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特殊情形

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核准國家: 美國 | 證書號碼: 13/539,486 | 專利期間起: 104/04/14 | 專利期間訖: 122/02/04 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院電光所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 高階手持裝置三維整合應用技術計畫 | 專利發明人: 謝志成 | 葉尚府 | 葉凱儀

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核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I223719 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 孫啟光

被動式電激發光二極體陣列的驅動方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 190526 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 何貫睿

基於動態影像壓縮標準之階層式物件切割法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 188953 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 甘敏成 | 郭鐘榮 | 吳國瑞 | 蔡孟翰

位相差式防偽方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,667,797 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王迺岳 | 蔡朝旭

微透鏡之製作方法及其製造裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I224210 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳錦泰

多層薄盤壓電致動式超音波馬達

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 204230 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 藍永松 | 黃晉興 | 張吉龍 | 歐陽敏盛 | 黃友謙 | 游祥杰 | 黃振源 | 鄭尊仁 | 朱朝居

多層薄盤壓電致動式超音波馬達

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,717,331 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 藍永松 | 黃晉興 | 張吉龍 | 歐陽敏盛 | 黃友謙 | 游祥杰 | 黃振源 | 鄭尊仁 | 朱朝居

近場光學頭物鏡

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 202513 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 李源欽 | 朱朝居 | 鄭尊仁 | 廖文毅 | 張吉龍 | 朱志雄 | 邱國基 | 吳至原

多層膜碟片膜層分離裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 187272 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張朝信 | 郭利德 | 馬榮昌 | 張裕修

多層膜碟片膜層分離裝置

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,668,894 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張朝信 | 郭利德 | 馬榮昌 | 張裕修

多層膜資訊儲存媒體之製作方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 190370 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 楊惠雯 | 廖文毅 | 鄭尊仁 | 黃建喨 | 黃得瑞 | 鄭懷瑜

多層膜資訊儲存媒體之製作方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,797,090 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 楊惠雯 | 廖文毅 | 鄭尊仁 | 黃建喨 | 黃得瑞 | 鄭懷瑜

多層膜可蓋寫型資訊儲存媒體

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197221 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 林志銘 | 廖文毅 | 鄭尊仁 | 顏文信 | 楊惠雯

氧化侷限型之垂直共振腔面射型雷射元件及其製造方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 192770 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 江文章 | 宋嘉斌 | 楊泓斌 | 尤信介

矽晶基板之微小反射鏡加工法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,695,455 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 蘇忠傑

次微米解析度光學同調斷層攝影技術

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I223719 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 孫啟光

被動式電激發光二極體陣列的驅動方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 190526 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 何貫睿

基於動態影像壓縮標準之階層式物件切割法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 188953 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 甘敏成 | 郭鐘榮 | 吳國瑞 | 蔡孟翰

位相差式防偽方法

核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,667,797 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 王迺岳 | 蔡朝旭

微透鏡之製作方法及其製造裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I224210 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院光電所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 陳錦泰

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