EMI/EMC測試技術
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技術名稱-中文EMI/EMC測試技術的執行單位是中科院電子所, 產出年度是93, 計畫名稱是寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫, 技術規格是3GPP TS34.124, 潛力預估是3G CDMA用戶端產品開發.

序號541
產出年度93
技術名稱-中文EMI/EMC測試技術
執行單位中科院電子所
產出單位(空)
計畫名稱寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫
領域(空)
已申請專利之國家(空)
已獲得專利之國家(空)
技術現況敘述-中文已完成測試裝備及能量建立,可執行技術服務及發證作業。
技術現況敘述-英文(空)
技術規格3GPP TS34.124
技術成熟度完成
可應用範圍3GW-CDMA用戶端相關產品
潛力預估3G CDMA用戶端產品開發
聯絡人員劉畯澄
電話03-4715520
傳真03-4719841
電子信箱cdma@wice.org.tw
參考網址(空)
所須軟硬體設備(空)
需具備之專業人才電子相關背

序號

541

產出年度

93

技術名稱-中文

EMI/EMC測試技術

執行單位

中科院電子所

產出單位

(空)

計畫名稱

寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫

領域

(空)

已申請專利之國家

(空)

已獲得專利之國家

(空)

技術現況敘述-中文

已完成測試裝備及能量建立,可執行技術服務及發證作業。

技術現況敘述-英文

(空)

技術規格

3GPP TS34.124

技術成熟度

完成

可應用範圍

3GW-CDMA用戶端相關產品

潛力預估

3G CDMA用戶端產品開發

聯絡人員

劉畯澄

電話

03-4715520

傳真

03-4719841

電子信箱

cdma@wice.org.tw

參考網址

(空)

所須軟硬體設備

(空)

需具備之專業人才

電子相關背

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整車電磁相容性(EMC)研測技術(ARTC)

執行單位: 車輛中心 | 產出年度: 101 | 產出單位: | 計畫名稱: 智慧電動車創新研發環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 整車電磁干擾(EMI)量測技術:9kHz~1GHz 整車電磁耐受(EMS)測試技術:100kHz~18GHz 整車電磁干擾(EMI)-雜訊診斷技術:EMI頻譜 整車電磁耐受(EMS)-訊號監控技術:影... | 潛力預估: 可提供小型車至大型巴士之整車EMC測試技術,並符合國際車輛EMC標準及法規檢測條件。

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整車電磁相容性(EMC)研測技術(ARTC)

執行單位: 車輛中心 | 產出年度: 101 | 產出單位: | 計畫名稱: 智慧電動車創新研發環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 整車電磁干擾(EMI)量測技術:9kHz~1GHz 整車電磁耐受(EMS)測試技術:100kHz~18GHz 整車電磁干擾(EMI)-雜訊診斷技術:EMI頻譜 整車電磁耐受(EMS)-訊號監控技術:影... | 潛力預估: 可提供小型車至大型巴士之整車EMC測試技術,並符合國際車輛EMC標準及法規檢測條件。

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3G手機/基地台檢測驗證技術

執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 領域: | 技術規格: 3GPP TS34.121(含RRM)及TS34.123 | 潛力預估: 3G CDMA用戶端產品開發

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用戶台及基地台Trch Codec模組技術

執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 寬頻行動通訊整合技術發展三年計畫 | 領域: | 技術規格: 符合3GPP W-CDMA R99版規範 | 潛力預估: 可搶攻3G W-CDMA晶片市場,極具市場淺力

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環境頻譜分析及基地台整合測試技術

執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 寬頻行動通訊整合技術發展三年計畫 | 領域: | 技術規格: 適用無線通訊頻段3G/WiFi/WLAN/PHS/CDMA2000干擾量測 | 潛力預估: 可為未來電信營運商評估基地台設置、電信監理等服務。

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飛機與地面地形碰撞的偵測處理方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第191875號 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 飛航資訊廣播及通訊技術開發三年計畫 | 專利發明人: 鄭世通

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調頻連續波雷達高度計之數位控制式線性掃頻模式

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第197868號 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 飛航資訊廣播及通訊技術開發三年計畫 | 專利發明人: 林鈺山 | 劉鳳玲 | 鄭世通

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具有彈性及耐用的探針

核准國家: 美國 | 證書號碼: US-2003-0112024-A1 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 鄧德生.李鴻淇

