應用於工具機直結式主軸之鬆刀機構
- 技術司專利資料集 @ 經濟部

專利名稱-中文應用於工具機直結式主軸之鬆刀機構的核准國家是美國, 證書號碼是6,675,683, 專利性質是發明, 執行單位是工研院機械所, 產出年度是93, 計畫名稱是工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫, 專利發明人是胡志揚, 黃鴻傑, 張恩生, 蔡坤龍.

序號	940
產出年度	93
領域別	(空)
專利名稱-中文	應用於工具機直結式主軸之鬆刀機構
執行單位	工研院機械所
產出單位	(空)
計畫名稱	工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫
專利發明人	胡志揚 \| 黃鴻傑 \| 張恩生 \| 蔡坤龍
核准國家	美國
獲證日期	(空)
證書號碼	6,675,683
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	本創作主要係由一承壓元件機構配合氣、油壓動力之操作，來改進直結式主軸之鬆刀機構的作動及效能，在鬆刀操作過程中，可快速提供直結式主軸所需之鬆刀力量，並將此力量傳遞至主軸前端的刀具使之鬆脫，且在刀具脫離時給予清潔刀把之空氣，本創之浮動式打刀的機構，除可用於立式綜合加工機外，也可以用在臥式綜合加工機，並減少主軸新增加的長度，降低主軸在高速時所造成的振動者。
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	董月嬌
電話	03-5915914
傳真	03-5826534
電子信箱	joycedong@itri.org.tw
參考網址	http://www.itri.org.tw
備註	原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸
特殊情形	(空)

序號

940

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

應用於工具機直結式主軸之鬆刀機構

執行單位

工研院機械所

產出單位

(空)

計畫名稱

工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫

專利發明人

胡志揚 | 黃鴻傑 | 張恩生 | 蔡坤龍

核准國家

美國

獲證日期

(空)

證書號碼

6,675,683

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

本創作主要係由一承壓元件機構配合氣、油壓動力之操作，來改進直結式主軸之鬆刀機構的作動及效能，在鬆刀操作過程中，可快速提供直結式主軸所需之鬆刀力量，並將此力量傳遞至主軸前端的刀具使之鬆脫，且在刀具脫離時給予清潔刀把之空氣，本創之浮動式打刀的機構，除可用於立式綜合加工機外，也可以用在臥式綜合加工機，並減少主軸新增加的長度，降低主軸在高速時所造成的振動者。

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

董月嬌

電話

03-5915914

傳真

03-5826534

電子信箱

joycedong@itri.org.tw

參考網址

http://www.itri.org.tw

備註

原領域別為機械運輸，95年改為機電運輸

特殊情形

(空)

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卑南考古遺址

級別名稱: 國定考古遺址 | 所屬主管機關: 文化部 | 指定（登錄）理由: 一、具文化發展脈絡中之定位及學術研究史上之意義：卑南考古遺址保存大坌坑文化、富山文化、卑南文化、三和文化等多層文化層，年代從距今5,300年持續至1,900年前，歷經臺灣新石器時代早中晚期至金屬器時... | 現狀: 目前正由國立台灣史前文化博物館依「卑南文化公園整體計畫」之遺址保存計畫逐年辦理卑南遺址第二期範圍土地徵收，第三期範圍亦正由行政院文化建設委員會補助台東縣政府辦理遺址勘查以確認遺址範圍及內涵，以為後續卑...

@ 文資局考古遺址

卑南考古遺址

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應用於工具機直結式主軸之鬆刀機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 216588 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 胡志揚, 黃鴻傑, 張恩生, 蔡坤龍 @ 技術司專利資料集
應用於工具機直結式主軸之鬆刀機構	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6675683 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 胡志揚, 黃鴻傑, 張恩生, 蔡坤龍 @ 技術司專利資料集

應用於工具機直結式主軸之鬆刀機構

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應用於工具機直結式主軸之鬆刀機構

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應用于工具機直結式主軸的松刀機構

@ 技術司專利資料集

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刀具狀態檢測裝置及方法	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL200610169985.6 \| 專利期間起: 100/12/14 \| 專利期間訖: 115/12/25 \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 101 \| 計畫名稱: 工研院中分院區域研發計畫-新世代智能工廠控制系統發展計畫 \| 專利發明人: 張漢傑 @ 技術司專利資料集
半固態金屬射出成形之方法與裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 189315 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 彭暄, 蔡浪富, 梁沐旺, 徐文敏, 賴根賢, 胡立德 @ 技術司專利資料集
電腦視窗界面的快速多工控制系統	核准國家: 中國大陸 \| 證書號碼: ZL98125165.X \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 許文通,郭文章,王國光,葉昭蘭 @ 技術司專利資料集
雙螺旋轉子總成	核准國家: 英國 \| 證書號碼: GB2352777 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 方宏聲,馮展華,王漢聰,蔡政展,陳俊宏,陳明豐 @ 技術司專利資料集
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無電鍍形成雙層以上金屬凸塊之製程	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6653235 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院機械所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院精密機械與微機電領域環境建構計畫 \| 專利發明人: 梁沐旺, 曾乙修, 蔣邦民 @ 技術司專利資料集
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寬頻掃頻電路架構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 198444 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 郭晉榮, 謝賜山
光源產生裝置及方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200164 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林勝雄, 江敏華, 郭葉琮
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新型窄長平直薄型基材專用浸泡塗佈裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206450 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 葉清銘, 陳燦林, 陳譽元
反射尺讀頭裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 201496 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 林慶芳, 高清芬, 陳燦林, 陳譽元
物體表面三維形貌量測方法和系統	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200161 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 自動光學顯微檢測設備技術三年計畫 \| 專利發明人: 宋新岳, 田立芬
利用共軛光路量測二維位移量之方法	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,744,520 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 張中柱, 高清芬, 李世光
紅外光轉換可見光之顯微影像裝置	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,687,051 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 王浩偉, 林耀明, 葉迎春
可調光徑之光學捕捉裙	核准國家: 美國 \| 證書號碼: 6,667,838 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林耀明, 王浩偉, 羅偕益
利用雙波混合干涉術之掃瞄式超音波裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 194233 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 李朱育, 施學兢
全光學激發雷射外調制式之原子鐘裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200261 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 姚鵬, 陳志光
控制奈米碳管長度之方法與裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200165 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 戴鴻名, 施能謙, 陳燦林
平面定位機構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 201505 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林慶芳, 張中柱
即時紅外化學影像光譜裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 203435 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 李耀昌, 王浩偉
光譜偏移式奈米近接裝置	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 200276 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院量測中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 工研院創新前瞻技術研究計畫 \| 專利發明人: 林耀明, 王浩偉

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執行單位

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