可撓式電子裝置的轉移結構及可撓式電子裝置的製造方法
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文可撓式電子裝置的轉移結構及可撓式電子裝置的製造方法的核准國家是中國大陸, 證書號碼是ZL200910127232.2, 專利期間起是118/03/08, 專利期間訖是高阻氣性基板製程技術, 專利性質是發明, 執行單位是工研院顯示中心, 產出年度是103, 計畫名稱是軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫, 專利發明人是蔡寶鳴、江良祐、張悠揚、李宏元.

序號	14478
產出年度	103
領域別	智慧科技
專利名稱-中文	可撓式電子裝置的轉移結構及可撓式電子裝置的製造方法
執行單位	工研院顯示中心
產出單位	工研院顯示中心
計畫名稱	軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫
專利發明人	蔡寶鳴 \| 江良祐 \| 張悠揚 \| 李宏元
核准國家	中國大陸
獲證日期	102/07/10
證書號碼	ZL200910127232.2
專利期間起	118/03/08
專利期間訖	高阻氣性基板製程技術
專利性質	發明
技術摘要-中文	高阻氣性基板製程技術
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	吳仲文
電話	03-5913714
傳真	0-35820046
電子信箱	Emma_Wu@itri.org.tw
參考網址	http://N/A
備註	(空)
特殊情形	(空)

序號

14478

產出年度

103

領域別

智慧科技

專利名稱-中文

可撓式電子裝置的轉移結構及可撓式電子裝置的製造方法

執行單位

工研院顯示中心

產出單位

工研院顯示中心

計畫名稱

軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫

專利發明人

蔡寶鳴 | 江良祐 | 張悠揚 | 李宏元

核准國家

中國大陸

獲證日期

102/07/10

證書號碼

ZL200910127232.2

專利期間起

118/03/08

專利期間訖

高阻氣性基板製程技術

專利性質

發明

技術摘要-中文

高阻氣性基板製程技術

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

吳仲文

電話

03-5913714

傳真

0-35820046

電子信箱

Emma_Wu@itri.org.tw

參考網址

http://N/A

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(空)

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環境敏感電子元件之封裝體及其封裝方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8624134 \| 專利期間起: 120/12/27 \| 專利期間訖: 軟性有機主動面板製程整合技術 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院顯示中心 \| 產出年度: 103 \| 計畫名稱: 軟性資訊顯示系統與應用技術開發計畫 \| 專利發明人: 陳光榮 @ 技術司專利資料集
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顯示器的生產設備

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環境敏感電子元件之封裝體及其封裝方法

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環境敏感電子元件之封裝體及其封裝方法

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彩色濾光片與影像感測器

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壓制電流分配的充放電路	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,794,911 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 張毓仁
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寬頻掃頻電路架構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 198444 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮 \| 謝賜山
光源產生裝置及方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200164 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林勝雄 \| 江敏華 \| 郭葉琮
相位差調整裝置及方法以及應用該相位差調整裝置之感測裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206753 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 楊景榮 \| 高清芬 \| 陳譽元
新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206450 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 葉清銘 \| 陳燦林 \| 陳譽元
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物體表面三維形貌量測方法和系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200161 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 宋新岳 \| 田立芬

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