影像擷取品質檢測系統與方法
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專利名稱-中文影像擷取品質檢測系統與方法的核准國家是中華民國, 執行單位是中科院材料所, 產出年度是95, 專利性質是發明, 計畫名稱是生醫檢測技術開發計畫, 專利發明人是邱鸞嬌、賴均在、黃煥超、高進登、黃櫻富, 證書號碼是發明251173.
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根據姓名 邱鸞嬌 賴均在 黃煥超 高進登 黃櫻富 找到的相關資料
序號 | 10931 |
產出年度 | 102 |
領域別 | 生技醫藥 |
專利名稱-中文 | 多波段影像之成像方法 |
執行單位 | 中科院飛彈所 |
產出單位 | 中科院二所 |
計畫名稱 | 醫用數位X光系統開發計畫 |
專利發明人 | 邱鸞嬌 、翁炳國、巫穎毅 |
核准國家 | 中華民國 |
獲證日期 | 102/04/01 |
證書號碼 | I391872 |
專利期間起 | 102/04/01 |
專利期間訖 | 117/10/13 |
專利性質 | 發明 |
技術摘要-中文 | 1. 內容摘要 本發明為一種多波段影像之成像方法,其係先讀取包含複數波段影像之一影像資料,並從讀取之影像資料中分離出複數波段影像資料,接續經由重建運算該些波段影像資料,以依據該些波段影像資料重建產生複數影像,如此可藉由重建運算該些波段影像資料所產生之影像進行分析或觀察,由於該些影像係藉由不同波段影像資料所產生,所以針對同一場景之該些影像會顯示不同之影像特徵。 2. 應用領域 可用於精密機械、航太工業、資訊產業、醫療器材、國防工業等 3. 應用情形 搭配本院窄波段膠囊內視鏡計畫之雙波段CMOS影像模組所產出的原始資料,重建成窄波段(藍光)影像與白光影像,其中窄波段影像所顯示之影像特徵會不同於白光影像,如此即可藉由兩種影像對比差異,提供醫學診斷與觀察,如:顯示出器官組織之外形特徵或邊緣位置。 4. 效益 可保護本計畫/院所開發的多波段CMOS影像模組與成像技術,未來若有其他CMOS/CCD影像感應器成像技術若有侵犯本專利情事,本院亦可主張權利。 |
技術摘要-英文 | (空) |
聯絡人員 | 邱鸞嬌 |
電話 | 03-4712201轉356688 |
傳真 | 03-4713318(二所邱鸞嬌),03-4711024(五所翁 |
電子信箱 | hohh@csnet.gov.tw |
參考網址 | (空) |
備註 | (空) |
特殊情形 | (空) |
序號: 10931 |
產出年度: 102 |
領域別: 生技醫藥 |
專利名稱-中文: 多波段影像之成像方法 |
執行單位: 中科院飛彈所 |
產出單位: 中科院二所 |
計畫名稱: 醫用數位X光系統開發計畫 |
專利發明人: 邱鸞嬌 、翁炳國、巫穎毅 |
核准國家: 中華民國 |
獲證日期: 102/04/01 |
證書號碼: I391872 |
專利期間起: 102/04/01 |
專利期間訖: 117/10/13 |
專利性質: 發明 |
技術摘要-中文: 1. 內容摘要 本發明為一種多波段影像之成像方法,其係先讀取包含複數波段影像之一影像資料,並從讀取之影像資料中分離出複數波段影像資料,接續經由重建運算該些波段影像資料,以依據該些波段影像資料重建產生複數影像,如此可藉由重建運算該些波段影像資料所產生之影像進行分析或觀察,由於該些影像係藉由不同波段影像資料所產生,所以針對同一場景之該些影像會顯示不同之影像特徵。 2. 應用領域 可用於精密機械、航太工業、資訊產業、醫療器材、國防工業等 3. 應用情形 搭配本院窄波段膠囊內視鏡計畫之雙波段CMOS影像模組所產出的原始資料,重建成窄波段(藍光)影像與白光影像,其中窄波段影像所顯示之影像特徵會不同於白光影像,如此即可藉由兩種影像對比差異,提供醫學診斷與觀察,如:顯示出器官組織之外形特徵或邊緣位置。 4. 效益 可保護本計畫/院所開發的多波段CMOS影像模組與成像技術,未來若有其他CMOS/CCD影像感應器成像技術若有侵犯本專利情事,本院亦可主張權利。 |
技術摘要-英文: (空) |
聯絡人員: 邱鸞嬌 |
電話: 03-4712201轉356688 |
傳真: 03-4713318(二所邱鸞嬌),03-4711024(五所翁 |
電子信箱: hohh@csnet.gov.tw |
參考網址: (空) |
備註: (空) |
特殊情形: (空) |
序號: 2058 |
產出年度: 95 |
領域別: (空) |
專利名稱-中文: 徒手式三維影像重建與失真補償之方法 |
執行單位: 中科院材料所 |
產出單位: (空) |
計畫名稱: 生醫檢測技術開發計畫 |
專利發明人: 黃煥超、邱鸞嬌、余思廉、高進登 |
核准國家: 中華民國 |
獲證日期: (空) |
證書號碼: 發明245230 |
專利期間起: (空) |
專利期間訖: (空) |
專利性質: 發明 |
技術摘要-中文: 一種徒手式三維影像擷取、重建與失真補償方法,經過準確補償之三維影像資訊,可提供數位影像使用者正確研判影像之特徵。可應用於醫療檢驗、工業產品檢驗。 |
技術摘要-英文: (空) |
聯絡人員: 邱鸞嬌 |
電話: 03-4712201轉356688 |
傳真: (空) |
電子信箱: (空) |
參考網址: (空) |
備註: 原領域別為生技醫藥,95年改為生醫材化 |
特殊情形: (空) |
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| 核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳清齊、賴明柱、楊奉儒、陳志恒 | 證書號碼: 207309 |
