專利名稱-中文手持裝置及其控制方法 的核准國家是中國大陸 , 證書號碼是第1889773號 , 專利期間起是42354 , 專利期間訖是48162 , 專利性質是發明 , 執行單位是資策會 , 產出年度是105 , 計畫名稱是智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 , 專利發明人是蔡雅婷、華家紳、王駿銘、陳建雄 .
序號 18974 產出年度 105 領域別 智慧科技 專利名稱-中文 手持裝置及其控制方法 執行單位 資策會 產出單位 資策會 計畫名稱 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 專利發明人 蔡雅婷 | 華家紳 | 王駿銘 | 陳建雄 核准國家 中國大陸 獲證日期 42354 證書號碼 第1889773號 專利期間起 42354 專利期間訖 48162 專利性質 發明 技術摘要-中文 本發明涉及一種手持裝置及其控制方法,手持裝置包含觸控面板、揚聲器以及處理器。 觸控面板用以偵測物體與觸控面板的接觸面積。 揚聲器用以產生聲音。 處理器電性耦接于觸控面板以及揚聲器,並用以根據接觸面積來控制揚聲器所產生的聲音的音量。 其中當接觸面積的大小低於第一預設值時,處理器降低揚聲器的音量,而當接觸面積的大小高於第二預設值時,處理器提高揚聲器的音量。 技術摘要-英文 A handheld device includes a touch panel, a speaker, and a processor. The touch panel is operable to detect the touched area generated by an object touching the touch panel. The speaker is operable to provide sounds. The processor is connected to the touch panel and the speaker and controls the volume of the sounds provided by the speaker based on the touched area. The processor decreases the volume of the sounds when the touched area is lower than a first predetermined value, and the processor increases the volume of the sounds when the touched area is larger than a second predetermined value. Furthermore, a method for controlling the handheld device is disclosed herein. 聯絡人員 賴惠芬 電話 02-66073165 傳真 02-66073507 電子信箱 hflai@iii.org.tw 參考網址 https://portal.iii.org.tw/Portal/ 備註 (空) 特殊情形 (空)
序號 18974 產出年度 105 領域別 智慧科技 專利名稱-中文 手持裝置及其控制方法 執行單位 資策會 產出單位 資策會 計畫名稱 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 專利發明人 蔡雅婷 | 華家紳 | 王駿銘 | 陳建雄 核准國家 中國大陸 獲證日期 42354 證書號碼 第1889773號 專利期間起 42354 專利期間訖 48162 專利性質 發明 技術摘要-中文 本發明涉及一種手持裝置及其控制方法,手持裝置包含觸控面板、揚聲器以及處理器。 觸控面板用以偵測物體與觸控面板的接觸面積。 揚聲器用以產生聲音。 處理器電性耦接于觸控面板以及揚聲器,並用以根據接觸面積來控制揚聲器所產生的聲音的音量。 其中當接觸面積的大小低於第一預設值時,處理器降低揚聲器的音量,而當接觸面積的大小高於第二預設值時,處理器提高揚聲器的音量。 技術摘要-英文 A handheld device includes a touch panel, a speaker, and a processor. The touch panel is operable to detect the touched area generated by an object touching the touch panel. The speaker is operable to provide sounds. The processor is connected to the touch panel and the speaker and controls the volume of the sounds provided by the speaker based on the touched area. The processor decreases the volume of the sounds when the touched area is lower than a first predetermined value, and the processor increases the volume of the sounds when the touched area is larger than a second predetermined value. Furthermore, a method for controlling the handheld device is disclosed herein. 聯絡人員 賴惠芬 電話 02-66073165 傳真 02-66073507 電子信箱 hflai@iii.org.tw 參考網址 https://portal.iii.org.tw/Portal/ 備註 (空) 特殊情形 (空)
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I448140 | 專利期間起: 41852 | 專利期間訖: 48162 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 先進感知平台與綠能應用系統技術計畫 | 專利發明人: 蔡雅婷 | 華家紳 | 王駿銘 | 陳建雄
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核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I448140 | 專利期間起: 41852 | 專利期間訖: 48162 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 103 | 計畫名稱: 先進感知平台與綠能應用系統技術計畫 | 專利發明人: 蔡雅婷 | 華家紳 | 王駿銘 | 陳建雄
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根據電話 02-66073165 找到的相關資料 (以下顯示 8 筆) (或要:直接搜尋所有 02-66073165 ...)核准國家: 美國 | 證書號碼: US9,182,953B2 | 專利期間起: 42318 | 專利期間訖: 48969 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 游逸平 | 陳柏裕 | 陳靜芳
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I524180 | 專利期間起: 42430 | 專利期間訖: 49170 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 陳韻竹 | 陳增益 | 張原豪 | 衛信文 | 石維寬 | 涂嘉恒
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: US9,223,750B2 | 專利期間起: 42367 | 專利期間訖: 48980 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 劉記顯 | 江宗佑 | 陳立婷 | 黃建文
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I525543 | 專利期間起: 42440 | 專利期間訖: 48902 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 游逸平 | 陳柏裕 | 陳靜芳
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I526855 | 專利期間起: 42450 | 專利期間訖: 49219 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 徐年億 | 陳增益 | 張原豪 | 衛信文 | 石維寬 | 涂嘉恒
