可微調整製程參數之濺鍍製程控制系統及其方法
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文可微調整製程參數之濺鍍製程控制系統及其方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是I495751, 專利期間起是104/08/11, 專利期間訖是122/07/14, 專利性質是發明, 執行單位是金屬中心, 產出年度是104, 計畫名稱是先進薄膜塗佈整線製程技術暨設備技術開發計畫, 專利發明人是楊思華 ;謝余松 ;李宗信.

序號16901
產出年度104
領域別綠能科技
專利名稱-中文可微調整製程參數之濺鍍製程控制系統及其方法
執行單位金屬中心
產出單位金屬中心
計畫名稱先進薄膜塗佈整線製程技術暨設備技術開發計畫
專利發明人楊思華 | 謝余松 | 李宗信
核准國家中華民國
獲證日期104/08/11
證書號碼I495751
專利期間起104/08/11
專利期間訖122/07/14
專利性質發明
技術摘要-中文本發明提供一種可微調整製程參數之濺鍍製程控制系統及其方法,濺鍍製程控制系統利用一類神經模糊控制法則微調整至少一製程參數,類神經模糊控制法則本身具有學習能力,因此無須額外建置資料庫,有效節省建置設備之成本,也節省對資料庫進行搜尋與資料統計運算之時間,有效加快濺鍍製程控制系統之反應時間及調校製程參數之效率。
技術摘要-英文(空)
聯絡人員李宗信
電話07-6955510*329
傳真07-6955512
電子信箱thlee@mail.mirdc.org.tw
參考網址(空)
備註(空)
特殊情形(空)

序號

16901

產出年度

104

領域別

綠能科技

專利名稱-中文

可微調整製程參數之濺鍍製程控制系統及其方法

執行單位

金屬中心

產出單位

金屬中心

計畫名稱

先進薄膜塗佈整線製程技術暨設備技術開發計畫

專利發明人

楊思華 | 謝余松 | 李宗信

核准國家

中華民國

獲證日期

104/08/11

證書號碼

I495751

專利期間起

104/08/11

專利期間訖

122/07/14

專利性質

發明

技術摘要-中文

本發明提供一種可微調整製程參數之濺鍍製程控制系統及其方法,濺鍍製程控制系統利用一類神經模糊控制法則微調整至少一製程參數,類神經模糊控制法則本身具有學習能力,因此無須額外建置資料庫,有效節省建置設備之成本,也節省對資料庫進行搜尋與資料統計運算之時間,有效加快濺鍍製程控制系統之反應時間及調校製程參數之效率。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李宗信

電話

07-6955510*329

傳真

07-6955512

電子信箱

thlee@mail.mirdc.org.tw

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備註

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特殊情形

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可微調整製程參數之濺鍍製程控制系統及其方法

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金屬濺鍍靶材的製造方法

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核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第223933號 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 林宸生 | 葉茂勳 | 郭道宏 | 賴良材

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以辨識虹膜進行門禁及差勤管制及健康諮詢管理之方法及裝置

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 第206805號 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院材料所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 個人端光訊傳感與顯示技術四年計畫 | 專利發明人: 林宸生 | 葉茂勳 | 陳弦澤 | 蔣慧芬 | 許孝義

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