噴墨頭校準的方法
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專利名稱-中文噴墨頭校準的方法的核准國家是中華民國, 證書號碼是I250084, 專利性質是發明, 執行單位是工研院顯示中心, 產出年度是95, 計畫名稱是影像顯示關鍵技術發展四年計畫, 專利發明人是許瑞倉、韓孝羽、樂孟芬.

序號	2265
產出年度	95
領域別	(空)
專利名稱-中文	噴墨頭校準的方法
執行單位	工研院顯示中心
產出單位	(空)
計畫名稱	影像顯示關鍵技術發展四年計畫
專利發明人	許瑞倉 \| 韓孝羽 \| 樂孟芬
核准國家	中華民國
獲證日期	(空)
證書號碼	I250084
專利期間起	(空)
專利期間訖	(空)
專利性質	發明
技術摘要-中文	一種噴墨頭校準的方法，是利用噴印一組特殊設計的測試圖案，此測試圖案包含陸續噴印並相互重疊之數個第一條狀圖樣組與數個第二圖樣，依序偵測第一條狀圖樣組與第二圖樣的重疊狀態，並擷取其中一個重疊狀態，如此便可找出最佳對準條件，藉以可達到校準噴墨頭的目的，提高列印的品質。_x000D_In view of the foregoing, the invention provides a method of calibrating print heads. It employs a set of specially designed test patterns. By detecting the overlapping state of the test patterns, the method obtains an optimal alignment condition. It achieves the goal of automatically calibrating the print head for alignment, thus solving the problems existing in the prior art._x000D_ To achieve the above objective, the disclosed method of calibrating print heads include the steps of: printing a plurality of first stripe pattern sets, each of which is composed of a plurality of first stripe patterns at fixed distance in parallel; printing a plurality of second patterns, each of which overlaps with part of the first stripe pattern sets, detecting the overlapping state of the first stripe pattern set and the second pattern; analyzing the information of each overlapping state and finding an optimal alignment condition from one overlapping state to calibrate print heads._x000D_
技術摘要-英文	(空)
聯絡人員	劉展洋
電話	03-5916037
傳真	03-5917431
電子信箱	JamesLiu@Itri.org.tw
參考網址	http://www.patentportfolio.itri.org.tw
備註	原領域別為通訊光電，95年改為電資通光
特殊情形	(空)

序號

2265

產出年度

領域別

(空)

專利名稱-中文

噴墨頭校準的方法

執行單位

工研院顯示中心

產出單位

(空)

計畫名稱

影像顯示關鍵技術發展四年計畫

專利發明人

許瑞倉 | 韓孝羽 | 樂孟芬

核准國家

中華民國

獲證日期

(空)

證書號碼

I250084

專利期間起

(空)

專利期間訖

(空)

專利性質

發明

技術摘要-中文

一種噴墨頭校準的方法，是利用噴印一組特殊設計的測試圖案，此測試圖案包含陸續噴印並相互重疊之數個第一條狀圖樣組與數個第二圖樣，依序偵測第一條狀圖樣組與第二圖樣的重疊狀態，並擷取其中一個重疊狀態，如此便可找出最佳對準條件，藉以可達到校準噴墨頭的目的，提高列印的品質。_x000D_In view of the foregoing, the invention provides a method of calibrating print heads. It employs a set of specially designed test patterns. By detecting the overlapping state of the test patterns, the method obtains an optimal alignment condition. It achieves the goal of automatically calibrating the print head for alignment, thus solving the problems existing in the prior art._x000D_ To achieve the above objective, the disclosed method of calibrating print heads include the steps of: printing a plurality of first stripe pattern sets, each of which is composed of a plurality of first stripe patterns at fixed distance in parallel; printing a plurality of second patterns, each of which overlaps with part of the first stripe pattern sets, detecting the overlapping state of the first stripe pattern set and the second pattern; analyzing the information of each overlapping state and finding an optimal alignment condition from one overlapping state to calibrate print heads._x000D_

技術摘要-英文

(空)

聯絡人員

劉展洋

電話

03-5916037

傳真

03-5917431

電子信箱

JamesLiu@Itri.org.tw

參考網址

http://www.patentportfolio.itri.org.tw

備註

原領域別為通訊光電，95年改為電資通光

特殊情形

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時序還原之方法與系統	核准國家: 英國 \| 證書號碼: 573696 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 工研院晶片中心 \| 產出年度: 94 \| 計畫名稱: 晶片系統關鍵技術發展四年計畫 \| 專利發明人: 林清祥 \| 余基祥 \| 林妍君 \| 薛勝文 @ 技術司專利資料集
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複材管件結構改良	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: M 248593 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 關鍵元件材料開發及應用四年計畫 \| 專利發明人: 莫文偉 \| 卓錫樑 \| 王正煥 \| 孫士璋 \| 葛光祥 \| 黃鼎貴
具傾角之疊瓦式複合材料管件之製造方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 201585 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 關鍵元件材料開發及應用四年計畫 \| 專利發明人: 盧志勤 \| 章俊文 \| 林進龍 \| 黃茂益
耐高溫微波複合材料之強化方法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 206626 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院材料所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 關鍵元件材料開發及應用四年計畫 \| 專利發明人: 翁炳志 \| 吳宗明 \| 趙樹漢 \| 黃金堂
ACIDIC FLUORINE-CONTAINING POLY(SILOXANE AMIDEIMIDE) SILICA HYBRIDS	核准國家: 美國 \| 證書號碼: US 6815519 B2 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院化學所 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 關鍵元件材料開發及應用四年計畫 \| 專利發明人: 邱義雄 \| 黃興材 \| 張德全 \| 王國平 \| 洪耀勳
含多孔導波管之複材厚板結構與製程	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 發明第I 221114號 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院軍民通用中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 材料與化工領域資源釋商科專計畫 \| 專利發明人: 林永崑 \| 莊毓蕙 \| 李昌崙 \| 李錦坤 \| 柯正忠 \| 陳振航
多重複雜斷面之複材導波管及其製法	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 發明第I 224554號 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 發明 \| 執行單位: 中科院軍民通用中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 材料與化工領域資源釋商科專計畫 \| 專利發明人: 陳育德 \| 林永崑 \| 莊毓蕙 \| 施宗仁 \| 陳振航
纖維強化塑膠管件之改良結構	核准國家: 中華民國 \| 證書號碼: 新型第M 251105號 \| 專利期間起: \| 專利期間訖: \| 專利性質: 新型 \| 執行單位: 中科院軍民通用中心 \| 產出年度: 93 \| 計畫名稱: 材料與化工領域資源釋商科專計畫 \| 專利發明人: 葛光祥 \| 王正煥 \| 萬瑞華 \| 葉勝雄 \| 陳浩明 \| 林治舜

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產出單位

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