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射頻傳輸線之參數調校的方法及其結構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第197766號 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 李繼華.梁春村.葉嘉範

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劃碼多工進接系統之分離式波道卡架構

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: 175672 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院資通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 吳匡時 | 林瀛寬 | 彭明山

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3G手機/基地台檢測驗證技術

執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 93 | 產出單位: | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 領域: | 技術規格: 3GPP TS34.121(含RRM)及TS34.123 | 潛力預估: 3G CDMA用戶端產品開發

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用戶台及基地台Trch Codec模組技術

執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 寬頻行動通訊整合技術發展三年計畫 | 領域: | 技術規格: 符合3GPP W-CDMA R99版規範 | 潛力預估: 可搶攻3G W-CDMA晶片市場,極具市場淺力

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環境頻譜分析及基地台整合測試技術

執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 寬頻行動通訊整合技術發展三年計畫 | 領域: | 技術規格: 適用無線通訊頻段3G/WiFi/WLAN/PHS/CDMA2000干擾量測 | 潛力預估: 可為未來電信營運商評估基地台設置、電信監理等服務。

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飛機與地面地形碰撞的偵測處理方法

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第191875號 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 飛航資訊廣播及通訊技術開發三年計畫 | 專利發明人: 鄭世通

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調頻連續波雷達高度計之數位控制式線性掃頻模式

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第197868號 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 飛航資訊廣播及通訊技術開發三年計畫 | 專利發明人: 林鈺山 | 劉鳳玲 | 鄭世通

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具有彈性及耐用的探針

核准國家: 美國 | 證書號碼: US-2003-0112024-A1 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 鄧德生.李鴻淇

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射頻傳輸線之參數調校的方法及其結構

核准國家: 中華民國 | 證書號碼: 發明第197766號 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院電子所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 李繼華.梁春村.葉嘉範

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劃碼多工進接系統之分離式波道卡架構

核准國家: 中國大陸 | 證書號碼: 175672 | 專利期間起: | 專利期間訖: | 專利性質: 發明 | 執行單位: 中科院資通所 | 產出年度: 93 | 計畫名稱: 寬頻行動通訊系統整合技術發展三年計畫 | 專利發明人: 吳匡時 | 林瀛寬 | 彭明山

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與EMI/EMC測試技術同分類的技術司可移轉技術資料集

電漿束液晶配向製程驗證與系統模組大型化技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 高值產業及機器人技術研發計畫 | 領域: | 技術規格: 配向尺寸可達G3(550*650mm),配向均勻性佳。技術規格:錨定能~10-5J/m2,預傾角:0~10度,VHR>95%,Rdc | 潛力預估: 目前配向效果遠高於光配向,與離子束配向結果相當但設備價格低。

平面顯示器陣列圖案瑕疵檢測系統整合應用技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 高值產業及機器人技術研發計畫 | 領域: | 技術規格: 檢測物: TFT-LCD陣列圖案、彩色濾光片;檢測速率: 75 M pixel/sec;最小瑕疵: 10μm | 潛力預估: 高速多個CCD攝影機同步取像控制技術;快速瑕疵檢測法則

Roll-to-Roll精密捲繞對位技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 高值產業及機器人技術研發計畫 | 領域: | 技術規格: Roll to Roll輸送基材寬度:300mm,單板基材尺寸:300mm × 210mm,對位精度:±2.5μm,Cell gap精度:±2μm。 | 潛力預估: 搭配視覺、水平載台及伺服系統來進行高精度對位,較傳統的捲繞機構更適用於電子級產品之設備上。

精密PCB鑽孔控制技術系統整合應用

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 鑽孔速度:400孔/分鐘_x000D_/檔案管理_x000D_/座標顯示_x000D_/加工路徑顯示_x000D_/翻、排版指令_x000D_/多次鑽孔功能_x000D_/擴鑽圓孔/長槽擴鑽指令_x0... | 潛力預估: 具備刀具偏擺/摩耗自動補償、加工件精修以及自動尋找插銷孔功能,節省刀具成本以及增加機器運作效能。

直接驅動電機應用技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 直驅馬達之設計規格,最高轉速150rpm,最大轉矩250Nm,擎留轉矩100Nm,解晰度(8192p/r’4)0.01°,3種無反電動勢感知起動電氣角偵測方法。建立自行研發旋轉式直接驅動伺服系統基礎。 | 潛力預估: 可設計與製作主流產品相容性規格,產生關鍵性零件與系統之可替代性