| 核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳珠修、楊奉儒、李明晃 | 證書號碼: 211613 |
| 核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 韋忠光 | 證書號碼: 195728 |
| 核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英, 黃尊禧 | 證書號碼: 6713377 |
| 核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英, 黃尊禧 | 證書號碼: 6660625 |
| 核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 高蔡勝, 戴昌銘 | 證書號碼: 183704 |
| 核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 丁岱良 | 證書號碼: 185243 |
| 核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達 | 證書號碼: 188081 |
| 核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達 | 證書號碼: 6747727 |
| 核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃庭輝 | 證書號碼: 6714269 |
| 核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張世昌, 陳志宏, 劉秉德 | 證書號碼: 185400 |
| 核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 蔡光隆, 樊雨心, 林介清, 許量魁 | 證書號碼: 6639351 |
| 核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 吳逸蔚 | 證書號碼: 185401 |
| 核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李正中, 簡瑞峰 | 證書號碼: 195740 |
| 核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達 | 證書號碼: 185419 |
核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳清齊、賴明柱、楊奉儒、陳志恒 | 證書號碼: 207309 |
核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院環安中心 | 產出年度: 93 | 專利性質: 新型 | 計畫名稱: 工研院永續發展領域環境建構計畫 | 專利發明人: 陳珠修、楊奉儒、李明晃 | 證書號碼: 211613 |
核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 韋忠光 | 證書號碼: 195728 |
核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英, 黃尊禧 | 證書號碼: 6713377 |
核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 奈米電子關鍵技術四年計畫 | 專利發明人: 李傳英, 黃尊禧 | 證書號碼: 6660625 |
核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 高蔡勝, 戴昌銘 | 證書號碼: 183704 |
核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 丁岱良 | 證書號碼: 185243 |
核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達 | 證書號碼: 188081 |
核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達 | 證書號碼: 6747727 |
核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 黃庭輝 | 證書號碼: 6714269 |
核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 張世昌, 陳志宏, 劉秉德 | 證書號碼: 185400 |
核准國家: 美國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 工研院通訊與光電領域環境建構計畫 | 專利發明人: 蔡光隆, 樊雨心, 林介清, 許量魁 | 證書號碼: 6639351 |
核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 吳逸蔚 | 證書號碼: 185401 |
核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 李正中, 簡瑞峰 | 證書號碼: 195740 |
核准國家: 中華民國 | 執行單位: 工研院電子所 | 產出年度: 93 | 專利性質: 發明 | 計畫名稱: 下世代平面顯示關鍵技術發展四年計畫 | 專利發明人: 劉鴻達 | 證書號碼: 185419 |
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