專利名稱-中文協同式行車記錄系統與方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是I469886, 專利期間起是104/01/21, 專利期間訖是121/04/24, 專利性質是發明, 執行單位是工研院資通所, 產出年度是104, 計畫名稱是智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫, 專利發明人是康博竣 ,蘇子翔 ,何平凡.
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(以下顯示 2 筆) (或要:直接搜尋所有 協同式行車記錄系統與方法 ...) | 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,896,432 | 專利期間起: 103/11/25 | 專利期間訖: 122/02/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 康博竣 | 蘇子翔 | 何平凡 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 8896432 | 專利期間起: 103/11/25 | 專利期間訖: 122/02/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 康博竣 | 蘇子翔 | 何平凡 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8,896,432 | 專利期間起: 103/11/25 | 專利期間訖: 122/02/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 康博竣 | 蘇子翔 | 何平凡 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 8896432 | 專利期間起: 103/11/25 | 專利期間訖: 122/02/03 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 康博竣 | 蘇子翔 | 何平凡 @ 技術司專利資料集 |
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(以下顯示 7 筆) (或要:直接搜尋所有 03-5917227 ...) | 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I475497 | 專利期間起: 104/03/01 | 專利期間訖: 120/11/22 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 侯勝宗 | 陳維隆 | 張俊哲 | 林怡君 | 馮世安 | 隴黔霏 | 林媛媛 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 9,094,216 | 專利期間起: 104/07/28 | 專利期間訖: 122/03/16 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 林志哲 | 蔡佩娟 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I489401 | 專利期間起: 104/06/21 | 專利期間訖: 121/03/01 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 徐玉青 | 顏在賢 | 楊舜能 | 盧俊利 | 葉彌妍 | 陳銘憲 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I474941 | 專利期間起: 104/03/01 | 專利期間訖: 121/11/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 徐仲賢 | 蔣村杰 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 日本 | 證書號碼: 5714636 | 專利期間起: 104/03/20 | 專利期間訖: 122/04/10 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 馮世安 | 林怡君 | 林育輝 | 陳瑄易 | 張俊哲 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I488764 | 專利期間起: 104/06/21 | 專利期間訖: 122/03/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 鄭銘軒 | 盧盈志 | 何平凡 | 蔡明峰 @ 技術司專利資料集 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I472949 | 專利期間起: 104/02/11 | 專利期間訖: 122/08/13 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 曾蕙如 | 蔡佩娟 | 簡榮宏 | 陳健 | 李夏新 | 林志哲 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I475497 | 專利期間起: 104/03/01 | 專利期間訖: 120/11/22 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 侯勝宗 | 陳維隆 | 張俊哲 | 林怡君 | 馮世安 | 隴黔霏 | 林媛媛 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 9,094,216 | 專利期間起: 104/07/28 | 專利期間訖: 122/03/16 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 林志哲 | 蔡佩娟 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I489401 | 專利期間起: 104/06/21 | 專利期間訖: 121/03/01 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 徐玉青 | 顏在賢 | 楊舜能 | 盧俊利 | 葉彌妍 | 陳銘憲 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I474941 | 專利期間起: 104/03/01 | 專利期間訖: 121/11/20 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 徐仲賢 | 蔣村杰 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 日本 | 證書號碼: 5714636 | 專利期間起: 104/03/20 | 專利期間訖: 122/04/10 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 馮世安 | 林怡君 | 林育輝 | 陳瑄易 | 張俊哲 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I488764 | 專利期間起: 104/06/21 | 專利期間訖: 122/03/14 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 鄭銘軒 | 盧盈志 | 何平凡 | 蔡明峰 @ 技術司專利資料集 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: I472949 | 專利期間起: 104/02/11 | 專利期間訖: 122/08/13 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院資通所 | 產出年度: 104 | 計畫名稱: 智慧車載資通訊技術暨服務發展計畫 | 專利發明人: 曾蕙如 | 蔡佩娟 | 簡榮宏 | 陳健 | 李夏新 | 林志哲 @ 技術司專利資料集 |
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| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元 |
| 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬 |
| 核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元 |
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬 |
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光 |
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