先進生技設備應用技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 高值產業及機器人技術研發計畫 | 領域: | 技術規格: Heat up rate>3C/sec;Cool down rate>2C/sec_x000D_;Test time | 潛力預估: 縮短檢測時間,減少檢體與試劑用量

生物反應器關鍵技術之應用

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 高值產業及機器人技術研發計畫 | 領域: | 技術規格: 溫度控制精度≦ ±0.2℃;環境pH值控制精度≦±0.02 pH;溶氣控制精度≦ ±2 % | 潛力預估: 製程需求設計產品

放電加工創成控制器應用技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 創成放電加工技術間隙伺服控制、放電軌跡路徑加工控制、3D曲面放電加工控制、自動換電極功能、電極尺寸偵測及補償功能及創成放電電源(ON Time=500ns、Ip=0.5A、9段電容選擇)。 | 潛力預估: 未來奈米科技、光電通訊、生醫科技對微細加工製作零組件或模具勢必有強烈需求,未來市場前途看好,微細加工的方法有微雷射加工、電子光束加工、蝕刻等方法,而放電加工為非傳統加工方式,係利用火花放電所產生的熱能...

半導體切割技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 切割寬度 3~5 μm ,最小切割道寬度25μm | 潛力預估: 硬脆材料切割市場

串列網路伺服運動控制應用技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 串列網路伺服軸:8軸(Mitsubishi SSCNET),可擴充至16軸_x000D_/ 泛用開迴路:4軸_x000D_/ 泛用閉迴路:1軸,可擴充至5軸_x000D_/ 數位轉類比:2組(16 b... | 潛力預估: 可實現高速、高精度的定位控制,及多軸即時同步運動控制,在不用增加控制母板下,硬體軸數與IO點數擴充彈性大,為國內光電半導體設備與CNC工具機業,提供了一個降低系統配線複雜度與維護簡單化的有效解決方案。

一種使用超音波能量的晶圓鍵合製程方法

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 鍵合溫度:Max.200℃,鍵合時間:Max.10min | 潛力預估: 可搶攻半導體照明市場,極具市場淺力

一種晶片晶圓鍵合之自適性調整與支撐機構

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 平面度:1μm,耐重:>1000㎏,平行調整角度範圍:5°,尺寸:2吋 | 潛力預估: 可搶攻半導體照明市場,極具市場淺力

真空加熱氣浮傳輸技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 工件尺寸: 620*750 mm (I.e. 第3.5代LCD面板尺寸) | 潛力預估: 基板尺寸放大至1100×1250mm (I.E. 第5代LCD面板尺寸), 等相關技術應用

晶圓電鍍設備技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 金凸塊電鍍均勻性< 5% | 潛力預估: 可搶攻凸塊電鍍設備市場

大面積電漿光阻剝離技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 基板尺寸: 620*750 mm (第3.5代LCD面板尺寸), 光阻去除速率>3μm, 製程溫度:300℃或低於 | 潛力預估: 基板尺寸放大至1100×1250mm (第5代LCD面板尺寸), 高速大面積電漿蝕刻、灰化等相關技術應用

電漿束液晶配向製程驗證與系統模組大型化技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 高值產業及機器人技術研發計畫 | 領域: | 技術規格: 配向尺寸可達G3(550*650mm),配向均勻性佳。技術規格:錨定能~10-5J/m2,預傾角:0~10度,VHR>95%,Rdc | 潛力預估: 目前配向效果遠高於光配向,與離子束配向結果相當但設備價格低。

平面顯示器陣列圖案瑕疵檢測系統整合應用技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 高值產業及機器人技術研發計畫 | 領域: | 技術規格: 檢測物: TFT-LCD陣列圖案、彩色濾光片;檢測速率: 75 M pixel/sec;最小瑕疵: 10μm | 潛力預估: 高速多個CCD攝影機同步取像控制技術;快速瑕疵檢測法則

Roll-to-Roll精密捲繞對位技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 高值產業及機器人技術研發計畫 | 領域: | 技術規格: Roll to Roll輸送基材寬度:300mm,單板基材尺寸:300mm × 210mm,對位精度:±2.5μm,Cell gap精度:±2μm。 | 潛力預估: 搭配視覺、水平載台及伺服系統來進行高精度對位,較傳統的捲繞機構更適用於電子級產品之設備上。

