具相位掃瞄的正交相位解調裝置與方法
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專利名稱-中文具相位掃瞄的正交相位解調裝置與方法的核准國家是中國大陸, 執行單位是工研院院本部, 產出年度是105, 專利性質是發明, 計畫名稱是工研院環境建構總計畫, 專利發明人是邱煥科 ,彭家洪, 證書號碼是ZL201210062643.X.

序號	18000
產出年度	105
領域別	智慧科技
專利名稱-中文	具相位掃瞄的正交相位解調裝置與方法
執行單位	工研院院本部
產出單位	工研院資通所
計畫名稱	工研院環境建構總計畫
專利發明人	邱煥科 ,彭家洪
核准國家	中國大陸
獲證日期	105/07/26
證書號碼	ZL201210062643.X
專利期間起	105/06/01
專利期間訖	121/03/06
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種具相位掃瞄的正交相位解調裝置與方法。此裝置包括環狀振盪器、第一閂鎖單元、解碼單元、計數器單元、第二閂鎖單元、第一運算單元以及第二運算單元。第一閂鎖單元取樣環狀振盪器所輸出的多個相位信號。解碼單元解碼第一閂鎖單元的輸出，而對應產生第一碼、第二碼、第三碼、第四碼的精細部分。計數器單元計數相位信號。第二閂鎖單元取樣計數器單元的輸出，而對應產生第一碼、第二碼、第三碼、第四碼的較粗部分。第一運算單元使用第一碼與第二碼進行加減運算。第二運算單元使用第三碼與第四碼進行加減運算。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	李露蘋
電話	03-5917812
傳真	03-5917431
電子信箱	oralp@itri.org.tw
參考網址	http://www.itri.org.tw
備註	智慧電子分項
特殊情形	(空)
同步更新日期	2019-07-24

序號

18000

產出年度

105

領域別

智慧科技

專利名稱-中文

具相位掃瞄的正交相位解調裝置與方法

執行單位

工研院院本部

產出單位

工研院資通所

計畫名稱

工研院環境建構總計畫

專利發明人

邱煥科 ,彭家洪

核准國家

中國大陸

獲證日期

105/07/26

證書號碼

ZL201210062643.X

專利期間起

105/06/01

專利期間訖

121/03/06

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種具相位掃瞄的正交相位解調裝置與方法。此裝置包括環狀振盪器、第一閂鎖單元、解碼單元、計數器單元、第二閂鎖單元、第一運算單元以及第二運算單元。第一閂鎖單元取樣環狀振盪器所輸出的多個相位信號。解碼單元解碼第一閂鎖單元的輸出，而對應產生第一碼、第二碼、第三碼、第四碼的精細部分。計數器單元計數相位信號。第二閂鎖單元取樣計數器單元的輸出，而對應產生第一碼、第二碼、第三碼、第四碼的較粗部分。第一運算單元使用第一碼與第二碼進行加減運算。第二運算單元使用第三碼與第四碼進行加減運算。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

李露蘋

電話

03-5917812

傳真

03-5917431

電子信箱

oralp@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

智慧電子分項

特殊情形

(空)

同步更新日期

2019-07-24

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具相位掃瞄的正交相位解調裝置與方法	核准國家: 中華民國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院環境建構總計畫 \| 專利發明人: 邱煥科 ,彭家洪 \| 證書號碼: I444017 @ 經濟部產業技術司–專利資料集
具相位掃瞄的正交相位解調裝置與方法	核准國家: 美國 \| 執行單位: 工研院院本部 \| 產出年度: 103 \| 專利性質: 發明 \| 計畫名稱: 工研院環境建構總計畫 \| 專利發明人: 邱煥科 ,彭家洪 \| 證書號碼: 8665014 @ 經濟部產業技術司–專利資料集

具相位掃瞄的正交相位解調裝置與方法

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