能量偵測方法及應用其之能量偵測電路
- 經濟部產業技術司–專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文能量偵測方法及應用其之能量偵測電路的核准國家是中華民國, 執行單位是工研院資通所, 產出年度是103, 專利性質是發明, 計畫名稱是雙模無線接取網路技術發展計畫, 專利發明人是陳建宇, 羅勳章, 莊俊雄, 證書號碼是I456914.

序號	14173
產出年度	103
領域別	智慧科技
專利名稱-中文	能量偵測方法及應用其之能量偵測電路
執行單位	工研院資通所
產出單位	工研院資通所
計畫名稱	雙模無線接取網路技術發展計畫
專利發明人	陳建宇, 羅勳章, 莊俊雄
核准國家	中華民國
獲證日期	103/10/11
證書號碼	I456914
專利期間起	119/09/15
專利期間訖	一種能量偵測方法，參考與輸入訊號對應之數位訊號找出輸入訊號對應之訊號起始時點。能量偵測方法包括下列之步驟。對數位訊號進行取樣以找出第i筆取樣值。接著暫存第i-(M+N-1)筆至第i-N筆取樣值及第i-(N-1)筆至第i筆取樣值。設定加權參數具有起始值。根據加權參數及第i-(M+N-1)筆至第i-N筆取樣值找出第一參數；根據第i-(N-1)筆至第i筆取樣值找出第二參數。比較第一及第二參數，並於第二參數大於第一參數時，判斷第i-(N-1)筆取樣值對應之取樣時點為此訊號起始時點。
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種能量偵測方法，參考與輸入訊號對應之數位訊號找出輸入訊號對應之訊號起始時點。能量偵測方法包括下列之步驟。對數位訊號進行取樣以找出第i筆取樣值。接著暫存第i-(M+N-1)筆至第i-N筆取樣值及第i-(N-1)筆至第i筆取樣值。設定加權參數具有起始值。根據加權參數及第i-(M+N-1)筆至第i-N筆取樣值找出第一參數；根據第i-(N-1)筆至第i筆取樣值找出第二參數。比較第一及第二參數，並於第二參數大於第一參數時，判斷第i-(N-1)筆取樣值對應之取樣時點為此訊號起始時點。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	曾斌凱
電話	03-5914409
傳真	03-5820202
電子信箱	BinKaiTseng@itri.org.tw
參考網址	(空)
備註	(空)
特殊情形	(空)
同步更新日期	2019-07-24

序號

14173

產出年度

103

領域別

智慧科技

專利名稱-中文

能量偵測方法及應用其之能量偵測電路

執行單位

工研院資通所

產出單位

工研院資通所

計畫名稱

雙模無線接取網路技術發展計畫

專利發明人

陳建宇, 羅勳章, 莊俊雄

核准國家

中華民國

獲證日期

103/10/11

證書號碼

I456914

專利期間起

119/09/15

專利期間訖

一種能量偵測方法，參考與輸入訊號對應之數位訊號找出輸入訊號對應之訊號起始時點。能量偵測方法包括下列之步驟。對數位訊號進行取樣以找出第i筆取樣值。接著暫存第i-(M+N-1)筆至第i-N筆取樣值及第i-(N-1)筆至第i筆取樣值。設定加權參數具有起始值。根據加權參數及第i-(M+N-1)筆至第i-N筆取樣值找出第一參數；根據第i-(N-1)筆至第i筆取樣值找出第二參數。比較第一及第二參數，並於第二參數大於第一參數時，判斷第i-(N-1)筆取樣值對應之取樣時點為此訊號起始時點。

專利性質

發明

技術摘要-中文

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

曾斌凱

電話

03-5914409

傳真

03-5820202

電子信箱

BinKaiTseng@itri.org.tw

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特殊情形

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光纖網路故障復原方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院資通所 \| 產出年度: 104 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 寬頻匯流系統與整合技術發展計畫 \| 專利發明人: 李詩偉 ,彭耀民 ,沈惠如 ,蕭翊弘 ,張綺倩 \| 證書號碼: 8,971,699 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
雲端平台之監測資料調控方法及系統	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院資通所 \| 產出年度: 104 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 寬頻匯流系統與整合技術發展計畫 \| 專利發明人: 高詠証 ,李國徵 \| 證書號碼: I476584 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
光分波節點	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院資通所 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 寬頻匯流系統與整合技術發展計畫 \| 專利發明人: 田伯隆, 楊啟瑞, 陳星宇, 陳智弘 \| 證書號碼: 8,682,164 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
具有限度變動位元率控制之感興趣區域編碼方法與系統以及相關之儲存媒體	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院資通所 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 寬頻匯流系統與整合技術發展計畫 \| 專利發明人: 黃崇明, 林群惟, 沈志聖 \| 證書號碼: I429294 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
數位內容次序調整方法和數位內容匯流器	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院資通所 \| 產出年度: 104 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 人本感知與智慧生活整合服務發展計畫 \| 專利發明人: 吳欣怡 ,蕭宇翔 ,高崎鈞 ,丁柏元 ,陳翊銓 ,葉文熙 \| 證書號碼: I475412 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
更新電子貨架標籤的系統與方法以及一電子貨架標籤的更新裝置與方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院資通所 \| 產出年度: 104 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 人本感知與智慧生活整合服務發展計畫 \| 專利發明人: 戴源助 ,吳俊賢 ,李岳峰 ,李泱融 \| 證書號碼: I475491 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
燈號觸發事件偵測方法與裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院資通所 \| 產出年度: 104 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 寬頻匯流系統與整合技術發展計畫 \| 專利發明人: 陳敦裕 ,何健鵬 ,彭彥傑 ,游人諭 \| 證書號碼: I476701 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
為通信設備提供下行鏈路控制信息的方法和無線通信系統	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院資通所 \| 產出年度: 104 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 雙模無線接取網路技術發展計畫 \| 專利發明人: 王竣彥 \| 證書號碼: 9,113,494 @ 經濟部產業技術司–專利資料集

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利用共軛光路量測二維位移量之方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 張中柱, 高清芬, 李世光 \| 證書號碼: 6,744,520
紅外光轉換可見光之顯微影像裝置	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 王浩偉, 林耀明, 葉迎春 \| 證書號碼: 6,687,051
可調光徑之光學捕捉裙	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林耀明, 王浩偉, 羅偕益 \| 證書號碼: 6,667,838
利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 李朱育, 施學兢 \| 證書號碼: 194233
全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 姚鵬, 陳志光 \| 證書號碼: 200261
控制奈米碳管長度之方法與裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 戴鴻名, 施能謙, 陳燦林 \| 證書號碼: 200165
平面定位機構	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林慶芳, 張中柱 \| 證書號碼: 201505
即時紅外化學影像光譜裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 李耀昌, 王浩偉 \| 證書號碼: 203435
光譜偏移式奈米近接裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林耀明, 王浩偉 \| 證書號碼: 200276
光學用高度調整裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 石宇森 \| 證書號碼: 201467
位移微擾裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林耀明, 陳志光, 石宇森 \| 證書號碼: 201468
電磁場感測元件及其裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 黃卯生, 薛文崇, 曾文仁, 馮勁敏, 梁文烈 \| 證書號碼: 201837
二維位移量之量測裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 高清芬, 張中柱, 林慶芳 \| 證書號碼: I224351
雙波混合於光折變晶體干涉裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 李朱育, 施學兢 \| 證書號碼: I221897
位移量測裝置	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 鄭凱宇, 戴鴻名 \| 證書號碼: 207362

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執行單位

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