精密PCB鑽孔控制技術系統整合應用

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 鑽孔速度:400孔/分鐘_x000D_/檔案管理_x000D_/座標顯示_x000D_/加工路徑顯示_x000D_/翻、排版指令_x000D_/多次鑽孔功能_x000D_/擴鑽圓孔/長槽擴鑽指令_x0... | 潛力預估: 具備刀具偏擺/摩耗自動補償、加工件精修以及自動尋找插銷孔功能,節省刀具成本以及增加機器運作效能。

直接驅動電機應用技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 直驅馬達之設計規格,最高轉速150rpm,最大轉矩250Nm,擎留轉矩100Nm,解晰度(8192p/r’4)0.01°,3種無反電動勢感知起動電氣角偵測方法。建立自行研發旋轉式直接驅動伺服系統基礎。 | 潛力預估: 可設計與製作主流產品相容性規格,產生關鍵性零件與系統之可替代性

先進生技設備應用技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 高值產業及機器人技術研發計畫 | 領域: | 技術規格: Heat up rate>3C/sec;Cool down rate>2C/sec_x000D_;Test time | 潛力預估: 縮短檢測時間,減少檢體與試劑用量

生物反應器關鍵技術之應用

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 高值產業及機器人技術研發計畫 | 領域: | 技術規格: 溫度控制精度≦ ±0.2℃;環境pH值控制精度≦±0.02 pH;溶氣控制精度≦ ±2 % | 潛力預估: 製程需求設計產品

放電加工創成控制器應用技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 創成放電加工技術間隙伺服控制、放電軌跡路徑加工控制、3D曲面放電加工控制、自動換電極功能、電極尺寸偵測及補償功能及創成放電電源(ON Time=500ns、Ip=0.5A、9段電容選擇)。 | 潛力預估: 未來奈米科技、光電通訊、生醫科技對微細加工製作零組件或模具勢必有強烈需求,未來市場前途看好,微細加工的方法有微雷射加工、電子光束加工、蝕刻等方法,而放電加工為非傳統加工方式,係利用火花放電所產生的熱能...

半導體切割技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 切割寬度 3~5 μm ,最小切割道寬度25μm | 潛力預估: 硬脆材料切割市場

串列網路伺服運動控制應用技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 串列網路伺服軸:8軸(Mitsubishi SSCNET),可擴充至16軸_x000D_/ 泛用開迴路:4軸_x000D_/ 泛用閉迴路:1軸,可擴充至5軸_x000D_/ 數位轉類比:2組(16 b... | 潛力預估: 可實現高速、高精度的定位控制,及多軸即時同步運動控制,在不用增加控制母板下,硬體軸數與IO點數擴充彈性大,為國內光電半導體設備與CNC工具機業,提供了一個降低系統配線複雜度與維護簡單化的有效解決方案。

一種使用超音波能量的晶圓鍵合製程方法

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 鍵合溫度:Max.200℃,鍵合時間:Max.10min | 潛力預估: 可搶攻半導體照明市場,極具市場淺力

一種晶片晶圓鍵合之自適性調整與支撐機構

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 平面度:1μm,耐重:>1000㎏,平行調整角度範圍:5°,尺寸:2吋 | 潛力預估: 可搶攻半導體照明市場,極具市場淺力

真空加熱氣浮傳輸技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 工件尺寸: 620*750 mm (I.e. 第3.5代LCD面板尺寸) | 潛力預估: 基板尺寸放大至1100×1250mm (I.E. 第5代LCD面板尺寸), 等相關技術應用

晶圓電鍍設備技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 金凸塊電鍍均勻性< 5% | 潛力預估: 可搶攻凸塊電鍍設備市場

大面積電漿光阻剝離技術

執行單位: 工研院機械所 | 產出年度: 94 | 產出單位: | 計畫名稱: 工研院先進製造與系統領域環境建構計畫 | 領域: | 技術規格: 基板尺寸: 620*750 mm (第3.5代LCD面板尺寸), 光阻去除速率>3μm, 製程溫度:300℃或低於 | 潛力預估: 基板尺寸放大至1100×1250mm (第5代LCD面板尺寸), 高速大面積電漿蝕刻、灰化等相關技術應用

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