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: 第1958809號 | 專利期間起: 42424 | 專利期間訖: 48180 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 張登章
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I528796 | 專利期間起: 42461 | 專利期間訖: 48526 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 張月英 | 張嘉祥 | 李昆鴻
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I528328 | 專利期間起: 42461 | 專利期間訖: 48323 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 陳維超 | 張家銘
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核准國家: 美國 | 證書號碼: US9,182,953B2 | 專利期間起: 42318 | 專利期間訖: 48969 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 游逸平 | 陳柏裕 | 陳靜芳
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I524180 | 專利期間起: 42430 | 專利期間訖: 49170 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 陳韻竹 | 陳增益 | 張原豪 | 衛信文 | 石維寬 | 涂嘉恒
@ 技術司專利資料集 核准國家: 美國 | 證書號碼: US9,223,750B2 | 專利期間起: 42367 | 專利期間訖: 48980 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 劉記顯 | 江宗佑 | 陳立婷 | 黃建文
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I525543 | 專利期間起: 42440 | 專利期間訖: 48902 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 游逸平 | 陳柏裕 | 陳靜芳
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I526855 | 專利期間起: 42450 | 專利期間訖: 49219 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 徐年億 | 陳增益 | 張原豪 | 衛信文 | 石維寬 | 涂嘉恒
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: 第1958809號 | 專利期間起: 42424 | 專利期間訖: 48180 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 張登章
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I528796 | 專利期間起: 42461 | 專利期間訖: 48526 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 張月英 | 張嘉祥 | 李昆鴻
@ 技術司專利資料集 核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明I528328 | 專利期間起: 42461 | 專利期間訖: 48323 | 專利性質: 發明 | 執行單位: 資策會 | 產出年度: 105 | 計畫名稱: 智慧手持裝置核心技術攻堅計畫 | 專利發明人: 陳維超 | 張家銘
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核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,794,911 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院晶片中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張毓仁
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 214743 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 新型 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 陳盛仁 | 楊景榮 | 林俊宏 | 陳燦林
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 184318 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 黃俊雄
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 195328 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 高炳文 | 謝賜山 | 紀秋棉
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 193120 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200068 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林俊育 | 宋新岳 | 羅偕益
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 197821 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 涂鐘範 | 林耀明
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 220689 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 田立芬 | 葉峻毅 | 楊福祥
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 198444 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 郭晉榮 | 謝賜山
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200164 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林勝雄 | 江敏華 | 郭葉琮
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206753 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 楊景榮 | 高清芬 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 206450 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 葉清銘 | 陳燦林 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 201496 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 林慶芳 | 高清芬 | 陳燦林 | 陳譽元
核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 200161 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 | 專利發明人: 宋新岳 | 田立芬
核准國家: 美國 | 證書號碼: 6,744,520 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 工研院量測中心 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 | 專利發明人: 張中柱 | 高清芬 | 李世光
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