訊號分析方法、超音波影像分析方法以及超音波成像系統
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專利名稱-中文訊號分析方法、超音波影像分析方法以及超音波成像系統的核准國家是中華民國, 證書號碼是I482613, 專利期間起是104/05/01, 專利期間訖是120/12/26, 專利性質是發明, 執行單位是工研院院本部, 產出年度是104, 計畫名稱是工研院創新前瞻技術研究計畫, 專利發明人是李皇德 ,邵耀華 ,張幼青 ,黃百綱 ,施明.

序號	15910
產出年度	104
領域別	服務創新
專利名稱-中文	訊號分析方法、超音波影像分析方法以及超音波成像系統
執行單位	工研院院本部
產出單位	工研院生醫所
計畫名稱	工研院創新前瞻技術研究計畫
專利發明人	李皇德 \| 邵耀華 \| 張幼青 \| 黃百綱 \| 施明
核准國家	中華民國
獲證日期	104/05/20
證書號碼	I482613
專利期間起	104/05/01
專利期間訖	120/12/26
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種時間域的訊號分析方法。所述訊號分析方法包括如下步驟。接收待分析訊號。利用經驗模態分解及疊代之方式對於待分析訊號進行篩選，以分解出至少一本質模態函數。對本質模態函數進行希爾伯特轉換。經轉換後的本質模態函數包括相位資訊。利用相位處理手段來處理經轉換後的本質模態函數，以獲得包括角頻率資訊的本質模態函數。上述訊號分析方法可應用於超音波成像系統，以辨識超音波影像資訊。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	李露蘋
電話	03-5917812
傳真	03-5917431
電子信箱	noralp@itri.org.tw
參考網址	(空)
備註	(空)
特殊情形	(空)

序號

15910

產出年度

104

領域別

服務創新

專利名稱-中文

訊號分析方法、超音波影像分析方法以及超音波成像系統

執行單位

工研院院本部

產出單位

工研院生醫所

計畫名稱

工研院創新前瞻技術研究計畫

專利發明人

李皇德 | 邵耀華 | 張幼青 | 黃百綱 | 施明

核准國家

中華民國

獲證日期

104/05/20

證書號碼

I482613

專利期間起

104/05/01

專利期間訖

120/12/26

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種時間域的訊號分析方法。所述訊號分析方法包括如下步驟。接收待分析訊號。利用經驗模態分解及疊代之方式對於待分析訊號進行篩選，以分解出至少一本質模態函數。對本質模態函數進行希爾伯特轉換。經轉換後的本質模態函數包括相位資訊。利用相位處理手段來處理經轉換後的本質模態函數，以獲得包括角頻率資訊的本質模態函數。上述訊號分析方法可應用於超音波成像系統，以辨識超音波影像資訊。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李露蘋

電話

03-5917812

傳真

03-5917431

電子信箱

noralp@itri.org.tw

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訊號分析方法、超音波影像分析方法以及超音波成像系統

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訊號分析方法、超音波影像分析方法以及超音波成像系統

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信號分析方法、超聲波圖像分析方法以及超聲波成像系統

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信號分析方法、超聲波圖像分析方法以及超聲波成像系統

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揚聲器單體結構	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200810211084.8 \| 專利期間起: 102/01/23 \| 專利期間訖: 117/08/19 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 陳明道 \| 劉昌和 @ 技術司專利資料集
晶圓級模封接合結構及其製造方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8,384,215 \| 專利期間起: 102/02/26 \| 專利期間訖: 120/06/30 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 陸蘇財 \| 莊敬業 \| 林育民 @ 技術司專利資料集
感測裝置及其掃描驅動方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8,416,213 \| 專利期間起: 102/04/09 \| 專利期間訖: 120/03/17 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院南分院 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 沈煜棠 \| 葉紹興 @ 技術司專利資料集
揚聲器單體結構	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200710184913.3 \| 專利期間起: 102/03/20 \| 專利期間訖: 116/10/28 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 劉昌和 \| 陳明道 @ 技術司專利資料集
平面揚聲器單體與揚聲器裝置	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200910202828.4 \| 專利期間起: 102/04/03 \| 專利期間訖: 118/05/25 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 劉昌和 \| 陳明道 @ 技術司專利資料集
平面揚聲器單體與揚聲器裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8,391,520 \| 專利期間起: 102/03/05 \| 專利期間訖: 120/12/15 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 劉昌和 \| 陳明道 @ 技術司專利資料集
照明裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: I402456 \| 專利期間起: 102/07/21 \| 專利期間訖: 119/03/16 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電光所 \| 產出年度: 102 \| 計畫名稱: 軟性電子模組與應用技術發展計畫 \| 專利發明人: 黃承揚 \| 許詔開 @ 技術司專利資料集
Amphiphilic block copolymers and nanoparticles comprising the same	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 8,940,333 \| 專利期間起: 104/01/27 \| 專利期間訖: 116/05/11 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院生醫所 \| 產出年度: 104 \| 計畫名稱: 智慧標靶藥物傳輸技術及應用開發計畫 \| 專利發明人: 謝明發 \| 張學曾 \| 陳進富 \| 張原嘉 \| 甘霈 \| 林才祐 @ 技術司專利資料集

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與訊號分析方法、超音波影像分析方法以及超音波成像系統同分類的技術司專利資料集

單增益緩衝器	核准國家: 日本 \| 證書號碼: 3500353 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 王博文 \| 施俊任 \| 陳尚立
廣視角橫向電極多域排列液晶顯示面板及製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206398 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 劉鴻達
連續域反扭轉型液晶顯示裝置及其製作方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 185475 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 莊立聖 \| 陳慶逸
顯示器自動伽馬(GAMMA)校正系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200771 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 廖明俊 \| 楊和興 \| 沈毓仁
一種全彩化發光二極體裝置及製造方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6730937 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 戴遠東 \| 彭遠清 \| 陳建志
調整資料驅動器參考電壓之顯示器自動伽馬校正系統及方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 190460 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 廖明俊 \| 陳明道 \| 楊和興
可調變中心對稱之伽瑪電壓校正電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 190469 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 沈毓仁 \| 陳建志 \| 陳明道 \| 廖明俊
可調變中心對稱之伽瑪電壓校正電路	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6680755 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 沈毓仁 \| 陳建志 \| 陳明道 \| 廖明俊
中心對稱之GAMMA電壓校正電路	核准國家: 日本 \| 證書號碼: 3522705 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 陳明道 \| 沈毓仁
中心對稱之GAMMA電壓校正電路	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 190470 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 陳明道 \| 沈毓仁
中心對稱之GAMMA電壓校正電路	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6778161 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 陳明道 \| 沈毓仁
矽單晶液晶顯示器及製作方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6721027 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 莊立聖
簡易式塊狀彈性體的製程方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6605525 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 電子關鍵性材料與整合模組發展四年計畫 \| 專利發明人: 盧思維 \| 盧明 \| 林志榮
蝕刻玻璃面板之裝置及方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6673195 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 陳泰宏 \| 黃元璋
陽光下可顯示的顯示器的畫素元件結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 184692 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院電子所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 王文俊 \| 莊立聖

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執行單位

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